先进计算光刻
先进计算光刻技术是集成电制造装备和工艺的核心技术。本书主要介绍作者在20余年从事光刻机研发中,建立的先进计算光刻技术,包括矢量计算光刻、快速-全芯片计算光刻、高稳定-高保真计算光刻、光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻等,能够实现快速-高精度-全曝光视场-低误差敏感度的高性能计算光刻。矢量计算光刻包括零误差、全光路严格的矢量光刻成像模型及OPC和SMO技术。快速-全芯片计算光刻包括压缩感知、贝叶斯压缩感知、全芯片压缩感知计算光刻技术。高稳定-高保真计算光刻包括低误差敏感度的SMO技术、全视场多目标SMO技术、多目标标量和矢量光瞳优化技术。光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻包括含偏振像差、工件台振动误差、杂散光误差的光刻设备-掩模-工艺多参数协同优化技术。解决传统计算光刻在零误差假设、局域坐标系、理想远心、单个视场点获得的掩模-光源,无法最佳匹配实际光刻系统之所需,导致增加工艺迭代时间的问题。 '=EaZ>=
[attachment=134179] B9`nV.a 目录 S\JV96 序 1tHTjEG4^3 前言 }rz}>((ZHF 第1章 绪论1 M$d DExd~ 1.1 光刻机和光刻成像1 ( ?3 )l 1.1.1 光刻机简史1 qiV#T+\ 1.1.2 光刻成像及其性能指标2 /[`bPKr 1.1.3 影响光刻成像性能的主要因素3 / Li?;H 1.2 传统分辨率增强技术7 :(VD<"X 1.2.1 离轴照明7 Lj6$?(x} 1.2.2 相移掩模8 f7mP4[+dS 1.2.3 基于规则的光学邻近效应校正9 C s?kZ
% 1.2.4 偏振照明9 Ouc=4'$- 1.3 计算光刻技术11 5K|1Y#X 1.3.1 光刻成像模型11 <ppM\$ 1.3.2 先进计算光刻目标函数14 tJy6\~ 1.3.3 先进计算光刻算法16 MQ9 9fD$ 参考文献18 8q{
%n 第2章 矢量计算光刻技术24 @x3x/gU 2.1 矢量光刻成像理论基础24 zpx 2.1.1 二维矢量成像模型24 1Rc'2Y 2.1.2 三维严格矢量光刻成像模型31 yxh8sAZ 2.1.3 二维-三维的矢量光刻成像分析38 RNE})B 2.2 零误差矢量计算光刻技术47 n,SD JsS^ 2.2.1 采用矢量成像模型的OPC技术47 T B~C4H K= 2.2.2 采用矢量成像模型的SMO技术68 vG`R. 参考文献88 f5<qF ]Y/ 第3章 快速-全芯片计算光刻技术92 @6w\q?.s 3.1 压缩感知计算光刻技术92 z@iu$DZ 3.1.1 压缩感知光源优化技术92 HWG5Ghu8,) 3.1.2 非线性压缩感知光源-掩模优化技术104 6|+I~zJ88 3.2 贝叶斯压缩感知计算光刻技术113 p@!{Sh 3.2.1 贝叶斯压缩感知光源优化技术113 %b<cJ]F 3.2.2 非线性贝叶斯压缩感知光源-掩模优化技术122 V6)\;c 3.3 全芯片压缩感知计算光刻技术129 fx2r\ usX[ 参考文献133 422d4Zu 第4章 高稳定-高保真计算光刻技术137 NCbn<ojb 4.1 误差对计算光刻的影响137 DyIuM{Owj 4.1.1 波像差与偏振像差的定义与表征137 m~mw1r 4.1.2 波像差对计算光刻的影响138 9E~=/Q= 4.1.3 偏振像差对计算光刻的影响141 >xb}AY; 4.1.4 光源非均匀性与杂散光对计算光刻的影响142 {0
d/; 4.2 高稳定-高保真光源-掩模优化技术145 ^cB83%<Z 4.2.1 低误差敏感度的光源-掩模优化技术145 Sa7bl~p\ 4.2.2 全视场多目标光源-掩模优化技术168 *J,VvO9 4.3 高稳定-高保真光瞳优化技术183 J@ZIW%5 4.3.1 多目标标量光瞳优化技术184 E-\Wo3 4.3.2 多目标矢量光瞳优化技术200 XgE\q 参考文献212 RGvfy/T 第5章 光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻技术215 97;`R[^J 5.1 多参数协同优化技术基础215 Ze_4MwCW 5.1.1 工艺参数对图形保真的影响215 qC]6g 5.1.2 多目标函数构建219 h3U| ~h 5.1.3 多参数协同优化方法219 |Am
+f. 5.2 多参数协同优化技术及应用222 jz ;N&62| 5.2.1 零误差光刻系统的多参数协同优化技术及应用222 2>3#/I9Y 5.2.2 非零误差光刻系统的多参数协同优化技术及应用227 NN\>(
= 参考文献231 ]/&qv6D*d
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