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infotek 2024-10-24 08:27

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 s$Mj4_p3l  
&AzA0r&,  
任务/系统说明 V>hy5hDpH  
pVr,WTr6E  
2&M 8Wb#  
@S{,g;8  
亮点 &Z?uK,8  
w*?JW  
CzgLgh;:T  
^U52 *6  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 2 IGAZ%%  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; IzG7!K  
xk,E A U  
具体要求:光源 /2c?+04+  
JSM{|HJxh  
v^vEaB  
`'~|DG}a  
具体要求:用于准直的消色差透镜 ?D#Vha  
u{si  
XG0,@Ly  
tw;`H( UZ^  
b[$>HB_Na  
MSA*XDnN  
>q`G?9d2  
RxqXGM`4  
具体要求:分束器 rHMsA|xz6  
V r y#  
yCwQ0|  
I)6)~[:'  
具体要求:参考光路反射镜 Es?~Dd  
b747eR 7E  
&.d~ M1Mz  
~q<U E\H  
_c[t.\-`]  
$v+g3+7  
具体要求:测试光路反射镜 C; ! )<(Vw  
f F?=W  
u ; I5n  
*F=w MWa  
具体要求:探测器 \i{=%[c  
X _XqT  
mI}'8 .  
tvI~?\Ylj  
结果:3D光线追迹 @n<WM@|l  
#[IQmU23  
U:ZklDW  
sURHj&:t|  
结果:场追迹 9^`G `D  
N1_nBQF )  
1h|JKu0  
\ ddbqg?`  
结果:移动样品的场追迹结果 2OEO b,`  
R7+k=DI  
&FGz53fd4  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 yt$V<8a  
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