光场相机在Wire Bonding工艺中检测金线弧高
检测场景:Wire Bonding工艺中检测金线弧高 NsL!AAN[V 检测目标:引线键合(Wire Bonding)的质量直接关系到半导体器件的可靠性和性能,因此对其进行全面检测是非常重要的。 He}"e&K 以下是引线键合需要检测的主要方面: C$`^(?iO/ •焊点形态:检查焊点是否完整、圆润,无明显缺陷。 dRXrI •引线形状:确保引线没有扭曲、弯曲或断裂,保持良好的形态。 H8qWY"<Vd •引线间距:验证引线之间的距离是否符合设计要求,避免短路风险。 #e&LyYx4 •引线高度:测量引线的高度是否一致,防止过高的引线导致封装时的碰撞问题。 ;!#IRR 检测样品: =wFl(Q6J 由于很难通过调整打光方式去将金线和底部银胶区分开,导致对比度较低。传统的光场三维重建算法,因其自身技术的局限性,在面对这种低对比度的复杂情况时,无法有效地重建出完整的三维数据。使用我们团队全新自主研发的 AI 光场重建算法,可以精确地重建出金线的三维轮廓,并用于测量金线的弧高。 C@@PLsMg 待测样品的金线长度弧高0.1mm~0.4mm。考虑搭配MS-065-CA–01XM–3X设备更合适此测量场景,并采用红光无影光源进行补光成像,并对整体方案进行测试评估。 e@g=wN"@ 传统重建算法在处理图像时,往往会产生一定的噪声,影响图像的清晰度和可辨识度。而AI光场重建算法能够通过学习大量的图像数据,智能地识别和去除噪声,使重建后的图像更加平滑、清晰,细节更加丰富。AI光场重建算法中的超分辨率技术可以增强图像的分辨率和质量,即使在原始图像存在缺失或低分辨率区域的情况下,也能生成清晰、详细的图像。 .!_^< |