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infotek 2024-10-24 08:27

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 7?"9J `*  
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任务/系统说明 cE 2Rr  
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UhBz<>i;!  
4%>+Wh[  
亮点 P|v ?  
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5IO3 %p?  
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•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; G "c/a8  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; 4zwif&  
tB !|p6  
具体要求:光源 H<{*ub4'L*  
eoJFh  
E~qK&7+  
y "<JE<X  
具体要求:用于准直的消色差透镜 .$OjUlzr-H  
BHIM'24bp  
}0krSzcn#,  
ruWye1X;  
$*wu~  
ayN*fiV]  
n/Or~@pHD  
T<_+3kw  
具体要求:分束器 qP@L(_=g  
>&g2 IvDS  
*-+C<2"  
kK08W3@&t  
具体要求:参考光路反射镜 x!Y(Y=i>  
&qG? [R{  
5X#i65_-  
pFG]IM7o/u  
.Ydr[  
0oXK&Z  
具体要求:测试光路反射镜 3#7ENV`  
RT1{+:l  
A3m{jbh  
hYs82P|2Ol  
具体要求:探测器 !^n1  
Cln^1N0  
,M| QN*  
J{a Q1)  
结果:3D光线追迹 x;<oaT$X  
f6@^ Mg  
0-6:AHix  
v#{G8'+%  
结果:场追迹 Cij$GYkv  
oNh68ON:c  
U]+b` m  
`M towXj  
结果:移动样品的场追迹结果 g/fp45s  
"FD<^  
b\<lNE!L  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 <>ZBW9  
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