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对高数值孔径显微镜下不同样品研究
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infotek
2024-10-24 08:26
对高数值孔径显微镜下不同样品研究
光学测量>显微
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任务/系统描述
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亮点
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显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析
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对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析
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在光线追迹以及物理光学建模间简单切换
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说明:光源
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说明:透镜系统
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说明:样品结构
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说明:探测器
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结果:3D光线追迹
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结果:场追迹矩形光栅
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结果:场追迹锯齿形光栅
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对高数值孔径显微镜下不同样品研究
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