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2024-05-13 07:54 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 {:bN/zV# 8.QSqW7t 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 ]]2k}A[-I <^8*<;PaG [attachment=128507] "$| Zr ?qmp_2:WU 建模任务 +Rwx%= m|O1QM;T
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