先进计算光刻
先进计算光刻技术是集成电制造装备和工艺的核心技术。本书主要介绍作者在20余年从事光刻机研发中,建立的先进计算光刻技术,包括矢量计算光刻、快速-全芯片计算光刻、高稳定-高保真计算光刻、光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻等,能够实现快速-高精度-全曝光视场-低误差敏感度的高性能计算光刻。矢量计算光刻包括零误差、全光路严格的矢量光刻成像模型及OPC和SMO技术。快速-全芯片计算光刻包括压缩感知、贝叶斯压缩感知、全芯片压缩感知计算光刻技术。高稳定-高保真计算光刻包括低误差敏感度的SMO技术、全视场多目标SMO技术、多目标标量和矢量光瞳优化技术。光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻包括含偏振像差、工件台振动误差、杂散光误差的光刻设备-掩模-工艺多参数协同优化技术。解决传统计算光刻在零误差假设、局域坐标系、理想远心、单个视场点获得的掩模-光源,无法最佳匹配实际光刻系统之所需,导致增加工艺迭代时间的问题。 [Ufx=BPx3
[attachment=134179] /vNHb_- 目录 ')zf8>, 序 d:3OC& 前言 jeWI<ms 第1章 绪论1 ;Z!x\{-L 1.1 光刻机和光刻成像1 Zonr/sA ~ 1.1.1 光刻机简史1 nh*hw[Ord 1.1.2 光刻成像及其性能指标2 O)%s_/UX 1.1.3 影响光刻成像性能的主要因素3 * _@t$W 1.2 传统分辨率增强技术7 p-f"4vH 1.2.1 离轴照明7 'Rq2x-72} 1.2.2 相移掩模8 N}CeQ'l[R 1.2.3 基于规则的光学邻近效应校正9 $A^OP{ 1.2.4 偏振照明9 i{biQ|,.sL 1.3 计算光刻技术11 p5`={'>- 1.3.1 光刻成像模型11 7p_B?r 1.3.2 先进计算光刻目标函数14 6rBP,\m 1.3.3 先进计算光刻算法16 ICD;a 参考文献18 cm17hPe`}n 第2章 矢量计算光刻技术24 K9QC$b9( 2.1 矢量光刻成像理论基础24 t{Wu5<F: 2.1.1 二维矢量成像模型24
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2.1.2 三维严格矢量光刻成像模型31 g27)$0&0 2.1.3 二维-三维的矢量光刻成像分析38 pSdtAv 2.2 零误差矢量计算光刻技术47 m8<.TCIQ 2.2.1 采用矢量成像模型的OPC技术47 yn|U<Hxl~H 2.2.2 采用矢量成像模型的SMO技术68 5bo')^xa 参考文献88 qQp;i{X 第3章 快速-全芯片计算光刻技术92 IN?6~O
p 3.1 压缩感知计算光刻技术92 BPd *@l 3.1.1 压缩感知光源优化技术92 bBY7^k 3.1.2 非线性压缩感知光源-掩模优化技术104 ub9,Wd"^ 3.2 贝叶斯压缩感知计算光刻技术113 Dio)orc 3.2.1 贝叶斯压缩感知光源优化技术113 D9%t67s 3.2.2 非线性贝叶斯压缩感知光源-掩模优化技术122 %*];XpAE 3.3 全芯片压缩感知计算光刻技术129 {]Ec:6 参考文献133 q{uv?{I 第4章 高稳定-高保真计算光刻技术137 FJ] ?45 4.1 误差对计算光刻的影响137 bkS-[rW 4.1.1 波像差与偏振像差的定义与表征137 -Ra-Ux 4.1.2 波像差对计算光刻的影响138 @cB6,iUr 4.1.3 偏振像差对计算光刻的影响141 ]N{jF$ 4.1.4 光源非均匀性与杂散光对计算光刻的影响142 eOZ"kw"uHu 4.2 高稳定-高保真光源-掩模优化技术145 "@UyUL 4.2.1 低误差敏感度的光源-掩模优化技术145 '.*`PN5mDq 4.2.2 全视场多目标光源-掩模优化技术168 TT^L)d 4.3 高稳定-高保真光瞳优化技术183 &0RKNpwg 4.3.1 多目标标量光瞳优化技术184 wxE'h~+ 4.3.2 多目标矢量光瞳优化技术200 ,qwVDYJ 参考文献212 K$c?:?wmo 第5章 光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻技术215 :aR_f`KMm 5.1 多参数协同优化技术基础215 mbXW$E-&R2 5.1.1 工艺参数对图形保真的影响215 '}9 %12\^h 5.1.2 多目标函数构建219 `{H!V~42 5.1.3 多参数协同优化方法219 < Y)A ez 5.2 多参数协同优化技术及应用222 e4<St`K 5.2.1 零误差光刻系统的多参数协同优化技术及应用222 .o) 5.2.2 非零误差光刻系统的多参数协同优化技术及应用227 G]T&{3g-. 参考文献231 G;AJBs>Y}
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