首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2025-03-24 08:12

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 6BnP"R.  
6hW ~Q  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 [X"F}ph  
6w )mo)<X  
^E)*i#."4  
^ |xSU_wa  
1. 案例 /p&V72  
b#17N2xkT  
#%=6DHsK  
Q|gRBu  
在VirtualLab Fusion中构建系统 jgz}  
IO*}N"  
1. 系统构建模块 i$[wkQ>$  
#jc+2F,+{  
0G=bu5  
KliMw*5(  
2. 组件连接器 lVw77bZ  
h W<fu  
d"P\ =`+  
sv g`s,g  
几何光学仿真 R?/!7  
U)PNY  
以光线追迹 p H5iv>H  
&$,%6X"  
1. 结果:光线追迹 Hju7gP=y}  
>E9:3&[F  
]z%X%wL  
Zs(I]^w;d  
快速物理光学仿真 } ^}fx [  
QXQ'QEG  
以场追迹 1&Fty'p  
ib3 u:  
1. NA=1.4时的光栅成像 5 aT>8@$Z^  
}Sxuc/%:  
6<uJ}3  
&V$qIvN$  
2.  NA=0.75时的光栅成像 ptCFW_UV  
   7eM:YqT/#  
hZ#ydI|  
TSl:a &  
3. NA=0.5时的光栅成像 =)2sehU/  
   5Oa`1?C1  
(eG9b pqr  
查看本帖完整版本: [-- 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2025 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计