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infotek 2024-10-24 08:27

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 @8 pRIS"V  
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任务/系统说明 Fax73vl|^a  
$HaM, Oh;i  
]$7|1-&Y  
F/&&VSv>LO  
亮点 M|\ XFO  
5EU3BVu&u  
@E}4LTB  
P\Ka'i  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; R_-.:n%.z  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; //`X+[bMG  
vnKUD|  
具体要求:光源 iM\W"OUl[  
CzwnmSv{.  
p}h)WjC  
KjhOz%Yt[o  
具体要求:用于准直的消色差透镜 *@D.=i>  
f\ Qi()  
 G=wJz  
AH;h#dT  
Hi )n]OE  
wz'D4B  
gg<lWeS/3  
tFG&~tNc  
具体要求:分束器 |_Vlw&qu+  
SoCa_9*X  
t)5bHVx  
xgfK0-T|[  
具体要求:参考光路反射镜 ]c*&5c$  
B lD  
U1I2+;"#A  
g$uj<"^  
[/'W#x  
WxFVbtw  
具体要求:测试光路反射镜 caS5>wk`R  
.|!Kv+yD  
GP1b/n3F1  
h^cM#L^B  
具体要求:探测器 {ymD.vf=9+  
J#MUtpPdQ  
Oo$i,|$$  
\#L}KW  
结果:3D光线追迹 67 ^?v)|  
"OkJPu2!W  
[$$i1%c%Z<  
yoQ}m/Cj  
结果:场追迹 ',~,hJ0  
I vO#tI  
!2=< MO  
eX>x +]l6  
结果:移动样品的场追迹结果 4 1q|R[js!  
it \3-  
x= X"4Mj0)  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 -uX): h!  
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