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infotek 2024-10-28 07:50

大数值孔径显微镜极限分辨率的研究

光学测量＞显微  zZS>+O  
7O;BS}Lv=  
任务/系统视图 s|fCR  
k^L#,:\&V  
,<R>Hiwg/s  
R (+h)#![  
亮点 oAIY=z  
5 ]A$P\7~1  
t ?pIE cl  
 F(?Fz8  
 显微镜系统中光栅的全矢量分析 (MF+/fi  
 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 ]<&B BQ  
 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 PEOM1oY)w  
E#IiyZ  
说明：光源 _stI?fz*4k  
SaX,^_GY  
7UeE(=Hr5  
'Qp&,xK  
IG2`9rR  
uOivnJ?  
说明：透镜系统 <-Kb@V3  
Gd]5xl HRU  
(9WL+S  
说明：样品结构 F:[Nw#gj/  
b<29wL1  
:8\*)"^E  
!3b|*].B  
说明：探测器 [="g|/M)  
Qd&d\w/  
vu !j{%GO  
iMOPD}`IX  
 T6/$pJl  
u`L!za7fi  
结果：3D光线追迹 2yi*eR  
2ZTyo7P  
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IxK 3,@d  
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EDP I*@>  
结果：光线追迹 }5fI*v  
^>vO5Ho.  
it/C y\f  
M; S-ESQ  
结果：光线追迹衍射级数 OW[/%U>  
b}EYNCw_7S  
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{=pP`HD0  
结果：场追迹采样平面 //'xR8Z  
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3LmBV\["  
结果：场追迹焦平面 .LGkr@P  
Hm8EYPr J  
RJ`/qXL  
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结果：减小光栅周期 bCY^.S-  
 2\iD;Z#gM  
随着光栅周期的减小，光栅结构不能被分辨。 mXN1b!  
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