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infotek 2024-10-30 16:21

11月课程:杂散光分析与控制技术

时间地点 5Iy|BRU(%  
主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司(微信公众号:infotek) ^Xuvy{TkPH  
苏州黉论教育咨询有限公司 w ~.f  
授课时间:2024年11月27(三)-29日(五) 共3天 AM 9:00-PM 16:00 <>n0arAn  
授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 9 3U_tQ&1?  
课程讲师:讯技光电高级工程师 <vnHz?71c  
课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) V8 e>l[tH  
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课程简介 jG6]A"pr  
杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统,具体突出红外热辐射和冷反射计算,在以往的方法中我们通过计算点列图来实现,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们将从实际的积分公式出发进行该望远镜系统仿真。 Z_PNI#h*  
CHdX;'`*  
课程大纲 ~9?cn  
1. 杂散光介绍与术语 [=x[ w70  
1.1 杂散光路径 f& 0M*o,)  
1.2 关键面和照明面 .0p0_f=  
1.3杂光内部和外部杂散光 o=u3&liBi  
2. 基本辐射度量学-辐射 [NQOrcAQ  
2.1 BSDF及其散射模型 ~Xw"}S5  
2.2 TIS总散射概念 x* DarSk  
2.3 PST(点源透射比) D_?K"E=fw  
3. 杂散光分析中的光线追迹 HvUxsdT  
3.1 FRED软件光线追迹介绍 V GL aN%|  
3.2构建杂散光模型 x"eRJii?  
• 定义光学和机械几何 Okgv!Nt8)A  
• 定义光学属性 Y}@&h!  
3.3 光线追迹 ?42<J%p  
• 使用光线追迹来量化收敛速度 iF*:d  
• 重点采样 E^Y#&skXp3  
• 反向光线追迹 ,V'o4]H  
• 控制光线Ancestry以增加收敛速度 *EI6dD"  
• 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 VJ84?b{c W  
• 使用GPU来进行追迹 h-g+g#*  
• RAM内存使用设置 sD<a+Lw}x  
4.散射模型 3yANv?$a  
4.1来自表面粗糙的散射 C#QpQg2  
• 低频、中频、高频 XoXM ^*Vk  
• RMS粗糙度与BSDF的关系 z _g~  
• 由PSD推导BSDF @)IjNplYkw  
• 拟合BSDF测量数据 6.FY0.i  
4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射 6~OoFm5  
4.3 来自颗粒污染的散射 o-;E>N7t  
• 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论) 6L:x^bM  
• 颗粒密度函数模型 ml2_ ]3j!  
• 案例:计算激光通过金属粉尘的吸收 xE1 eT,  
4.4 来自黑处理表面的散射 ai}mOyJs  
1h(0IjG8  
4.5 孔径衍射 ?=>+LqP  
• 杂散光程序中的孔径衍射 }{M#EP8q+  
• 衍射元件的衍射特性 fz;iOjr>  
• 案例:衍射杂散光分析 :#2Bw]z&z  
5. 大气湍流散射 -\+s#kE:  
6 热辐射 CF&NFSti^  
• 红外热辐射的杂散光分析 ,/[6e\0~  
• 冷反射仿真 h"lX 4  
7. 鬼像反射 QpZ:gM_  
• 鬼像反射 Rn#KfI:{  
• 表面镀膜 tzZ63@cm  
• 表面镀AR增透膜的仿真 m[i+knYX  
8. 光学设计中的杂散光控制 ~0?mBy!-O  
8.1使用视场光阑 avjpA ?Vz  
8.2减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 hZ[E7=NTQ^  
8.3使用眩光光阑(Lyot stop) !GOM5z,  
8.4使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 =b38(\  
8.5 使用滤光 aHlcfh9|  
9. 挡板和冷窗的设计 `/_o!(Z`  
9.1主挡板和冷屏的设计 l;af~ef)'  
9.2 挡光环的设计 W>!_|[a  
• 槽型挡光环 t c[n&X  
• 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 r`%+M7  
• 案例:望眼镜系统的挡板的优化 pa#d L!J  
10. BSDF散射测量
鬼像路径在3D视图中的渲染和照度分析
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