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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 T8n-u b<  
I4)Nb WQ  
任务/系统描述 "JkZJ#  
K7IyCcdB  
 wms1IV%;  
v&xKi>A il  
亮点 NQ? x8h3  
z|ves&lRa  
 Hu[]h]  
ZP"yq6!i  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 [#p&D~Du&  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 6wPeb~{  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 vXephR'  
wGPotPdE2  
说明：光源 ],n%Xp  
,Ij=b  
+%P t_  
n ]w7Zj  
说明：透镜系统 <}d/v_+pnh  
v"rl5x  
!g8*r"[UJ  
 d7* CwY9"  
说明：样品结构 `h?LVD'l  
5O&d3;p'  
N/K=Ygv.  
C1d 04Q  
说明：探测器 5.w iTy  
L[rpb.'FG  
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R*087X7 N|  
结果：3D光线追迹 U IfH*6X  
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 6 *Zj]is  
gQy~kctQ#  
结果：场追迹矩形光栅 H)E^!eo  
u)v$JpNE  
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结果：场追迹锯齿形光栅 e&0NK8&#+  
V$(/0mQV(  
l7z 6i*R  
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