首页
->
登录
->
注册
->
回复主题
->
发表主题
光行天下
->
讯技光电&黉论教育
->
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
[点此返回论坛查看本帖完整版本]
[打印本页]
infotek
2025-03-24 08:12
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
摘要
/ 8u}VYE
4;(W0RQa
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。
k2.\1}\
7<(kvE*x
1/syzHjbY
FbH@qHSH
1. 案例
2IP<6l8N
zn0%%x+!g
jk Aru_C
F&Rr&m
在VirtualLab Fusion中构建系统
+Y2D @K?)
9!0-~,o
1. 系统构建模块
'Tskx
R8YU#D (Q
'j?H>'t{
-~*kAh
2. 组件连接器
vbtjPse
jthyZZ
vst;G-ys
^f0-w`D
几何光学仿真
TkIiO>
r1z+yx
以光线追迹
Z`Jt6QgW
9|NF)~Q}'
1. 结果:光线追迹
32pPeYxB!-
,#9i=gp
<e wcWr
7\H_9o0$
快速物理光学仿真
bIzBY+P
jF(R;?,
以场追迹
T hVq5
DYrci?8Ith
1. NA=1.4时的光栅成像
b/tcD r
5 o[E8c8
0LTsWCUQ6e
8|u8J0^
2. NA=0.75时的光栅成像
&o&}5Aba9
K_;?Sr=
K.}jyhKIKi
Moi>Dp
3. NA=0.5时的光栅成像
];eJ'#
}h|HT
2+K-I
查看本帖完整版本: [--
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
--] [--
top
--]
Copyright © 2005-2026
光行天下
蜀ICP备06003254号-1
网站统计