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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 !,I}2,1%k  
zfv l<"Rv  
任务/系统描述 UoBu0Rx  
P,*R@N  
 kELV]iWb  
7kj#3(e  
亮点 wG -X833\(  
" Z#&A  
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$Y>LUZ)b&8  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ;ML21OjgN  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ``0knr <  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 tEZ@v(D  
^e)KEkh  
说明：光源 k;q|pQ[  
c"6<p5j!  
~%>ke  
L`3 g5)V  
说明：透镜系统 "Bn!<h}mg  
>f74]J=V  
yX<Sk q  
 S9U`-\L0  
说明：样品结构 e=Kf<ZQt  
{rf.sN~M  
c?>@P  
IL*C/y  
说明：探测器 &Z#g/Hc  
@tR:}J*9s  
~~;J[F p  
~*ST fyFw  
结果：3D光线追迹 r3{Cuz  
Q6]SsV?x  
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'MVE5  
结果：场追迹矩形光栅 LJ\uRfs  
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 MV'q_{J  
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结果：场追迹锯齿形光栅 U\s.fIr  
4|ML#aRz  
*QH@c3vUe\  
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