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用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
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infotek
2024-10-24 08:27
用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
光学测量 > 干涉测量
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任务/系统说明
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亮点
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•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换;
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•对相干效应以及干涉图样的高速仿真;
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(B,CL222x
具体要求:光源
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具体要求:用于准直的消色差透镜
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具体要求:分束器
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具体要求:参考光路反射镜
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具体要求:测试光路反射镜
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具体要求:探测器
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结果:3D光线追迹
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结果:场追迹
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