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infotek 2024-10-24 08:27

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 _8P0iC8Zg#  
4}E|CD/pZ  
任务/系统说明 <F{EZ Ii  
-|YG**i/  
L3/m}AH,  
PUZH[-:c  
亮点 -fKo~\Pr  
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QH7"' u6  
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•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; ? Dm={S6  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; \"Jgs.  
P'MfuTtT&  
具体要求:光源 0N>NX?r  
H3CG'?{ _  
= Lt)15  
-|V1A[  
具体要求:用于准直的消色差透镜 a|S6r-_;s  
i7D[5!  
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b?i5C4=K  
j}u b  
b$FK}D5  
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具体要求:分束器 =`<9N %  
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!r^fX=X>'  
r c++c,=  
具体要求:参考光路反射镜 D]tI's1  
`4IZ4sPi  
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R|D%1@i]  
Ln+;HorZ]  
具体要求:测试光路反射镜 "{9^SPsp  
_\&v A5-  
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(fNG51h!  
具体要求:探测器 Dxvizd>VU  
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Q&5s,)w-  
结果:3D光线追迹 /aV;EkyO,  
~cv322N   
mY= Q#nG  
8yCt(ms  
结果:场追迹 (jmF7XfU  
B)/L[ )S  
qt{lZ_$  
,tTq25~H\  
结果:移动样品的场追迹结果  ^t}1 $H  
%fuV]  
o' EJ,8  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 _.%U}U  
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