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infotek 2024-10-28 07:50

大数值孔径显微镜极限分辨率的研究

光学测量＞显微 dXxf{|gk>  
O(I^:_eH  
任务/系统视图 Jpduk&u  
A{s -g>s  
WkiT,(i  
^mq(j_E.  
亮点 F2 B(PGa7  
FQ4R>@@5  
ei4LE XQ16  
 [@9S-$Xa  
 显微镜系统中光栅的全矢量分析 ^"7- `<J  
 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 "BT M,CB  
 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 /V*SI!C<f  
ta{24{?M\  
说明：光源 "9P @bA  
~u$ cX1M  
KD A8x W  
sAc1t`  
UdrgUqq)  
%j^QK>%  
说明：透镜系统 cRs.@U\{R\  
(qFZF7(Xa  
ke2dQ^kc4  
说明：样品结构 Y0g]-B  
R|*0_!O:[  
QD0x^v8  
vQCb?+X&  
说明：探测器 9@CRL=  
G%HG6  
iN8[^,2H|  
i&H^xgm  
 'nPI zK<v  
K W&muD  
结果：3D光线追迹 iT&4;W=72~  
*DIY;)K  
+- qk\sQ  
s``a{ HZ  
m4~ |z  
)A*53>JV  
结果：光线追迹 HlX~a:.7  
3!F^ vZ.  
T(u; <}e@[  
Rw `ezC#  
结果：光线追迹衍射级数 Zq&'a_  
lF64g  
&iWTf K7  
,EHLW4v  
结果：场追迹采样平面 Jf4` 2KN\  
odca?  
tW~kn9glZ  
7yu-xnt3s  
结果：场追迹焦平面 $,:mq>]![{  
uxn+.fA  
FR6 W-L  
Q4 &P\V  
结果：减小光栅周期 :ILpf+`yY  
 A-1K TD  
随着光栅周期的减小，光栅结构不能被分辨。 ;76+J)  
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