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用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
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infotek
2024-10-24 08:27
用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
光学测量 > 干涉测量
M5 ep\^
hX\XNiCiK8
任务/系统说明
V_Kpb*3
AR'q2/cw
" M8j?
|mV*HdqU
亮点
}K9Vr!
{y=H49
{6'5K U*RH
Hx2.2A^
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换;
[(}f3W &
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真;
]hTYh^'e
x, a[ p\1
具体要求:光源
9ET2uDZpL
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Jis{k$4
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具体要求:用于准直的消色差透镜
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AS`0.RC-
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7qA);N
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Q?n} ~(%&
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具体要求:分束器
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具体要求:参考光路反射镜
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U#1T HO`
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3G8BYP
具体要求:测试光路反射镜
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具体要求:探测器
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结果:3D光线追迹
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结果:场追迹
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结果:移动样品的场追迹结果
KM< +9`
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通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。
^2|gQ'7<
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用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
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