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infotek 2024-10-24 08:27

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 {q%Sx*k9[  
F&RgT1*  
任务/系统说明 DdQ;Q5|  
VU`OO$,W  
+Hvc_Av''  
O7d$YB_'  
亮点 j/`94'Y  
: _e#  
3_Cp%~Gi-_  
>Fio;cn?  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; IW=cym7  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; ]\-^>!F#K  
S$TmZk=  
具体要求:光源 Vj<:GRNQ,d  
>F1kR\!  
;Uc0o!1  
KWAb-yB  
具体要求:用于准直的消色差透镜 ^G&3sF}  
ho8`sh>N  
N6K* d` o  
q6Rr.A  
:Z`:nq.a  
dzLQI}89+k  
6E(Qx~i L  
> fnh+M  
具体要求:分束器 &Z(K6U#.  
qm/Q65>E  
ZkL8e  
$mf u:tbP  
具体要求:参考光路反射镜 OsBo+fwT  
Jk@]tAwoM  
|4$M]Mf0  
.2d9?p3Y  
vEf4HZ&w  
ahx>q  
具体要求:测试光路反射镜 mxor1P#|  
! cKz7?w  
Lg8nj< TF  
bvfk  
具体要求:探测器 mc=LP>uoS  
~ wg:!VWA)  
zvABU+{jD  
V5+SWXZ  
结果:3D光线追迹 coYij  
" \I4u{zC  
UOQEk22  
;iDPn2?6?x  
结果:场追迹 DN4$Jva  
ga?*DI8w  
6'\6OsH  
I*9e]m"  
结果:移动样品的场追迹结果 zD?oXs  
<ZU=6Hq  
z-M3  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 ]Q[p@gLd  
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