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infotek 2024-10-28 07:50

大数值孔径显微镜极限分辨率的研究

光学测量＞显微 *iX e^<6v  
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任务/系统视图 " BTE  
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亮点 ,%"xH4d  
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 显微镜系统中光栅的全矢量分析 P<dy3 ;  
 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 =Ov7C[(  
 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 &wH:aD  
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说明：光源 H. ,;-  
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说明：透镜系统 Iq5pAHm>M6  
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说明：样品结构 3 pWM~(#>-  
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说明：探测器 @M;(K<%h  
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结果：3D光线追迹 (RL>Hn;.  
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结果：光线追迹 .-I|DVHe  
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结果：光线追迹衍射级数 &_-](w`  
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结果：场追迹采样平面 x1[?5n6  
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结果：场追迹焦平面 laREjN/\`  
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结果：减小光栅周期 u=K2Q4  
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随着光栅周期的减小，光栅结构不能被分辨。 a+z2Zd!u\x  
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