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infotek 2024-10-24 08:27

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 M5 ep\^  
hX\XNiCiK8  
任务/系统说明 V_Kpb*3  
AR'q2/cw  
" M8 j?  
|mV*HdqU  
亮点 }K9Vr!  
{y=H49  
{6'5K U*RH  
Hx2.2 A^  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; [(}f3W&  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; ]hTYh^'e  
x, a[ p\1  
具体要求:光源 9ET2uDZpL  
*>rpcS<l  
Jis{k$4  
Rj9ME,u  
具体要求:用于准直的消色差透镜 pu nc'~  
AS`0.RC-  
K^?yD   
sl-LX)*N#  
7qA);N  
ya{vR* '~  
Q?n} ~(% &  
1t=Y+|vA9  
具体要求:分束器 !TP8LQ  
|332G64K  
~|@aV:k  
;Avd$&::  
具体要求:参考光路反射镜 QsI#Ae,O#;  
U#1T HO`  
 ^"K  
qdm5dQ (c  
<M=U @  
3G8BYP  
具体要求:测试光路反射镜 4JFi|oK0H  
q% )Y  
, %mTKOs  
Hkg^  
具体要求:探测器 1K^blOLXe  
_ZIaEJjH/  
)y'`C@ijI  
k=H{gt  
结果:3D光线追迹 p=\DZU~1  
QkZT%!7  
Pk[f_%0  
j{>E.F2.  
结果:场追迹 Fp4eGuWH#  
`da6}Vqj:  
xT{qeHeZ9,  
$iDatQ[  
结果:移动样品的场追迹结果 KM< +9`  
$&EZVZ{r  
jii2gtu'U  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 ^2|gQ'7<  
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