首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 准直系统中鬼像效应的研究 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2024-11-14 07:58

准直系统中鬼像效应的研究

摘要 HhIa=,VY  
H!7/U_AH  
仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
J/ 4kS<c  
M`S >Q2{  
G;`+MgJ)  
DQwbr\xy\  
建模任务 >a]{q^0  
nww,y  
I)n%aTfo8  
%}2 s74D*Z  
Pq !\6s@  
准直系统 , @(lYeD"  
(LQ*U3J]_  
UDGVq S!,E  
%~G)xK?W*  
非序列追迹 CSIW|R@   
'BtvT[KM  
SmC91XO  
<Y<%=`  
总结—元件 PC=b.H8P+W  
b m`x  
0<nk>o  
s}X2*o`,  
+>Y2luR1  
51l:  
系统光线追迹结果 ,n^{!^JW  
V+-%$-w>  
CKy' 8I9  
+<&_1% 5+  
完美的减反射(AR)涂层 `Z0FQ( r_  
(jtrQob  
1H{J T op  
7S}NV7  
有内部反射 ~"#qG6dP  
6||zfH  
<D%.'=%pZ  
查看本帖完整版本: [-- 准直系统中鬼像效应的研究 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2025 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计