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infotek 2024-10-24 08:27

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 TeHR,GB  
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任务/系统说明 ^c*'O0y[D  
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亮点 b$hQB090  
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•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 7+fFKZFKF  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; |2Q;SaI^\  
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具体要求:光源 :%R3( &  
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Y:O%xtGi  
具体要求:用于准直的消色差透镜 uv,t(a.^  
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{C [7V{4(%  
7P=j2;7 v  
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vNP,c]:%  
具体要求:分束器 koFY7;_<?  
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具体要求:参考光路反射镜 w _n)*he)z  
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^J?I-LG  
{/N4/gu  
具体要求:测试光路反射镜 bX8Bn0#a+  
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具体要求:探测器 UW!!!  
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9 u{#S}c`  
结果:3D光线追迹 0Db#W6*^  
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G}d@^9FkE  
结果:场追迹 K[O'@v  
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结果:移动样品的场追迹结果 ex1bjM7  
GHfsq|*j,Z  
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通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 1jpcoJ@s  
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