| infotek | 2024-06-17 08:00 |
用于光波导系统的均匀性探测器在评估AR/MR(增强或混合现实)设备中光波导系统的性能时，眼动范围内光线分布的横向均匀性是最关键的参数之一。为了在设计过程中测量和优化横向均匀性，VirtualLab Fusion提供了均匀性探测器，可以进行所需的研究。在本文件中，我们将演示可用的选项以及如何操作均匀性探测器。  案例演示  均匀性探测器  探测器功能：相干参数 如果存在多个相干模式，则重叠的模可以相干叠加、非相干叠加或部分相干叠加。 对于部分相干叠加，可以通过输入相干时间(或从相干时间和长度计算器复制)来指定相干程度。  探测器功能：光瞳参数 均匀性探测器评估在配置的局部区域(称为光瞳)的照射强度。 每个光瞳由其大小(dx×dy)和形状定义，可以设置为椭圆形或矩形。  椭圆形光瞳：  矩形光瞳：  探测器功能：光瞳位置 一旦设置了所考虑的光瞳的大小和形状，则必须配置探测器窗口中的光瞳数量和位置。 第一个选项是，根据每个单独足迹的中心光线自动确定光瞳的位置。 探测器只会将光瞳放置在所有光瞳都在探测器窗口内的位置。所有其他部分足迹将被忽略。  基于中心光线的光瞳位置示例  探测器功能：光瞳位置  排列在网格上的光瞳位置示例  注：虚线圆圈仅用于演示光瞳，用户不会在模拟中看到它们 眼箱中横向均匀性的测量  均匀性探测器输出  均匀性探测器输出示例  |
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