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2024-05-13 07:54 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 S+r^B?a<oM 4Rx~s7l 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 nE_Cuc>K\ z<!O!wX_aI [attachment=128507] :vpl+)n I?B,sl_w 建模任务 @Tm`d ?^ cS4DN
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