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infotek 2024-10-28 07:50

大数值孔径显微镜极限分辨率的研究

光学测量＞显微 C# pjmT_  
<ZW-QN4  
任务/系统视图 Fzcwy V   
kGJC\{N5N  
O0:q;<>z  
_v:SP LU  
亮点 $Kd>:f=A  
'fW-Y!k%  
^f@=:eWI  
 +ai< q>+  
 显微镜系统中光栅的全矢量分析 tX[WH\(xI  
 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 d_ CT $  
 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 R-14=|7a-  
j1Ezf=N6`  
说明：光源 3XKf!P  
cb bFw  
_ dg\\c  
}a/Cro.~4  
X{VOAcugr  
.]Z"C&"N]  
说明：透镜系统 Zd&S@Z  
P {'b:C  
D'4\*4is  
说明：样品结构 tp|d*7^i  
:KO2| v\  
*ui</+  
!9x}  
说明：探测器 xD$\,{  
=M-p/uB]  
=c7;r]Ol  
'q.!|G2U  
 =H~j,K  
2rMpgV5  
结果：3D光线追迹 ,?3G;-  
T C"<g  
Ho%CDz z  
4+ig' |o  
_B0L.eF  
Dh*n!7lD`  
结果：光线追迹 v0y(58Rz.  
j.YA 2mr  
NVs@S-rpX  
KlqY@Xt  
结果：光线追迹衍射级数 OJxl<Q=z  
9FX-1,Jx  
<vP=zk  
=lC7gS!U  
结果：场追迹采样平面 bZ6+,J  
+h$ 9\  
T;#FEzBz  
W8<%[-r  
结果：场追迹焦平面 -YE^zzh  
c`W,~[Q<O+  
w>YDNOk  
qWw=8Bq  
结果：减小光栅周期 wS*E(IAl  
 )X!,3Ca{43  
随着光栅周期的减小，光栅结构不能被分辨。 +v\oOBB)  
j#6.Gq  
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W4N{S.#!  
   u&NV,6Fj2[  
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