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2024-10-30 16:21 |
11月课程:杂散光分析与控制技术
时间地点 jdxwS 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司(微信公众号:infotek) nU$;W 苏州黉论教育咨询有限公司 7B
GMG| 授课时间:2024年11月27(三)-29日(五) 共3天 AM 9:00-PM 16:00 <F!On5=W* 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 Y>z~0$ 课程讲师:讯技光电高级工程师 F)4Y;;# 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) r=[T5,L(s b;#Z/phix 课程简介 ?[Xv(60] 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统,具体突出红外热辐射和冷反射计算,在以往的方法中我们通过计算点列图来实现,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们将从实际的积分公式出发进行该望远镜系统仿真。 \gferWm
X-Y:)UT 课程大纲 FJl#NOp& 1. 杂散光介绍与术语 R.Xh&@f` 1.1 杂散光路径 Sw~jyUEr 1.2 关键面和照明面 9J%
~?k 1.3杂光内部和外部杂散光 [@MV[$W5 2. 基本辐射度量学-辐射 hR"j[ 2.1 BSDF及其散射模型 b`N0lH.V 2.2 TIS总散射概念 HJT}v/FZ 2.3 PST(点源透射比) der'<Q.U:k 3. 杂散光分析中的光线追迹 'r6s5 WC 3.1 FRED软件光线追迹介绍 }=Yvs) 3.2构建杂散光模型 #N\kMJl$l • 定义光学和机械几何 F)KUup)gc • 定义光学属性 7a.$tT 3.3 光线追迹 p
b:mw$XQ7 • 使用光线追迹来量化收敛速度 D}59fWz@ • 重点采样 a[iuE` • 反向光线追迹 e
W&;r&26 • 控制光线Ancestry以增加收敛速度 B'\^[ • 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 T-pes1Wu • 使用GPU来进行追迹 :JW!$?s8H • RAM内存使用设置 0,*clvH\; 4.散射模型 [80jG+6 4.1来自表面粗糙的散射 \"B oTi'2! • 低频、中频、高频 +u;f]p • RMS粗糙度与BSDF的关系 *Iv.W7 [ • 由PSD推导BSDF =E@wi? • 拟合BSDF测量数据 Fl\X&6k 4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射 wb^Yg9 4.3 来自颗粒污染的散射 sev^ • 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论) !$r4 lu • 颗粒密度函数模型 M^I*;{w6i • 案例:计算激光通过金属粉尘的吸收 kylR) 4.4 来自黑处理表面的散射 37'@,*m`
=qH9<,p`H 4.5 孔径衍射 HlEp
Dph% • 杂散光程序中的孔径衍射 & | |