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2024-04-11 07:55 |
分析高数值孔径物镜的聚焦特性
摘要 '/U[ ui0{
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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此，在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析，可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场，也可以深入研究矢量效应。 `,d*>
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建模任务 [ hA%VF.9
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概述 *JE%bQ2Q
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•案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 S-{ [3$
•接下来，我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 R;&C6S
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光线追迹仿真 a AZS^S4v
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•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 =LV7K8FSd
•单击go！ /^ ^t> L
•获得了3D光线追迹结果。 ,d n9 tY3
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光线追迹仿真 CY#|VE M
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•然后，选择“光线追迹”作为模拟引擎。 &C<K|F!j!
•单击go！ z(2pl}
•结果得到点图（二维光线追迹结果）。 B *7Y5_N
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场追迹仿真 E^w2IIw
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•切换到场追迹，然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 .?R~!K{`
•单击go！ K}"xZy Tm1
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场追迹仿真（相机探测器） 0fwmQ'lW(
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•上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 n&ZA rJ
•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度：由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大，因此可见明显的不对称性。 g^|}e?
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场追迹仿真（电磁场探测器） C'&)""3d
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 VuA7rIF$66
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场追迹仿真（电磁场探测器） abiZ"?(
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•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 &_Kb;UVRj
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