单光子反聚束测量系统与方法

近日，国家知识产权局信息显示，安徽省太微量子科技有限公司申请一项名为“基于ADC采集卡的单光子反聚束测量系统与方法”的专利，公开号CN120489356A，申请日期为2025年05月。 Y|3n^%I  
专利摘要显示，本发明提供了一种基于ADC采集卡的单光子反聚束测量方法与系统，主要用于采集并分析单光子光信号的二阶关联函数。与传统的单光子探测方法相比，本发明采用了中间触发模式的高速ADC采集卡，在减少冗余数据的同时提高了数据采集效率。该系统包括数据采集单元、数据读取模块、数据处理中心和算法执行模块，其中数据采集单元通过共聚焦显微镜系统采集单光子信号，并利用SPAD探测器将光信号转化为电信号。ADC采集卡采用中间触发模式，能够在设定的有效采样区间内精确触发采样，避免传统采样模式中存在的大量冗余数据；在精确采集数据的同时更好地保证时间序列的完整性。