infotek |
2024-09-19 07:57 |
马赫-曾德尔干涉仪
摘要 aC3Qmo6?m ,}^FV~ 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 }?6gj%$c H96|{q= 建模任务 A4)TJY
3g |-]'~@~ EiPOY' 元件倾斜引起的干涉条纹 RV@mAw.T dp }zG+
}(#;{_ 元件移位引起的干涉条纹 );xTl6Y9 ( n!8>>+1C
|
|