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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 T:Hr&ws4  
=aA+~/~8%  
任务/系统描述 | e?64%l5P  
`m>*d!h=  
 wS+ ^K  
. DR<Te  
亮点 OCJnjlV%  
"@d[h,TM  
 qg!|l7e  
HATA-M  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 j!4et;  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 wX[8A/JPD  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 HA`@7I  
vj\dA2!~  
说明：光源 n9A7K$ZD@  
aj}sc/Qa  
.k9{Yv0  
x~{;TZa[I  
说明：透镜系统 .J.-Mm` .  
!{ )tSipd  
}!/$M\w  
 {R61cD,n  
说明：样品结构 T2Y,U {  
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s]mY*@a%  
{]_r W/  
说明：探测器 )\be2^p  
_ozg_E  
x{,q]u /  
+$(2:S*r  
结果：3D光线追迹 IWveW8qJ  
2@~M4YJf  
 6{+{lBm=y  
* U$!I?  
结果：场追迹矩形光栅 ,FMx5$  
z=_Ef3`M  
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 =;|QZ"%E  
结果：场追迹锯齿形光栅 }X_;X_\3;'  
X*Dj[TD]  
s^|.Zr;,>  
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