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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 $uA?c& e  
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任务/系统描述 h48JpZ"  
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 n\nC.|_G@  
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亮点 Fb<r~2  
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 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 "d a%@Zy  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 [TZlvX(E  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 %SRUHx[D  
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说明：光源 -fl?G%:(!0  
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说明：透镜系统 Lp; {&=PIo  
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说明：样品结构 y.AF90Q>)  
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说明：探测器 }]pq&v!  
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结果：3D光线追迹 f>)k<-<yj  
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结果：场追迹矩形光栅 #zC_;u$  
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结果：场追迹锯齿形光栅 'CT 8vt;  
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