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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 "B__a(  
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任务/系统描述 ]#shuZ##>0  
+76ao7d.  
 nt>3i! l  
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亮点 bvB7d` wx  
Mj>Q V(L8t  
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 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 <Af&Q0J  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 j-/$e,xX  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 lQ^"-zO4  
Jb> X$|N'%  
说明：光源 fGe ie m  
3%9XJ]Qao  
F# 9^RA)9  
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说明：透镜系统 VgbT/v  
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+}udIi3:l  
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说明：样品结构 Zp{K_ec{  
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E Y !o#m  
f\$_^dV  
说明：探测器 +pK35u  
5>S1lyam  
@||nd,i`n~  
w#BT/6W&G  
结果：3D光线追迹 D5Rp<PBq,  
Dby|l#X  
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N8x&<H  
结果：场追迹矩形光栅 PpLh j  
PVxu8n  
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结果：场追迹锯齿形光栅 ?)<zzL",  
S Cn)j:gH;  
4,YL15.  
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