首页
->
登录
->
注册
->
回复主题
->
发表主题
光行天下
->
讯技光电&黉论教育
->
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
[点此返回论坛查看本帖完整版本]
[打印本页]
infotek
2025-03-24 08:12
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
摘要
Hg]iZ,8?
gU@.IOg
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。
jA3Ir;a
>Co@K^'
5zJ#d}%}S"
dr=KoAIxy
1. 案例
tdi}P/x
"y .(E7 6
(aq^\#9btO
P^/e!%UgC
在VirtualLab Fusion中构建系统
dBL{Mbh2Z
Zg;Ht
1. 系统构建模块
9jUm0B{?
lgCOp%>
&2Cu"O'.i
m,]h7 xx
2. 组件连接器
f;W>:`'
=Rf!i78c5
TSd;L u%hr
<Y#EiC.
几何光学仿真
WB|SXto%4D
}15ooe%
以光线追迹
1QDAfRx
'"Dgov$q
1. 结果:光线追迹
,OO0*%
6n.C!,Zmn
N5GQ2V
dzc.s8T(0
快速物理光学仿真
kKSn^qL*
^pZ\:
以场追迹
/&'rQ`nd
@y\M8C8
1. NA=1.4时的光栅成像
RiAY>:
GfT`>M?QGK
LMte,zs>
K5q9u-7
2. NA=0.75时的光栅成像
(A8X|Y
(/l9@0Y.t
s@bo df&
"(#]H;!W
3. NA=0.5时的光栅成像
-J*jW N!
(%EhkTb
gnSb)!i>z
查看本帖完整版本: [--
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
--] [--
top
--]
Copyright © 2005-2025
光行天下
蜀ICP备06003254号-1
网站统计