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2007-05-09 20:39 |
X-射线荧光分析显微镜介绍
主要用途： 1.固体、液体样品的成分、结构及成份分布 2.Na-U元素的定性及定量分析 3.可做几种图像：①元素分布图；②透射X光像；③光学显微镜像 4.相分析（相结构）地质考古、宝石鉴定、电子元器件、集成电路、刑事侦察、物证鉴定、金属、非金属材料成份分析及元素分布、环境监测、生物医学 >z`,ch6~
仪器类别： 03040108 /仪器仪表 /光学仪器 /显微镜 /荧光显微镜 f N
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指标信息： 元素分析范围：Na11～U92 仪器灵敏度：几十ppm X射线束斑直径：10μm或100μm 最大样品尺寸：100×100×30mm 扫描范围：512×512μm～100×100μm 射线对样品：无损伤、无污染。 T'fcc6D5p
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仪器特点： /V?H4z[G
1.大气状态下分析，不需对样品进行处理 G3G6IP
2.不破坏、不污染分析贵重样品 w~@-9<^K]v
3.同时分析样品的成份和结构 PjIeZ&p
4.可对样品进行点分析和从微观级到宏观级的面分析 (#oycj^<
5.能够对Na～U的元素同时进行分析，并可同时记录31种元素的测定结果 ?K@t0a
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