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infotek 2024-10-24 08:27

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 /[ft{:#&t  
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任务/系统说明 # JY>  
W^S]"N0u  
@v!#_%J  
cS2]?zI  
亮点 MZh?MaBz06  
Fu\#:+5\  
h(3-/4  
?YDMl  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; T &bB8tQk  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; OsVz[wN  
Snp(&TD<<  
具体要求:光源 =UWW(^M#[:  
4d}n0b\d  
Ke]'RfO\  
so| U&`G  
具体要求:用于准直的消色差透镜 gS`Z>+V5!c  
"(kiMo g-  
-mo4`F  
<Lt"e8Z>x  
fA[T5<66  
qK~]au:C  
-%K}~4J  
"{3|(Qs  
具体要求:分束器 {a9.0N:4  
+^J;ic  
LfK/wSvWw  
{i3=N{5b  
具体要求:参考光路反射镜 ">S1,rhgS  
bki:u  
nPl,qcyY  
}#Iqq9[  
aD6!x3c/  
0;*[}M]Z  
具体要求:测试光路反射镜 *"6A>:rQs  
f8UO`*O  
f.E{s*z>  
!1]jk(Z  
具体要求:探测器 KZaiy*>)  
nrXKS&6  
]=/?Ooh  
}jFRuT;35  
结果:3D光线追迹 'P4V_VMK  
O#>,vf$  
6x/o j`_[  
&NbSG+t  
结果:场追迹 CDr0QM4k:.  
/Bk`3~]E>  
jMX|1b  
02(Ob  
结果:移动样品的场追迹结果 #G?",,&dM  
M9(lxu y1  
AUfcf *  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 YdB/s1|G  
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