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cyqdesign 2026-02-06 13:26

先进计算光刻

先进计算光刻技术是集成电制造装备和工艺的核心技术。本书主要介绍作者在20余年从事光刻机研发中,建立的先进计算光刻技术,包括矢量计算光刻、快速-全芯片计算光刻、高稳定-高保真计算光刻、光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻等,能够实现快速-高精度-全曝光视场-低误差敏感度的高性能计算光刻。矢量计算光刻包括零误差、全光路严格的矢量光刻成像模型及OPC和SMO技术。快速-全芯片计算光刻包括压缩感知、贝叶斯压缩感知、全芯片压缩感知计算光刻技术。高稳定-高保真计算光刻包括低误差敏感度的SMO技术、全视场多目标SMO技术、多目标标量和矢量光瞳优化技术。光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻包括含偏振像差、工件台振动误差、杂散光误差的光刻设备-掩模-工艺多参数协同优化技术。解决传统计算光刻在零误差假设、局域坐标系、理想远心、单个视场点获得的掩模-光源,无法最佳匹配实际光刻系统之所需,导致增加工艺迭代时间的问题。 kOel !A  

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目录 BH$hd|KD<  
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前言 1[RI 07g7*  
第1章 绪论1 cSTL.QF  
1.1 光刻机和光刻成像1 VjiwW%UOM  
1.1.1 光刻机简史1 ?%Pi#%P  
1.1.2 光刻成像及其性能指标2 +- hfl/$  
1.1.3 影响光刻成像性能的主要因素3 ="g9>  
1.2 传统分辨率增强技术7 a63Ud<_a7  
1.2.1 离轴照明7 Fl==k  
1.2.2 相移掩模8 R&/"?&pfa  
1.2.3 基于规则的光学邻近效应校正9 lj *=bK  
1.2.4 偏振照明9 ?*QL;[n1  
1.3 计算光刻技术11 .36]>8  
1.3.1 光刻成像模型11 Djp;\.$(  
1.3.2 先进计算光刻目标函数14 $D*Yhv!/  
1.3.3 先进计算光刻算法16 5S7ATr(*  
参考文献18 A;;OGJ,!\  
第2章 矢量计算光刻技术24 f_.0 uM  
2.1 矢量光刻成像理论基础24 Qz<i{r-z  
2.1.1 二维矢量成像模型24 |5BvVqn  
2.1.2 三维严格矢量光刻成像模型31 P[,  
2.1.3 二维-三维的矢量光刻成像分析38 Sjmq\A88dc  
2.2 零误差矢量计算光刻技术47 gp^xl>E  
2.2.1 采用矢量成像模型的OPC技术47 J>0RN/38o  
2.2.2 采用矢量成像模型的SMO技术68 xwijCFI*  
参考文献88 Q6PMRG}/o  
第3章 快速-全芯片计算光刻技术92 &:=[\Ws R  
3.1 压缩感知计算光刻技术92 xI5zP? _v  
3.1.1 压缩感知光源优化技术92 ^%33&<mB}  
3.1.2 非线性压缩感知光源-掩模优化技术104 pG$l   
3.2 贝叶斯压缩感知计算光刻技术113  1W>0  
3.2.1 贝叶斯压缩感知光源优化技术113 |f[:mO   
3.2.2 非线性贝叶斯压缩感知光源-掩模优化技术122 2&<&q J  
3.3 全芯片压缩感知计算光刻技术129 Mbxrj~ue  
参考文献133 DPlmrN9@=  
第4章 高稳定-高保真计算光刻技术137 <'P+2(Oi  
4.1 误差对计算光刻的影响137 [ldx_+xa:E  
4.1.1 波像差与偏振像差的定义与表征137 ,Mu"r!MK  
4.1.2 波像差对计算光刻的影响138 v *@R U  
4.1.3 偏振像差对计算光刻的影响141 6[]O3Aa  
4.1.4 光源非均匀性与杂散光对计算光刻的影响142 <IQ}j^u-F  
4.2 高稳定-高保真光源-掩模优化技术145 | +aD%'|  
4.2.1 低误差敏感度的光源-掩模优化技术145 k NUNh[  
4.2.2 全视场多目标光源-掩模优化技术168 P)06<n1">Z  
4.3 高稳定-高保真光瞳优化技术183 9P-I)ZqL  
4.3.1 多目标标量光瞳优化技术184 6p~8(-nG  
4.3.2 多目标矢量光瞳优化技术200 5S%#3YHY2  
参考文献212 ,k6V?{ZA  
第5章 光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻技术215 frbeCBP&)  
5.1 多参数协同优化技术基础215 [F^j(qTR  
5.1.1 工艺参数对图形保真的影响215 ~"U^N:I"  
5.1.2 多目标函数构建219 ' "o2;J)7  
5.1.3 多参数协同优化方法219 yJHFo[wGMJ  
5.2 多参数协同优化技术及应用222 ]Cc8[ZC  
5.2.1 零误差光刻系统的多参数协同优化技术及应用222 8G_KbS  
5.2.2 非零误差光刻系统的多参数协同优化技术及应用227 h_xzqElZu  
参考文献231 O['5/:-  

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