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infotek 2024-10-24 08:27

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 f@{C3E dd  
WAa?$"U2  
任务/系统说明 s/^k;qw  
47RYpd  
:9#`| #uh  
ZFON]$Zk  
亮点 vhHMxOZ;  
93J)9T  
"uCQm '  
`[KhG)Y7t  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; p4t)Z#0  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; lP e$AI  
-1:Z^&e/  
具体要求:光源 HFr3(gNj@  
9yh@_~rZ  
ETOc4hMO  
NM@An2  
具体要求:用于准直的消色差透镜 uI2'jEjO  
=5`@:!t7  
:/NN =3e  
@QG1\W'  
{H V,2-z  
wDO5Zew!  
[S:)UvB  
F4Uk+|]Bu  
具体要求:分束器 {wP|b@(1t  
gcxk 'd  
F 29AjW86  
)0mDN.  
具体要求:参考光路反射镜 6W=:`14  
]e.+u  
%B*dj9n^q  
QNXxpoS#  
zfb _ )  
S=p u  
具体要求:测试光路反射镜 (OB8vTRXP  
YZRB4T9  
)F9r?5}v4x  
h<;[P?z  
具体要求:探测器 LFyceFbm  
4P!DrOB  
Fz&ilB  
Qiw4'xQm  
结果:3D光线追迹 v4_OUA>z,  
yrAzD=  
C-u/{CP  
;6nZ  
结果:场追迹 /\cu!yiX  
Lc<xgN+cJ  
ACO4u<M)  
a~F@3Pd  
结果:移动样品的场追迹结果 _M[[vXH  
rs Uw(K^  
rJZs 5g`  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 8$ZSF92C  
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