利扬芯片“一种基于FPGA的光学芯片测试装置和方法”专利公布

据国家知识产权局公告，利扬芯片新获得一项发明专利授权，专利名为“一种基于FPGA的光学芯片测试装置和方法”，专利申请号为 CN202110810588.7，授权日为 2024 年4月19日。
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专利摘要：本发明公开一种基于 FPGA 的光学芯片测试装置及方法，本发明利用 FPGA 板分析来自上位机的测试激励指令，以配置芯片的工作状态；在芯片生成测试数据后，FPGA 板处理接收到的测试数据以生成测试结果，并将测试结果发送至上位机。本发明通过在 FPGA 板上完成测试配置数据的生成、测试数据的处理以及测试结果的生成，不需要将大量测试数据返回上位机作处理，精简了传输的测试数据，只需要 FPGA 板将测试结果传输至上位机显示即可，大大地减少了数据传输时间，提高了测试效率。由于 ATE 价格昂贵，采用 FPGA 板替代 ATE 减少了测试成本。