先进计算光刻
先进计算光刻技术是集成电制造装备和工艺的核心技术。本书主要介绍作者在20余年从事光刻机研发中,建立的先进计算光刻技术,包括矢量计算光刻、快速-全芯片计算光刻、高稳定-高保真计算光刻、光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻等,能够实现快速-高精度-全曝光视场-低误差敏感度的高性能计算光刻。矢量计算光刻包括零误差、全光路严格的矢量光刻成像模型及OPC和SMO技术。快速-全芯片计算光刻包括压缩感知、贝叶斯压缩感知、全芯片压缩感知计算光刻技术。高稳定-高保真计算光刻包括低误差敏感度的SMO技术、全视场多目标SMO技术、多目标标量和矢量光瞳优化技术。光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻包括含偏振像差、工件台振动误差、杂散光误差的光刻设备-掩模-工艺多参数协同优化技术。解决传统计算光刻在零误差假设、局域坐标系、理想远心、单个视场点获得的掩模-光源,无法最佳匹配实际光刻系统之所需,导致增加工艺迭代时间的问题。 EVj48
[attachment=134179] r`cCHZo/V 目录 fXw%2wg 序 &T}v1c7) 前言 7@vcQv
kC 第1章 绪论1 1{"fmV 1.1 光刻机和光刻成像1 ^ D
B0C 1.1.1 光刻机简史1 %'* |N[ 1.1.2 光刻成像及其性能指标2 .@APxeU 1.1.3 影响光刻成像性能的主要因素3 %p2 C5z? 1.2 传统分辨率增强技术7 3a{QkVeV7 1.2.1 离轴照明7 ]'_z(s} 1.2.2 相移掩模8 n37( sKG 1.2.3 基于规则的光学邻近效应校正9 _'AIXez7q 1.2.4 偏振照明9 >CPkL_@VZ= 1.3 计算光刻技术11 &nn.h@zje 1.3.1 光刻成像模型11 igz:ek` 1.3.2 先进计算光刻目标函数14 eS@RA2
1.3.3 先进计算光刻算法16 {djOU
9] 参考文献18 ^@)/VfVg 第2章 矢量计算光刻技术24 =WEfo; 2.1 矢量光刻成像理论基础24 BJj~fNm1Zr 2.1.1 二维矢量成像模型24 /,0t,"&Aqa 2.1.2 三维严格矢量光刻成像模型31 \hM6 ykY- 2.1.3 二维-三维的矢量光刻成像分析38 jd2Fh):q 2.2 零误差矢量计算光刻技术47 V6$v@Zq 2.2.1 采用矢量成像模型的OPC技术47 K)Db3JIIk 2.2.2 采用矢量成像模型的SMO技术68 5Cy)#Z{ 参考文献88 x\Sp~]o3C 第3章 快速-全芯片计算光刻技术92 il-&d]AP 3.1 压缩感知计算光刻技术92 )X^nzhZ2O" 3.1.1 压缩感知光源优化技术92 dIO\ lL
3.1.2 非线性压缩感知光源-掩模优化技术104 5Ij_$a 3.2 贝叶斯压缩感知计算光刻技术113 Op%^dwVG(v 3.2.1 贝叶斯压缩感知光源优化技术113 :{66WSa@Dd 3.2.2 非线性贝叶斯压缩感知光源-掩模优化技术122 F'j:\F6C; 3.3 全芯片压缩感知计算光刻技术129 K.z}%a 参考文献133 :za!!^ 第4章 高稳定-高保真计算光刻技术137 6!"15dPN 4.1 误差对计算光刻的影响137 uEi!P2zN
4.1.1 波像差与偏振像差的定义与表征137 +&?VA!}. 4.1.2 波像差对计算光刻的影响138 N'`*#UI+ 4.1.3 偏振像差对计算光刻的影响141 bY>o%LL- 4.1.4 光源非均匀性与杂散光对计算光刻的影响142 6PMu;# 4.2 高稳定-高保真光源-掩模优化技术145 <01B\t7 4.2.1 低误差敏感度的光源-掩模优化技术145 _~cmR< 4.2.2 全视场多目标光源-掩模优化技术168 3mJHk<m8T 4.3 高稳定-高保真光瞳优化技术183 H1?1mH 4.3.1 多目标标量光瞳优化技术184 ;JmD(T7{ 4.3.2 多目标矢量光瞳优化技术200 WJ.PPq>]F 参考文献212 7>ODaj
第5章 光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻技术215 zWY6D4 5.1 多参数协同优化技术基础215 ADBw" ? > 5.1.1 工艺参数对图形保真的影响215 THua?,oyW 5.1.2 多目标函数构建219 T]vD ,I+ 5.1.3 多参数协同优化方法219 P!O#"(r2] 5.2 多参数协同优化技术及应用222 r\NnWS J 5.2.1 零误差光刻系统的多参数协同优化技术及应用222 2d>PN^x 5.2.2 非零误差光刻系统的多参数协同优化技术及应用227 W.67, 0m$ 参考文献231 sJ?kp^!g
|