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2024-04-09 08:06 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 z?FZu,h} oLB pG1Va 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 <}.)kg${O }RW4 [attachment=127754] e`8z1r }1Wo#b+ 建模任务 0D0 #*J o3}12i S
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w|z^ •定义元件的位置和方向 eYR/kZ%< − LPD II:位置和方向[教程视频] bu@Pxz%_ •正确设置通道以进行非序列追迹 =oiY'}%(i −非序列追迹的通道设置[用例] ZFrK'BvbR •使用参数运行检查影响/变化 w&C SE −参数运行文档的使用[用例] L{
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