| infotek |
2024-07-24 07:54 |
高NA (数值孔径)物镜的分析
高NA(数值孔径)物镜常用于光学显微及光刻，并已广泛在其他应用中得以使用。众所周知，在高数值孔径物镜的使用中，电磁场矢量特性的影响是不可忽略的。一个众所周知的例子就是由高NA(数值孔径)物镜聚焦线性偏振圆光束时，焦斑的不对称性:焦斑不再是圆的，而是拉长的。我们通过具体的物镜实例来说明了这些效应，并演示了如何在VirtualLab Fusion中使用不同的探测器分析焦斑。 Ge$& k
~=wBF
高数值孔径物镜的聚焦分析 N
cHCcc
高数值孔径(NA)物镜广泛用于光学光刻、显微系统等。在对焦斑的模拟中考虑光的矢量性质是非常重要的。 tc;$7F ;
ed ,+Sl g
高数值孔径(NA)物镜系统的先进点扩散函数计算 ^?%ThPo_
当线性偏振高斯光束经高数值孔径(NA)非球面透镜聚焦时，由于矢量效应，焦平面上的PSF呈现非对称性。 l$BKE{rg
z =k*D^X
|
|
