首页
->
登录
->
注册
->
回复主题
->
发表主题
光行天下
->
讯技光电&黉论教育
->
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
[点此返回论坛查看本帖完整版本]
[打印本页]
infotek
2025-09-10 07:58
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
摘要
1Mzmg[L8
as|<}:V
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。
?9/G[[(
:;}P*T*PU
m0wDX*Qn
e6*8K@LHB
1. 案例
nlP;nl W
@JMiO^
FrS]|=LJhX
M3\AY30L
在VirtualLab Fusion中构建系统
XS#Qu=,-
b6bHTH0
1. 系统构建模块
';CNGv -
K+eM
L *wYx|
3og.y+.=U.
2. 组件连接器
6P3*Z
-@'FW*b
e'~3oqSvR
>MZ/|`[M
几何光学仿真
B,@i
Txu/{M,
以光线追迹
$Sq:q0
|yCMt:Hk
1. 结果:光线追迹
-?\D\\+t
J.a]K[ci
*dQSw)R
Gc?a +T
快速物理光学仿真
i-1op> Y
("KF'fp&M2
以场追迹
U^PgG|0N
-).C
1. NA=1.4时的光栅成像
_a, s )
cAw/I@jG
yi[x}ffdE
#!=tDc &
2. NA=0.75时的光栅成像
wYea\^co
0GwR~Z}Z
F59 TZI
KNl$3nX
3. NA=0.5时的光栅成像
_`X:jj>
l1I#QB@5n
@7}W=HB
查看本帖完整版本: [--
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
--] [--
top
--]
Copyright © 2005-2026
光行天下
蜀ICP备06003254号-1
网站统计