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infotek 2024-04-11 07:55

分析高数值孔径物镜的聚焦特性

摘要 {HJ`%xN|  
Er+3S@sfq,  
高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 z?) RF[  
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[attachment=127807] &u`rE""  
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建模任务 6_}){ZR  
MKh L^c-  
[attachment=127808] u.K'"-xt4K  
概述 &8YI)G%  
yLa5tv/  
•案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 NVh>Q>B$_  
•接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ^)P5(fJ  
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[attachment=127809] .$s|T  
;NVTn<Uj  
光线追迹仿真 ppo$&W &z  
`&Of82*w  
•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 `r0 qn'*  
•单击go! g8qAJ4  
•获得了3D光线追迹结果。 ^A$XXH '  
X%\6V;zR#  
[attachment=127810] exMPw ;8  
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光线追迹仿真 U,3K6AZA 7  
`[u>NEb  
•然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 MKYE]D;  
•单击go! K~~*M?.Z  
•结果得到点图(二维光线追迹结果)。 [-94=|S @  
&IPK5o,  
[attachment=127811] FbNQ  
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场追迹仿真 ~ilBw:L-3  
2X |jq4  
•切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ]qG5 Ne _  
•单击go!  G/;aZ  
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[attachment=127812] hQLx"R$  
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场追迹仿真(相机探测器) "YU~QOGx@  
EC\:uK  
•上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 -r0\  
•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 6#63D>OWp  
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[attachment=127813] e$|)wOwU  
!x / Z"  
场追迹仿真(电磁场探测器) +GtGyp  
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 %SFR.U0}yK  
' "p*FN  
[attachment=127814] <g1hdF0  
on&=%tCAL  
场追迹仿真(电磁场探测器) KvOI)"0(  
L. ?dI82c  
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 qCT\rZU  
tce8*:rNH  
[attachment=127815]
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