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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 ,); -v4$  
j@C*kj;-  
任务/系统描述 CCp&+LRvR  
\+VQoB/  
 ^Y?Y5`! Q  
Kp?j\67S  
亮点 5sI9GC  
rJUXIV>z  
 ,l7',@6Y  
B0dv_'L}L  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Pt[ b;}  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ~%d*#Yxq  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 mz?1J4rt  
@8"cT-  
说明：光源 -I*NS6  
Z[G:  
wLOS , =  
IZ 3e:  
说明：透镜系统 M TOZ:b  
x A"V!8C  
WeE1 \  
 !7y:|k,ac  
说明：样品结构 (bD'SWE  
P2=u-{?~  
FC }r~syqA  
i8i~b8r]  
说明：探测器 w i=&W  
]B=2r^fn  
8c5%~}kG  
YT\.${N  
结果：3D光线追迹 R/@n+tb e  
,@r 0-gL  
 -cs$E2 -  
l$J2|\M6  
结果：场追迹矩形光栅 *4?%Y8;bF6  
$@@@</VbP  
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 KxUO=v<u  
结果：场追迹锯齿形光栅 ],xvhfZ"dn  
-Ta| qQa  
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