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infotek 2024-04-11 07:55

分析高数值孔径物镜的聚焦特性

摘要 {13!vS%5  
BF8"rq}r0  
高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 >qn/<??  
Qu%D  
[attachment=127807] 5V-jMB  
{SG>'KXZ  
建模任务 VjbG(nB?_  
49 }{R/:  
[attachment=127808] b X)|MiWI  
概述 0O2n/`'  
4p)e}W*  
•案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 h<p3'  
•接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 dl l%4Sd  
R9r+kj_  
[attachment=127809] rUwE?Ekn/  
N dR ]  
光线追迹仿真 lQ*eH10H  
#Ogt(5Sd  
•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 tSv0" L  
•单击go! 3gfimD$_E  
•获得了3D光线追迹结果。 zW4 O4b$T  
gbOCR1PBg  
[attachment=127810] GVd48*  
EZ#gp^$  
光线追迹仿真 6~5$s1Yc  
&1)xoZ'\  
•然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 #iis/6"  
•单击go! $V8vrT#:  
•结果得到点图(二维光线追迹结果)。 K5ZnS`c;  
IftxSaP  
[attachment=127811] "dN < i  
@R:#"  
场追迹仿真 +lp{#1q0  
73DlRt *  
•切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 @?2n]n6  
•单击go! )teFS %  
t&c&KFK)I&  
[attachment=127812] dc^Vc{26Z  
aqQ o,5U>  
场追迹仿真(相机探测器) BpT"~4oV5  
rFXSO=P?Z  
•上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 sp8[cO=  
•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 {HZS:AV0  
R40W'N 1%q  
[attachment=127813] F +j O*F2h  
(zah890//  
场追迹仿真(电磁场探测器) ]G1R0 Q  
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 l L2-.!]R  
[V< 1_zqt  
[attachment=127814] &d 3HB=x  
J%r7<y\  
场追迹仿真(电磁场探测器)  [y{E  
:QA@ c|(PF  
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 x*mc -&N  
T8q[7Zn  
[attachment=127815]
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