先进计算光刻
先进计算光刻技术是集成电制造装备和工艺的核心技术。本书主要介绍作者在20余年从事光刻机研发中,建立的先进计算光刻技术,包括矢量计算光刻、快速-全芯片计算光刻、高稳定-高保真计算光刻、光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻等,能够实现快速-高精度-全曝光视场-低误差敏感度的高性能计算光刻。矢量计算光刻包括零误差、全光路严格的矢量光刻成像模型及OPC和SMO技术。快速-全芯片计算光刻包括压缩感知、贝叶斯压缩感知、全芯片压缩感知计算光刻技术。高稳定-高保真计算光刻包括低误差敏感度的SMO技术、全视场多目标SMO技术、多目标标量和矢量光瞳优化技术。光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻包括含偏振像差、工件台振动误差、杂散光误差的光刻设备-掩模-工艺多参数协同优化技术。解决传统计算光刻在零误差假设、局域坐标系、理想远心、单个视场点获得的掩模-光源,无法最佳匹配实际光刻系统之所需,导致增加工艺迭代时间的问题。 .EP6oKA
[attachment=134179] -?a<qa?$ 目录 ,mFsM!| 序 P?ep] 前言 =A!S/;z> 第1章 绪论1 z/]q)`G 1.1 光刻机和光刻成像1 ,FQK;BU!lh 1.1.1 光刻机简史1 -kj< 1~YW 1.1.2 光刻成像及其性能指标2 C"w
{\
&R 1.1.3 影响光刻成像性能的主要因素3 Mz=!w]qDH 1.2 传统分辨率增强技术7 'vIx#k4D1 1.2.1 离轴照明7 xN0*8 1.2.2 相移掩模8 l!~
mxUb 1.2.3 基于规则的光学邻近效应校正9 Bl;KOR 1.2.4 偏振照明9 z2yJ# 1.3 计算光刻技术11 6Y384 1.3.1 光刻成像模型11 0b|zk < 1.3.2 先进计算光刻目标函数14 .[s2zI 1.3.3 先进计算光刻算法16 ]MTbW=*}ED 参考文献18 *r,b=8| 第2章 矢量计算光刻技术24 5#JJ? 2.1 矢量光刻成像理论基础24 y'M#z_.z 2.1.1 二维矢量成像模型24 'r}fZ 2.1.2 三维严格矢量光刻成像模型31 UlovXb 2.1.3 二维-三维的矢量光刻成像分析38 !?FK We 2.2 零误差矢量计算光刻技术47 7C,T&g
1: 2.2.1 采用矢量成像模型的OPC技术47 v."Dnl 2.2.2 采用矢量成像模型的SMO技术68 E^Gg
'1 参考文献88 !.HnGb+ 第3章 快速-全芯片计算光刻技术92 ?Dsm~bkX[ 3.1 压缩感知计算光刻技术92 KFWJ}pNq 3.1.1 压缩感知光源优化技术92 4Yjx{5QSAG 3.1.2 非线性压缩感知光源-掩模优化技术104 jUMf6^^ 3.2 贝叶斯压缩感知计算光刻技术113 ) g1a'G 3.2.1 贝叶斯压缩感知光源优化技术113 Iw=Sq8 3.2.2 非线性贝叶斯压缩感知光源-掩模优化技术122 yJJ4~j){l 3.3 全芯片压缩感知计算光刻技术129 HZ"Evl|n 参考文献133 S"2qJ!.u 第4章 高稳定-高保真计算光刻技术137 g /+oZU 4.1 误差对计算光刻的影响137 ;?L\Fz(< 4.1.1 波像差与偏振像差的定义与表征137 h
y-cG%f 4.1.2 波像差对计算光刻的影响138 ;h/pnmhP 4.1.3 偏振像差对计算光刻的影响141 Qvoqx>2p5 4.1.4 光源非均匀性与杂散光对计算光刻的影响142 L/r@ S' 4.2 高稳定-高保真光源-掩模优化技术145 }At{'8*n 4.2.1 低误差敏感度的光源-掩模优化技术145 y=sGe!^ 4.2.2 全视场多目标光源-掩模优化技术168 0Bolv_e 4.3 高稳定-高保真光瞳优化技术183 uOi&G:= 4.3.1 多目标标量光瞳优化技术184 -=}3j&,\R 4.3.2 多目标矢量光瞳优化技术200 tpf7_YP_!- 参考文献212 g:)DNy 第5章 光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻技术215 `sHuM* 5.1 多参数协同优化技术基础215 iU2KEqCm 5.1.1 工艺参数对图形保真的影响215 ]Yyia.B 5.1.2 多目标函数构建219 U9d:@9Y 5.1.3 多参数协同优化方法219 D&:yMp( 5.2 多参数协同优化技术及应用222 woOy*)@ 5.2.1 零误差光刻系统的多参数协同优化技术及应用222 }xb=< 5.2.2 非零误差光刻系统的多参数协同优化技术及应用227 &<x@1, 参考文献231 b\55,La
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