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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 {[tZ.1.w  
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任务/系统描述 %I0}4$  
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亮点 (0}j]p'w  
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Why"G1`  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 D J_DonO]  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 87}(AO)  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Zw24f1iY  
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说明：光源 Pk:zfC?4  
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说明：透镜系统 ?BsH{Q RYQ  
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U(Z!J6{c  
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说明：样品结构  P63 (^R  
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说明：探测器 `M0YAiG  
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结果：3D光线追迹 n.ct]+L  
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结果：场追迹矩形光栅 jzMg'z/@J  
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结果：场追迹锯齿形光栅 2rmNdvvrk  
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