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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量>显微 oECM1'=Bf  
@\~qXz{6J  
任务/系统描述 /t "p^9!^  
C):RE<X  
[,GXA)j  
T9 @^@l$  
亮点 iz|mJUx  
_ F0qq j  
W@S'mxk#*  
NW-l_]k  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 6k#H>zY,  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 WA);Z=  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 tykA69X\W  
%}z/_QZ  
说明:光源 6r"PtHr  
OtopA)  
4fDo}~  
;bt@wgY  
说明:透镜系统 cQ4TYr;?  
1'|6IR1'  
`_2#t1`u  
9"yBO`  
说明:样品结构 Z=: oIAe  
Pn{yk`6E  
E(G=~>P  
^q"wd?((h  
说明:探测器 $s2-O!P?  
(xU+Y1*g"%  
o z } p]l7  
1SBc:!2  
结果:3D光线追迹 9Ao0$|@b  
v{rc5 ]\R  
>Kl78w:  
.?SClTqg  
结果:场追迹矩形光栅 $XS0:C0  
~qNpPIrGr  
$ Z;HE/ 3  
;(w=}s%]+  
结果:场追迹锯齿形光栅 hp(n;(OR  
X$JO<@x  
,8( %J3J  
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