| infotek |
2024-09-19 07:57 |
马赫-曾德尔干涉仪
摘要 J&
1X '=KuJ0`nE9 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 l*~"5f03 jXc5fXO
N 建模任务 #N<s^KYG- L-^# 02 ~5-~q0Ge 元件倾斜引起的干涉条纹 P&qy.0 ?q+8 /2
9itdRa== 元件移位引起的干涉条纹 U'JP1\ >VpP/Qf
|
|