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用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
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infotek
2024-10-24 08:27
用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
光学测量 > 干涉测量
f@{C3E dd
WAa?$"U2
任务/系统说明
s/^k;qw
47 RY pd
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ZFON]$Zk
亮点
vh HMxOZ;
93J)9T
"uCQm '
`[KhG)Y7t
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换;
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•对相干效应以及干涉图样的高速仿真;
lP e$AI
-1:Z^&e/
具体要求:光源
HFr3(gNj@
9yh@_~rZ
ETOc4hMO
NM@An2
具体要求:用于准直的消色差透镜
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{H V,2-z
wDO5Zew!
[S:)UvB
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具体要求:分束器
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F29AjW86
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具体要求:参考光路反射镜
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]e.+u
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QNXxpoS#
zfb _ )
S=p u
具体要求:测试光路反射镜
(OB8vTRXP
YZRB4T9
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h<;[P?z
具体要求:探测器
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Qiw4'xQm
结果:3D光线追迹
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yrAzD=
C-u/{CP
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结果:场追迹
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Lc<xgN+cJ
ACO4u<M)
a~F@3Pd
结果:移动样品的场追迹结果
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rs Uw(K^
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通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。
8$ZSF92C
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用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
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