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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微  *kr/,_K  
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任务/系统描述 ?^|`A}q#  
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亮点 sFU< PgV  
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 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 sXKkZ+2q  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 <,d550GSm  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 a6p0_-MF  
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说明：光源 UK`A:N2[  
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说明：透镜系统 gesbt  
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说明：样品结构 |Q?h"5i"(  
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说明：探测器 OV>& `puL  
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结果：3D光线追迹 fv+]iK<{  
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结果：场追迹矩形光栅 )'shpRB;1  
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结果：场追迹锯齿形光栅 ]4:QqdV  
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