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infotek 2024-10-24 08:27

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 =$b^ X?x  
"MK:y[+*  
任务/系统说明 V/762&2X  
?N$  
8LR_K]\  
g%RL9-z  
亮点 a8Ci 7<V  
MK~viSgi  
u4#BD!W  
a7OD%yQ  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; pjHUlQ   
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; Et`z7Q*e  
(B,CL222x  
具体要求:光源 ":eHR}Hzx  
uN6TV*]:  
C4Bh#C  
jk 9K>4W  
具体要求:用于准直的消色差透镜 0Ba-VY.H  
$Wb"X=}tl  
r+ v*(Tu  
"{L%5:H@  
d t0?4 d  
kF6X?mqgD  
s?E7tmaM  
[<f\+g2ct  
具体要求:分束器 l_+s$c  
~G5)ya-  
K~v"%sG{`  
A[=)Zw "  
具体要求:参考光路反射镜 9$ UjZ$ v  
~~:i+-[  
OYy%aA}h  
BE}lzn=sF  
,j9}VnW)  
nmS3  
具体要求:测试光路反射镜 ^Zydy  
TQ>kmHWf/  
@x"vGYKd  
'$q'Wl)  
具体要求:探测器 N;<<-`i  
+a nNpy  
"fr B5[  
r$R(4q:  
结果:3D光线追迹 4vp,izNW  
f=g/_R2$xN  
aq,&W q@  
/Q})%j1S0  
结果:场追迹 i nF&Pv  
Fu{[5uv  
3DMfR ofg  
'S E%9  
结果:移动样品的场追迹结果 U#d&#",s  
IkL|bV3E0  
Hc5@ gN  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 m:II<tv  
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