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infotek 2024-10-28 07:50

大数值孔径显微镜极限分辨率的研究

光学测量＞显微 +%\j$Pv  
0_mvz%[J  
任务/系统视图 [(F<|f:n  
^p zxwt  
N pND/  
67\Ojl~(1  
亮点 r{R7"  
)$h9Y   
AE4~M`6D  
 +()t8,S,  
 显微镜系统中光栅的全矢量分析 -yQ\3wli`  
 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 &qP-x98E?  
 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 <4e*3WSG  
wy- C~b'Qd  
说明：光源 "5JNXo,H  
E5BgQ5'  
y*b.eO  
3|+f si)x  
@IY?DO  
_<*GU@  
说明：透镜系统  pl,Z  
}t%>_  
s P4 ,S(+e  
说明：样品结构 WmjzKCl  
.83v~{n  
)| x%o(n  
1H4Zgh U  
说明：探测器 (5q%0|RzRs  
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}t51U0b%  
 AMD?LjY~  
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i`KZ,   
结果：3D光线追迹 >6I.%!jU  
90qj6.SQ  
^'[@M'`~L  
d$_q=ywc  
fQ36Hd?(5  
"?SOBA!vy  
结果：光线追迹 Xs>s|_T  
lke~>0;  
Lubs{-5lk  
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结果：光线追迹衍射级数 9S1Ti6A  
5':Gu}Vq  
&6t3SZV  
D=~B7b:  
结果：场追迹采样平面 B8 0odU&  
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M[K0t>ih  
t*a*v;iz  
结果：场追迹焦平面 O5^J!(.O\Z  
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Sn(l$wk=  
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结果：减小光栅周期 c3V]'~  
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随着光栅周期的减小，光栅结构不能被分辨。 EDHg'q  
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