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infotek 2024-10-28 07:50

大数值孔径显微镜极限分辨率的研究

光学测量＞显微 & gJV{V5Ay  
+')f6P;t>=  
任务/系统视图 IKMeJ(:S  
L@75- T  
ONNpiK-  
Q$obOEr2(  
亮点 HkV1sT  
j*e6 vX  
svelYe#9z  
 PiV7*F4qI.  
 显微镜系统中光栅的全矢量分析 bWl5(S` Z  
 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 l$K,#P<)  
 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 I/VxZ8T  
-yGDh+-  
说明：光源 H/M Au7  
kyAXRwzI  
=NbI%  
I -Xlx<  
A*. /,KT  
t E` cau  
说明：透镜系统 _|72r} j  
i{!T&8  
Tu{h<Zy  
说明：样品结构 $M_x!f'{>  
B!gGK|8  
"'g[1Li  
i>EgG5iJ  
说明：探测器 pE{yv1Yg  
`X,yM-(  
w;Q;[:y  
wU#F_De)R:  
 w ;daC(:  
ZcuA6#3B  
结果：3D光线追迹 QKN<+,h!z>  
v7%X@j]ji  
79\Jx iSB  
iX'rU@C  
#jAqra._b  
pLMRwgzr  
结果：光线追迹 g8!wb{8?s  
f84:hXo6  
)}TLC 2%  
^Qu iH'  
结果：光线追迹衍射级数 \#68;)+=  
R*|LI  
@&D?e:|!U  
|uW:r17  
结果：场追迹采样平面 e]=!"nJ+  
[D5t{[i  
"Jjs"7  
~gz^Cdh  
结果：场追迹焦平面 y9#$O(G  
{pb>$G:gfx  
Qu,8t 8  
6t/`:OZC:  
结果：减小光栅周期 `h}q Eo`  
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随着光栅周期的减小，光栅结构不能被分辨。 0Z|FZGRP  
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SWp1|.=Sm  
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