首页
->
登录
->
注册
->
回复主题
->
发表主题
光行天下
->
讯技光电&黉论教育
->
马赫泽德干涉仪
[点此返回论坛查看本帖完整版本]
[打印本页]
infotek
2024-07-18 08:12
马赫泽德干涉仪
摘要
PuyJ:#a
FKhmg&+>
(C{l4
kw,eTB<;R
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。
S0-f_,(
kn2s,%\`<p
建模任务
SrlTwcD
\VQv "wid
Udj!y$?
aU&p7y4C@
由于组件倾斜引起的干涉条纹
kD_Ac{{<
']Q4SB"q
H&$L1CrdL
mab921-n
由于偏移倾斜引起的干涉条纹
*`D}voU
c~1+5&
)Z4ilpU,
查看本帖完整版本: [--
马赫泽德干涉仪
--] [--
top
--]
Copyright © 2005-2025
光行天下
蜀ICP备06003254号-1
网站统计