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infotek 2024-10-24 08:27

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 ).vdKNzw  
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任务/系统说明 *qR tk  
u{_T,k<!  
KT|$vw2b  
BzgDhDj  
亮点 8p!PR^OM@  
9^}GUJy?  
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W*_ifZ0s.  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; ]IoS-)$Z/  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; g:*yjj  
/Ia#udkNMp  
具体要求:光源 1o$<pZZ  
$AX!L+<!  
00 $W>Gr  
eH6#'M4+\  
具体要求:用于准直的消色差透镜 M2m@N-+R   
+XIN-8  
lw Kr$X4  
H- S28%.  
K1$Z=]a+  
.vb*|So  
$QY(7Z"  
j0OxR.S  
具体要求:分束器 5 &VLq  
,0 ])]  
E.BMm/WH  
_H;ObTiB  
具体要求:参考光路反射镜 AAs&wYp8Yh  
B,A/ -B\  
T{ojla(  
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u''(;U[  
ho0T$hB  
具体要求:测试光路反射镜 l~\'Z2op   
W"~G]a+  
/njN*rhx&Z  
s^E%Uk m  
具体要求:探测器 W;o\}irep  
6T)D6;@L  
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4w\')@`[jk  
结果:3D光线追迹 ,qC_[PUT  
0t<TZa]V  
|}#Rn`*2y  
sbG3,'i)  
结果:场追迹 d*!,McBn  
 9((v.  
6W$k^<S  
Gm_Cq2PD(  
结果:移动样品的场追迹结果 ,(]hykbXp  
zfv l<"Rv  
7Xw #  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 "&>$/b$  
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