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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 mQmn&:R  
bWzv7#dd=  
任务/系统描述 p[BF4h{E  
+Hz});ix<  
 3F'{JP  
lWS @<j  
亮点 4`F(RweGx  
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 'P{0K?{H-4  
+TW9BU'a^  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Ov1$7 r@  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 uGm~ Oo  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 L/1zG/@  
VuqN)CE^Uq  
说明：光源 *<k8H5z8]  
5b X*8H D  
 |4uH  
s BP.P7u  
说明：透镜系统 }qy,/<R  
BrYU*aPW;  
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 Wz)O,X^  
说明：样品结构 (_G&S~@.  
"&jA CI  
XMb]&VvH  
Wbo{v r[2+  
说明：探测器 {awv= s  
P7GuFn/p~2  
c$?(zt ;  
pvL)BD  
结果：3D光线追迹 ~!( (?8"  
4;anoqiG\  
  zjVBMqdD  
40TS=evG  
结果：场追迹矩形光栅 ZH8O%>!  
'<N^u@tF7  
H/8H`9S$  
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结果：场追迹锯齿形光栅 FEqs4<}E  
-2NXQ+m ;  
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