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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 =LsW\.T6  
3 E~d  
任务/系统描述 +( *;F4>  
l$:.bwXXO  
 #hNp1y2  
D+y_&+&,t  
亮点 !GNLq.rQ  
X53TFRxnT  
 T9N&Nh7 3  
Je5UVf3>2&  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ~I+}u]J  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 9aE.jpN  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 LMV0:\>  
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说明：光源 WC?}a^ 8  
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EK-Qa<[|  
Fp`MX>F  
说明：透镜系统 K)h\X~s  
[CfA\-gx<f  
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  F%}0q&  
说明：样品结构 +>F #{b  
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说明：探测器 `wyX)6A|bt  
=Wl*.%1 b  
`$X|VAS2  
R]-$]koQO  
结果：3D光线追迹 fO4e[g;G  
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 P p}N-me>_  
05|,-S  
结果：场追迹矩形光栅 PR&D67:Jy  
+hz^( I7  
f> u{e~Q,  
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结果：场追迹锯齿形光栅 /R_*u4}iD  
 n(mS  
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