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2024-04-11 07:55 |
分析高数值孔径物镜的聚焦特性
摘要 jaoZ}}V_$
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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此，在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析，可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场，也可以深入研究矢量效应。 _RIU,uJs
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建模任务 nONuw;K
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概述 y74Q (
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•案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Pm/<^z%
•接下来，我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 z0 9Gp}^;
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光线追迹仿真 Y7t#)?
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•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 wp?:@XM
•单击go！ N
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•获得了3D光线追迹结果。 D]@(L bMG4
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光线追迹仿真 N1'`^a y$
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•然后，选择“光线追迹”作为模拟引擎。 gnp.!-
•单击go！ |*{*tW C1
•结果得到点图（二维光线追迹结果）。 MLdwf}[
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场追迹仿真 Usf@kVQ
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•切换到场追迹，然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 1ubu~6
•单击go！ x $LCLP#$H
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场追迹仿真（相机探测器） P'<i3#;7X
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•上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 )O[8 D
•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度：由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大，因此可见明显的不对称性。 u2#q7}
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场追迹仿真（电磁场探测器） e1Db
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•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 a OmG, +o
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场追迹仿真（电磁场探测器） v^&HZk=(
Mk*4J]PP
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 e i=
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[attachment=127815]
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