京东方“自动光学检测系统及缺陷检测方法”专利公布

近日，国家知识产权局信息显示，京东方科技集团股份有限公司申请一项名为“自动光学检测系统及缺陷检测方法”的专利，公开号 CN 118883578 A，申请日期为2023年4月。 `aJ[ !O  
专利摘要显示，本申请实施例提供一种自动光学检测系统及缺陷检测方法。所述自动光学检测系统包括成像系统和图像分析装置；成像系统包括遮光罩、棱镜以及相机，所述遮光罩设有空腔以及与所述空腔相连通的检测入口；所述棱镜位于所述空腔内，所述相机位于所述棱镜远离所述检测入口的一侧，所述相机被配置为对处于所述检测入口的待检测产品在所述棱镜上的成像进行拍照；所述图像分析装置与所述相机电连接，且被配置为根据所述相机所发送的图像对所述待检测产品的缺陷进行识别，降低了检测产品换型时结构调整的复杂性，且可缩短产品的检测周期，提高对产品缺陷的检测效率。 0]Li"Wb