首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2025-03-24 08:12

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 qr$=oCqa  
g4P059  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 m;lwMrY\7>  
Ttb @98  
vY<(3[pp  
CN\SxK`,  
1. 案例 s%>>E!Qi_  
eP|:b &  
b~  
\i}n1Qd  
在VirtualLab Fusion中构建系统 EYd`qk 3  
rAwq$!xx  
1. 系统构建模块 #tKc!]m  
(ta!4h,  
3/>McZ@OH  
7w_`<b6  
2. 组件连接器 }XWic88!~  
/d9I2~}B  
Am%zEt$c  
'N)&;ADx-G  
几何光学仿真 yJc<;Qx  
mfQQ<Q@  
以光线追迹 Hu|NS{Ke-  
cPi 3UjY~  
1. 结果:光线追迹 aJ88U69  
kdman nM  
Pon 2!$  
mQtGE[  
快速物理光学仿真 )}hp[*C  
E< "aUnI  
以场追迹 o*eU0  
VZ'[\3J  
1. NA=1.4时的光栅成像 @zB{Ig  
VmHok  
+^Eruv+F  
v#@"Evh7  
2.  NA=0.75时的光栅成像 J"yO\Y  
   X,:^})]  
nZ>qM]">u  
q|b#=Af]g  
3. NA=0.5时的光栅成像 7f#e#_sM;  
   6C4c.+S  
TDs=VTd@Z  
查看本帖完整版本: [-- 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2025 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计