受激发射损耗(STED)显微镜原理

]'DtuT?Z   摘要 IgR_p7['.   x]Q+M2g?   Q3_ia5 `O                                                                      YdhrFw0`~r   受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术，以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中，两束激光—一束正常，一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应，与通常的显微镜技术(例如，宽视场显微镜)相比，后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中，介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应，在焦点区域采用等效孔径。 `"Tx%>E(U   xBR2tDi%   任务说明                                                                           xGPt5l<M&   !>   \Vr(P>   2pxl!   多重光源                                                                           -QI1>7sl      oIQor%z   O9:vPbn   xAon:58m{   螺旋相位板                                                                           `+k&]z$m   x]Nq|XK   PHT;%;m=   .ye5;A}   探测器插件                                                                           g>T'R Vb   rqT@i(i   9Z6O{ >   c R[DT04   参数运行 `cMa Fc-y/   /8Ca8Ju                                                                            3:dQN;=   rR^VW^|f   为了实现焦点区域的z-扫描，可以执行参数运行。使用此工具，用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息，请参阅： 6 @'v6 1'   Cf@WjgR   Usage of the Parameter Run Document pU<->d;->                                                                                    O Ac+LdT   非时序建模 rF>:pS,`&   Nr uXXd                                                                          h9 [ov)   uRxo,.}c   将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后，用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时，将对活动光路进行初步分析（通过所谓的Light Path Finder）。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 `?2S4lN/   G'#a&6   Channel Setting for Non-Sequential Tracing ft?J|AG                                                                                    <G}>Gk8x   总结 – 组件…           eiJ $}\qJL   _u]Wr%D@                                                                "qMd%RP   WSWaq\9]8   <Mxy&9}ic   s-3vp   系统观感 v>;6pcp[F   ko=v K%E[                                                                    6psK2d 0   s{'r'`z.   F3;UH%L1   发射&损耗激光 _~-VH&g0R   'HH[[9Q                                                                            !n@Yg2w   eM*@}3   光在焦点区域中的传播表明，来自损耗激光的光会产生环形光斑，其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争，这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 '\[GquK;P   " q0lh                                                                                    :>\i   3D STED 轮廓 3K_ J"B*7   m!tB;:6                  }3V Q*'X>i                                                        ysu"+J   注意：由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应，我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 TO-[6Pq#   }BzV<8F   受激发射损耗效应                                                                           > CZ|Vx   ?2E@)7   为了近似饱和损耗的影响，我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓（600nm 直径，25% 边缘）。通过系统传播回探测器平面表明，由于这个过程，光斑变得非常小。 K.JKE"j)d   wHEt;rc(   PI)lJ\   ?FA} ;?v   VirtualLab Fusion 技术                                                                           "6FZX~]s!   SdeKRZ{o   @9~6+BZOq                                                                                    ~Yb5FYE   文件信息  &)T5V   Z[[qW f   9NBFG~)|l[   5.q2<a :   进一步阅读 ^"(CZvq   • Simulation of Multiple Light Source in VLF P>9F(#u_(F   • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy hV)D,oN3   Uz} #.   市场图片 b>er'U   ^yb3L1y

Tuo`>ZA

%-/[.DYt