利用光线追迹分析高数值孔径透镜系统
示例.0082(1.0) g<8Oezi 65 9R[PpE'' 关键词:光线追迹,高数值孔径,点列图,光斑尺寸 G) 37?A) X&M04 1. 描述 q$<VLrx ■ 该案例中阐述了如何利用VirtualLab对一个具有高数值孔径的透镜系统进行分析。 Z:,`hW*A6 ■ 我们将对焦面前和焦面上对三维光线结构和二维点列图进行讨论。 (7??5gjh ■ 此外,VirtualLab可用于测量焦平面上的光斑尺寸。 4i"fHVp8 =&: |a$C 2. 系统 _.m|Ml,`{ @)ls+}=Y
文件名:UseCase.0082_FocussingSystem.lpd Juk'eH2^s 3. 透镜系统组件编辑 ,OMdLXr Q>G% *? ■ 在光路视图中双击透镜系统元件,可以显示元件编辑窗口。 V'K:52 ■ 透镜系统是由序列光学表面(OIS)定义的。 7H,)heA ■ 每一个可选项都有独立的参数,并可以设定。 VwLo ■ 包括序列光学表面和光学介质。 fM(~>(q& Dh68=F0 CX]L' 4. 光线追迹系统分析器-选项 m`tX&K#- 5'|W(yR} X'/'r.b6 ■ 分析器允许用户指定使用光源的光线选项。 4S* X=1 ■ 可以选择选取光线的方法: 8 9maN — 在x-y-网格 n3\~H9 — 六边形 3/,}&SX — 自由选取 yQN^F+. ■ 每一个可选项都有独立的参数,并可以设定。 wxF\enDY T#& |