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2024-04-09 08:06 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 O'B3s y p[o]ouTcS 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 y\j[\UZKO ]KEE+o [attachment=127754] ovOV&Zt \BH?GMoP 建模任务 PYC @GD $KR9
[attachment=127755] BJ]L@L% 仿真干涉条纹 Y'jgp Vt yUf`L=C:
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+_dr^4 VirtualLab Fusion中的工作流程 U\ ,N 'hPW#*#W< •设置输入场 *g
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