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从薄膜原理、设计到工艺(5.16~18日 上海)
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infotek
2025-05-07 15:03
从薄膜原理、设计到工艺(5.16~18日 上海)
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时间地点
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主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司
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苏州黉论教育咨询有限公司
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授课时间:2025年5月16日(五)-18日(日)AM 9:00-PM 16:00
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授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室
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课程讲师:讯技光电工程师团队成员
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课程费用:4800RMB(包含课程材料费、开票税金、午餐费)
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课程简介
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当收到需求者的光学规格及非光学规格如环境测试要求时,既可以着手选用所需的基板,镀膜材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手,例如高反射镜不管波宽大小,开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础,倘若是截止滤光片,则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时,我们需要考虑商业软件或自行设计电脑软件来参与合成或优化,设计好之后,即刻进行制造成功率分析,亦看膜层厚度的误差值的容许度,若是镀膜机的精密度做不到,则要修改设计,重新分析直达合格为止。
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透明塑料基板质轻价廉,而且容易成型为非球面透镜,被广泛采用在光学系统中,如眼睛镜片、相机透镜、手机镜头、及显示器面板,如OLED,近眼显示应用。但塑性及软性基板的低密度致使其具有吸水性,从而使薄膜与基板的附着性不佳。再者这些塑料基板比较柔软、容易刮伤、需要镀上硬膜保护。因此塑料透镜的镀膜除了抗反射,还要兼具免受刮伤的保护。本课程会从这些方面重点阐述塑料基底的镀制工艺及其物理特性。
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该课程一天会全面讲解光学薄膜分析软件Essential Macleod的操作方法,第二天和第三天会讲解薄膜设计和工艺上面的应用。
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课程大纲
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1. Essential Macleod软件介绍
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1.1 介绍软件
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1.2 运行程序
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1.3 创建一个简单的设计
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1.4 通过剪贴板和文件导入导出数据
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1.5 约定-程序中使用的各种术语的定义
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2. 光学薄膜理论基础
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2.1 介质和波
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2.2 垂直入射时的界面和薄膜特性计算
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2.3 后表面对光学薄膜特性的影响
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3. 理论技术
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3.1 参考波长与g
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3.2 四分之一规则
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3.3 导纳与导纳图
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4. 光学薄膜设计
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4.1 光学薄膜设计的进展
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4.2 光学薄膜设计中的一些实际问题
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4.3 光学薄膜设计技巧
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4.4 特殊光学薄膜的设计方法
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4.5 优化目标设置
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4.6 优化方法(单一优化,合成优化,模拟退火法,共轭梯度法,准牛顿法,针形优化,差分演化法)
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f^e6<5gdf
5. 常规光学薄膜系统设计与分析
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5.1 减反射薄膜
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5.2 分光膜
c':ezEaC
5.3 高反射膜
BcA31%
5.4 干涉截止滤光片
K7I&sS^x
5.5 窄带滤光片
!e#xx]v3
5.6 负滤光片
?B.~AUN
5.7 非均匀膜与Rugate滤光片
x}$e}8|8YL
5.8 Vstack薄膜设计示例
+)nT|w45
5.9 Stack应用范例说明
h06ku2Q
(UNtRz'=;
6. VR、AR及HUD用光学薄膜
v}J;ZIb
6.1 背景介绍
2}}?'PwwT
6.2 产品特性
1-I Swd'u
6.3 典型VR系统光学薄膜设计分析
7=4 A;Ybq
6.4 典型AR系统光学薄膜设计分析
9+Y D!y
6.5 典型HUD系统光学薄膜设计分析
V%HS\<$h
151tXSzLT
7. 防雾薄膜
ZA#y)z8!E
7.1 自清洁效应
09M;}4ev&7
7.2 超亲水薄膜
,gnQa
7.3 超疏水薄膜
u"$a>S_
7.4 防雾薄膜的制备
D y6$J3 r
7.5 防雾薄膜的性能测试
]6tkEyuq
\o3"~\|6C
8. 材料管理
$mco0%$
8.1 光学薄膜材料性能及应用评述
iZ[tHw||
8.2 金属与介质薄膜
BH0!6Oq
8.3 材料模型
dw@E)
8.4 介质薄膜光学常数的提取
-7'#2P<)
8.5 金属薄膜光学常数的提取
PX".Km p.
8.6 基板光学常数的提取
z)F#u:t
8.7 光学常数导出遇到的问题及解决思路
<2
?SY<~i<K-
9. 薄膜制备技术
}\v^+scD
9.1 常见薄膜制备技术
{7Cx#Ewd
9.2 光学薄膜制备流程
^>~dlS
9.3 淀积技术
`!\ivIi^
9.4 工艺因素
0rMqWP
6(56,i<#/
10. 误差、容差与光学薄膜监控技术
=.m6FRsU
10.1 光学薄膜监控技术
nYv#4*
10.2 误差分析与监控决策
>L2*CV3p
10.3 Runsheet 与 Simulator应用技巧
coQ[@vu
10.4 膜系灵敏度分析
[j6~}zu@
10.5 膜系容差分析
V*B0lI7`B
10.6 误差分析工具
&jts:^N>
11. 反演工程
%u]6KrG18b
11.1 镀膜过程中两种主要的误差(系统误差和随机误差)
?)A2Kw>2
11.2 用反演工程来控制对设计的搜索
eFQQW`J
d O A%F$Mk
12. 应力、张力、温度和均匀性工具
&R]pw`mTH
12.1 光学性质的热致偏移
3\!F\tqD \
12.2 应力工具
fDuwgY0
12.3 均匀性误差(圆锥工具、波前问题)
":WYcaSi
}X1.Wt=?
13. 光学薄膜特性测量
xcSR{IZ
13.1 薄膜光学常数的测量
Rlg#z4m
13.2 薄膜堆积密度的测量
LZWS^77
13.3 薄膜微观结构分析
HY;oy(
13.4 薄膜成分分析
'_Wt}{h
13.5 薄膜硬度、附着性及耐摩擦性的测量
'tWAu I
13.6 薄膜表面粗糙度的测量
y/4ny,s"
nlfPg-78B+
14. 项目管理与应用实例
dXP6"V@iI
14.1 项目管理
:4;S"p
14.2 光学薄膜项目开发过程
wkT;a&_
14.3 客户需求分析
' Js?N
14.4 文档管理与报表生成
GAU!_M5 N
huAyjo
15. 其他控制透反射方法
g37q/nEv
15.1 蛾眼抗反射结构
|QYZRz
15.2 线栅偏振片
O<`R~
g3rRhS
16. Q&A
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