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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 pTQ7woj}  
Nsy>qa7  
任务/系统描述 bneP>Bd  
0a?[@ -Sz  
 5=<fJXf5y  
sN[<{;K4  
亮点 q 3,p=ijJ  
!9C]Fs*`?  
 s?sr0HZ  
t]t(/x#  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 w &^Dbme  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 0*OK]`9  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 -k,}LJjo  
d8jP@>  
说明：光源 mk-L3H1@J3  
(:# 4{C  
!q+ %]k?x  
O,&p"K&Z  
说明：透镜系统 z[+pN:47  
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 DQ6pe)E|  
说明：样品结构 }WNgKw  
7&dPrnQX=  
fJ-8$w\uL  
Zg;Ht  
说明：探测器 9jUm0B{?  
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&2Cu"O'.i  
m,]h7xx  
结果：3D光线追迹 f;W>:`'  
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 ;fY)7 '  
j98>Jr\  
结果：场追迹矩形光栅 A$'rT|>se  
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 X@7e 7  
结果：场追迹锯齿形光栅 j0K}nS\ P  
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