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2024-05-13 07:54 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 |YMzp8Da( m(Pz7U.Q 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 AqTR.}H ;5zjd, [attachment=128507] _%C_uBLi @8T
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[attachment=128508] n:{-Vvt 仿真干涉条纹 A@fshWrl% "1=.5:yG
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