首页
->
登录
->
注册
->
回复主题
->
发表主题
光行天下
->
光学薄膜设计,工艺与设备
->
镀膜后环测双85实验,外观有水渍点无法去除,什么原因?
[点此返回论坛查看本帖完整版本]
[打印本页]
chenliang1990
2024-06-24 11:54
镀膜后环测双85实验,外观有水渍点无法去除,什么原因?
镀膜设备,光驰OTFC,工艺条件:Ta2O5+SIO2, 温度:320℃,射频源
:*&c'
[attachment=129112]
*l4[`7|
I |c!:4
[attachment=129111]
ouyuu
2024-07-15 16:21
两个可能。1,离子源的中和电流不够,导致膜内有电荷积聚,调大中和电流试试。
_Y;tD
2,片子洗净的问题,镀前用离子源多轰一下,看看有没有改善。
|&{S ~^$
Su7N ?X!
另外中和器偶尔的打火也有可能造成电荷积聚,但这个不会每炉都会实现。
6pSTw\/6
renlgj
2024-07-18 19:11
学习中,谢谢楼上各位
查看本帖完整版本: [--
镀膜后环测双85实验,外观有水渍点无法去除,什么原因?
--] [--
top
--]
Copyright © 2005-2025
光行天下
蜀ICP备06003254号-1
网站统计