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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 x9VR>ux&  
UBve a(z-#  
任务/系统描述  w#\*{EN  
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亮点 UFY_.N~  
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 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Kn+m9  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 HCTjFW>C  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 0NMekVi  
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说明：光源 @ 80Z@Pj  
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*P}v82C N  
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说明：透镜系统 Km9Y_`?  
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说明：样品结构 S.X*)CBB  
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说明：探测器 WYklS<B[  
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结果：3D光线追迹 0kdPr:B Q0  
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 =Vm"2g,aA  
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结果：场追迹矩形光栅 xVn"xk  
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结果：场追迹锯齿形光栅 {q-<1|xj/J  
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