首页
->
登录
->
注册
->
回复主题
->
发表主题
光行天下
->
讯技光电&黉论教育
->
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
[点此返回论坛查看本帖完整版本]
[打印本页]
infotek
2025-09-10 07:58
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
摘要
oT!/J
eaxfn]gV
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。
25&nwz
%09*l%,;
#'iPDRYy
9b%|^.B
1. 案例
O(Td:Zdp
\ %_)_"Q
A?' H[2]w"
a+'}XEhSC:
在VirtualLab Fusion中构建系统
T N Ist
Yg|"-
1. 系统构建模块
j`hNZ %a
-[<vYxX:h:
c-`37. J
&|NZ8:*+#
2. 组件连接器
1V0sl0i4
q /:T1a7!
?4MSgu
R@OSqEnr
几何光学仿真
A$N+9n\
]qMH=>pOsj
以光线追迹
_ Q{T ';
b.@H1L
1. 结果:光线追迹
e6o/q)9#
'#KA+?@
/!-J53K
U(P:J e
快速物理光学仿真
Dl&PL
+R9%~Z.=
以场追迹
&b!vWX1N
U-1VnX9m
1. NA=1.4时的光栅成像
f@h2;An$w
9n-T5WP
$\0TD7p
7 TmK
2. NA=0.75时的光栅成像
-ywX5B
\u{Jf'g
(y 3~[
|1lf(\T_
3. NA=0.5时的光栅成像
xSx&79Ez<*
XNKtL]U}$
tI"wVr
查看本帖完整版本: [--
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
--] [--
top
--]
Copyright © 2005-2026
光行天下
蜀ICP备06003254号-1
网站统计