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infotek 2025-03-24 08:12

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 w'i+WEU>l  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 l;z+E_sQ  
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1. 案例 V:D?i#%,z  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 |.~2C1 4[  
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1. 系统构建模块 IH=%%AS  
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q 3,p=ijJ  
2. 组件连接器 !9C]Fs*`?  
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几何光学仿真 e oFM  
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以光线追迹 d8jP@>  
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1. 结果:光线追迹 ewYk>  
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快速物理光学仿真 L~M6 ca"  
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以场追迹 XKBQH(  
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1. NA=1.4时的光栅成像 `Z#]lS?  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 &2Cu"O'.i  
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3. NA=0.5时的光栅成像 ;fY)7 '  
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