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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 kMi/>gpQ  
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任务/系统描述 g{OwuAC_  
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亮点 [uC ]*G]  
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ZSjMH .Ij"  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 /uPcXq:L~  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 m0ER@BXRn  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Ta ?_5  
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说明：光源 U}yW<#$+  
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说明：透镜系统 0^I|u t4  
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说明：样品结构 & ?h#Z!  
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说明：探测器 +giyX7BPJ  
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结果：3D光线追迹 Oft-w)cYz,  
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结果：场追迹矩形光栅 w~(1%p/  
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结果：场追迹锯齿形光栅 %`>nS@1zp  
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