受激发射损耗(STED)显微镜原理

[E|uY]DR   摘要 e.8$ga{   Wekqn!h   :FHA]oec1                                                                      9]7u_   受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术，以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中，两束激光—一束正常，一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应，与通常的显微镜技术(例如，宽视场显微镜)相比，后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中，介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应，在焦点区域采用等效孔径。 :mZYS4L~   `q_<Im%I   任务说明                                                                           #|f~s   =J/FJb   H M:r0_   +>tUz D   多重光源                                                                           K0Tg|9      K 1W].(-@4   rQr!R$t/[   <[i}n55   螺旋相位板                                                                           Gu;OVLR|   7lA:)a_!]   8ObeiVXf)   ^sClz*%?   探测器插件                                                                           ZA820A>2!   G;1?<3   K{=PQ XSU   75NRCXh.   参数运行 2?DRLF]   OH'ea5xq                                                                            d%ME@6K)   NX,-;v   为了实现焦点区域的z-扫描，可以执行参数运行。使用此工具，用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息，请参阅： $k%Z$NSN=   $[ z y   Usage of the Parameter Run Document L:R<e#kgS                                                                                    >*1}1~uU`'   非时序建模 ^?GmrHC)   7o]HQ[xO                                                                          !#N\b   46No%cSiG   将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后，用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时，将对活动光路进行初步分析（通过所谓的Light Path Finder）。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 5?u}#zO   L%h/OD   Channel Setting for Non-Sequential Tracing 8dO?K*J,H'                                                                                    qoX@@xr1   总结 – 组件…           3z8 C   ,o#kRWRG                                                                r'4:)~]s   8e2?tmWM   A :e;k{J    jNyoN1M   系统观感 A9:NKY{z   D E/:['                                                                    I 3$dVls}   q|(W-h+   anN#5jt   发射&损耗激光 B80aw>M   0C$vS`s&                                                                            ~)]} 91p   4P8*k[.   光在焦点区域中的传播表明，来自损耗激光的光会产生环形光斑，其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争，这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 EbQa?   {2KFD\i\                                                                                    g@ ith&*=h   3D STED 轮廓 +j/~Af p5f   F -gE<<                  svhI3" r                                                        m`A% p   注意：由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应，我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 q_fam,9   pPro }@@   受激发射损耗效应                                                                           G4-z3e,crr   dK9Zg,DZL   为了近似饱和损耗的影响，我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓（600nm 直径，25% 边缘）。通过系统传播回探测器平面表明，由于这个过程，光斑变得非常小。 sM2MLh'D   Z;DCI-Wg   zu\`1W^   ml!5:r>   VirtualLab Fusion 技术                                                                            iThSt72   F7}-!   ,. EBOUW^                                                                                    DBH#)4do@   文件信息 r,(Mu   ~N0sJ%   mTDVlw0dh   5Rv+zQ#GR   进一步阅读 YK#fa2ng   • Simulation of Multiple Light Source in VLF dY!Z   • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy nms8@[4-   t*S." q   市场图片 M[]A2'fS   ['qnn|

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