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用阿贝判据研究显微系统的分辨率
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infotek
2025-03-24 08:12
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
摘要
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。
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