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infotek 2024-10-24 08:27

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 |Kd6.Mx  
0c>>:w20D  
任务/系统说明 "dCIg{j   
E{6ku=2F  
.g/!u(iy  
<vl(a*4a  
亮点 :(enaHn#~  
ScJ:F-@>  
*4~7p4 [  
{W?!tD43"  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 2>"{El|PbN  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; c+{XP&g8_J  
`_vPElQXZ#  
具体要求:光源 _3 [E$Lg  
;s3@(OnjZ  
@d Qr^'h  
=3,<(F5Y[  
具体要求:用于准直的消色差透镜 _$*-?*V&  
jEKa9rt  
07^.Z[(pCt  
p3fV w]N  
,~;`@  
`*CoVx~fk  
 ~@@t-QY  
QPVr:+\B{  
具体要求:分束器 HV`u#hZ7C  
e77s?WxbK  
? Zv5iI  
yzpa\[^  
具体要求:参考光路反射镜 Rt%Dps%  
%|@?)[;  
y%--/;  
Q3lVx5G>4  
~=wBF  
XF{2'x_R  
具体要求:测试光路反射镜 D vEII'-h  
j,,#B4b  
,,XHw;{  
<\:*cET3  
具体要求:探测器 dFeGibI{  
0T3r#zQ  
3I?yRE  
/x-tl)(s=  
结果:3D光线追迹 (`n*d3  
9LQy 0Gx  
gKU*@`6G  
=L$RY2S"  
结果:场追迹 AO$aWyI  
VyU!r* o  
!oV'  
GmGq69]J*  
结果:移动样品的场追迹结果 k!@/|]3z  
YS"76FJ  
0txSF^x  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 `Geq,  
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