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2024-05-13 07:54 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 !W~QT} 7|Xe&o<n 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 UoHd - W+K.r?G<j [attachment=128507] )(lJT&e 1\y@E 建模任务 _W}(!TKO $T?]+2,6;
[attachment=128508] &8n? 仿真干涉条纹 "oe!M'aj`1 *!w25t
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5[d −基本光源模型[教程视频] rI>LjHP •使用导入的数据自定义表面轮廓 ke\[wa_!6b •定义元件的位置和方向 7E\g
&R. − LPD II:位置和方向[教程视频] 4gb'7' •正确设置通道以进行非序列追迹 AuXs B −非序列追迹的通道设置[用例] (0R2T"/ •使用参数运行检查影响/变化 +(&|u q^ −参数运行文档的使用[用例] l|q%%W0 BPewc9RxV [attachment=128511] `7\H41%\pp Z9VR]cf? VirtualLab Fusion技术 ?A&%Cwj SO_>c+Dw
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