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infotek 2024-10-14 08:57

线下课程——薄膜设计与镀膜工艺(12月4~6日)上海

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课程编号CS240016                                                                             0ITA3v8{  
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时间地点 HwW[M[qA  
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主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司;苏州黉论教育咨询有限公司 x;FO|fH  
授课时间:2024年12月4 (三)-6(五)共3天  AM 9:00-PM 16:00 *OOa)P{^D  
授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 x_y>j)  
课程讲师:讯技光电高级工程师&资深顾问 n5k^v $'  
课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐) z]l-?>Zbg  
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特邀专家介绍 <]Pix )  
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易葵:中国科学院上海光机所正高级工程师,主要从事光学薄膜设计、制备工艺和测试相关方面的研究工作,尤其是在高功率激光薄膜、空间激光薄膜、X射线多层膜、真空镀膜技术与薄膜制备工艺研究等方面有较为深入的研究。获得国家技术发明奖二等奖、上海市技术发明奖一等奖、上海市科技进步二等奖、军队科技进步二等奖等奖项,入选2014年度中科院“现有关键技术人才”。 [wio/wc  
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课程简介 "UoCT7X  
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随着现代科技的飞速发展,光学薄膜的应用越来越广泛。光学薄膜的发展极大地促进了现代光学仪器性能的提高,其种类非常广泛,如增透膜,高反膜,分光膜,滤光片等,光学薄膜器件如今已经广泛应用到光通信技术、光伏产业技术、激光技术、光刻技术、航空航天技术等诸多领域。本次课程第一天主要为国际知名的光学薄膜分析软件Essential Macleod的使用,第二天为各种类型的光学薄膜的设计模拟方法,前两天主讲人为讯技光电高级工程师,第三天特别邀请上海光学精密机械研究所专家易葵,分享光学薄膜制备工艺、激光薄膜关键技术以及光学薄膜的测量方法等相关内容。 ?X_0Iy}1  
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课程大纲 y>7VxX0xi  
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1. Essential Macleod软件介绍1.1 介绍软件 i[ Gw 7'f  
1.2 创建一个简单的设计1.3 绘图和制表来表示性能 |T$a+lHMD  
1.4 通过剪贴板和文件导入导出数据1.5 可用的材料模型(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann) i. u15$  
1.6 特定设计的公式技术1.7 交互式绘图 1x\W52 1  
2. 光学薄膜理论基础2.1 垂直入射时的界面和薄膜特性计算 dVVvG]  
2.2 后表面对光学薄膜特性的影响3. 材料管理 +wz`_i)!  
3.1 材料模型3.2 介质薄膜光学常数的提取 Sa[EnC  
3.3 金属薄膜光学常数的提取3.4 基板光学常数的提取 j |'# 5H`  
4. 光学薄膜设计优化方法4.1 参考波长与g v[, v{5b  
4.2 四分之一规则4.3 导纳与导纳图 P96Cw~<Q?  
4.4 斜入射光学导纳4.5 光学薄膜设计的进展 yToT7 X7F7  
4.6 Macleod软件的设计与优化功能4.6.1 优化目标设置 HV*:<2P%D  
4.6.2 优化方法(单一优化,合成优化,模拟退火法,共轭梯度法,准牛顿法,针形优化,差分演化法)4.6.3 膜层锁定和链接 qN1e{T8u  
5. 光学薄膜系统设计与分析案例与应用5.1 减反射薄膜 U-~*5Dd  
5.2 分光膜5.3 高反射膜 U| 41u4)D  
5.4 干涉截止滤光片5.5 窄带滤光片 XgiI6-B~  
5.6 负滤光片5.7 非均匀膜与Rugate滤光片  g`)/x\  
5.8 仿生蛾眼/复眼结构5.9 颜色膜 KtfkE\KP  
5.10 Vstack薄膜设计示例5.11 Stack应用范例说明 dEQReD  
6. 薄膜性能分析6.1 电场分布 "]SJbuzh  
6.2 公差与灵敏度分析6.3 反演工程 f>s#Ngvc  
6.4 均匀性,掺杂/孔隙材料仿真7. 真空技术 SrQ4y`?  
7.1 常用真空泵介绍7.2 真空密封和检漏 6"7:44O;G  
8. 薄膜制备技术8.1 常见薄膜制备技术 f0cYvL ]  
9. 薄膜制备工艺9.1 薄膜制备工艺因素 $LxG>db  
9.2 薄膜均匀性修正技术9.3 光学薄膜监控技术 PtRj9TT  
10. 激光薄膜10.1 薄膜的损伤问题 1F3QI|  
10.2 激光薄膜的制备流程10.3 激光薄膜的制备技术 %;=IMMK  
11. 光学薄膜特性测量11.1 薄膜光谱测量 9{9#AI.G  
11.2 薄膜光学常数测量11.3 薄膜应力测量 uGP[l`f|FQ  
11.4 薄膜损伤测量11.5 薄膜形貌、结构与组分分析 %)<oX9E  
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天蓝色3230 2024-10-14 21:59
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