先进计算光刻
先进计算光刻技术是集成电制造装备和工艺的核心技术。本书主要介绍作者在20余年从事光刻机研发中,建立的先进计算光刻技术,包括矢量计算光刻、快速-全芯片计算光刻、高稳定-高保真计算光刻、光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻等,能够实现快速-高精度-全曝光视场-低误差敏感度的高性能计算光刻。矢量计算光刻包括零误差、全光路严格的矢量光刻成像模型及OPC和SMO技术。快速-全芯片计算光刻包括压缩感知、贝叶斯压缩感知、全芯片压缩感知计算光刻技术。高稳定-高保真计算光刻包括低误差敏感度的SMO技术、全视场多目标SMO技术、多目标标量和矢量光瞳优化技术。光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻包括含偏振像差、工件台振动误差、杂散光误差的光刻设备-掩模-工艺多参数协同优化技术。解决传统计算光刻在零误差假设、局域坐标系、理想远心、单个视场点获得的掩模-光源,无法最佳匹配实际光刻系统之所需,导致增加工艺迭代时间的问题。 -MO#]K3<
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Q 目录 [vK^Um 序 u\x}8pn 前言 Xy&A~F 第1章 绪论1 zh`<WN&H 1.1 光刻机和光刻成像1 }DEg-j,F 1.1.1 光刻机简史1 %@ODs6 R0 1.1.2 光刻成像及其性能指标2 fue(UMF~ 1.1.3 影响光刻成像性能的主要因素3 gX}8#O.K$ 1.2 传统分辨率增强技术7 r
CHl?J 1.2.1 离轴照明7 } FlT%>Gw 1.2.2 相移掩模8 [0[i5'K: 1.2.3 基于规则的光学邻近效应校正9 s1$nvTzBr 1.2.4 偏振照明9 b8VTo lJ 1.3 计算光刻技术11 He/8=$c% 1.3.1 光刻成像模型11 >,Ci?[pf 1.3.2 先进计算光刻目标函数14 N1S{suic 1.3.3 先进计算光刻算法16 %2/EaaR 参考文献18 qIE9$7*X 第2章 矢量计算光刻技术24 p* (JjH 2.1 矢量光刻成像理论基础24 2K6qY)/_ 2.1.1 二维矢量成像模型24 /?'FE 7Y 2.1.2 三维严格矢量光刻成像模型31 n;Q7X>-f8` 2.1.3 二维-三维的矢量光刻成像分析38
4*#18<u5 2.2 零误差矢量计算光刻技术47 |=ba9&q 2.2.1 采用矢量成像模型的OPC技术47 V-2(?auZd 2.2.2 采用矢量成像模型的SMO技术68 Bz-c$me1 参考文献88 gHEu/8E 第3章 快速-全芯片计算光刻技术92 #n#}s 3.1 压缩感知计算光刻技术92 n;C
:0 3.1.1 压缩感知光源优化技术92 Apag{Z]^B 3.1.2 非线性压缩感知光源-掩模优化技术104 LTCb@L{^i 3.2 贝叶斯压缩感知计算光刻技术113 bMu+TgAT, 3.2.1 贝叶斯压缩感知光源优化技术113 5iw<>9X* 3.2.2 非线性贝叶斯压缩感知光源-掩模优化技术122 #PW9:_BE 3.3 全芯片压缩感知计算光刻技术129 c(m<h+2VL 参考文献133 !bx;Ta. 第4章 高稳定-高保真计算光刻技术137 J T7nG.9 4.1 误差对计算光刻的影响137 =tn)}Y.<e 4.1.1 波像差与偏振像差的定义与表征137 Al^d$FaF 4.1.2 波像差对计算光刻的影响138 \gGW8Q; 4.1.3 偏振像差对计算光刻的影响141 7\[@m3s 4.1.4 光源非均匀性与杂散光对计算光刻的影响142
1;8UC;, 4.2 高稳定-高保真光源-掩模优化技术145 vjCu4+w($Z 4.2.1 低误差敏感度的光源-掩模优化技术145 G]tn i 4.2.2 全视场多目标光源-掩模优化技术168 8)3*6+D 4.3 高稳定-高保真光瞳优化技术183 wqs?828x 4.3.1 多目标标量光瞳优化技术184 P [ck84F/ 4.3.2 多目标矢量光瞳优化技术200 f:w?pE 参考文献212 9(7-{,c 第5章 光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻技术215 v`x.)S1 5.1 多参数协同优化技术基础215 ,0Hr2*p 5.1.1 工艺参数对图形保真的影响215 6=/F$| 5.1.2 多目标函数构建219 9uO 2Mm 5.1.3 多参数协同优化方法219 .},'~NM] 5.2 多参数协同优化技术及应用222 On.{!:"I/ 5.2.1 零误差光刻系统的多参数协同优化技术及应用222 gp?uHKsM 5.2.2 非零误差光刻系统的多参数协同优化技术及应用227 6OIte-c 参考文献231 EU;9*W<
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