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2024-04-09 08:06 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 r95zP]T /`+7_=- 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 POGw`:)A bUvK [attachment=127754] )zJ=PF _^T}_ 建模任务 =kFuJ
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[attachment=127755] 2R`u[ 仿真干涉条纹 _A-V@%3 &O tAAE
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ka Qp!J:YV •设置输入场 A,c'g}: −基本光源模型[教程视频] #:{6b*} •使用导入的数据自定义表面轮廓 O5;-Om •定义元件的位置和方向 ;r!\-]5$ − LPD II:位置和方向[教程视频]
cht •正确设置通道以进行非序列追迹 .B$h2#i1 −非序列追迹的通道设置[用例] a8JN19}D •使用参数运行检查影响/变化 @^CG[:| −参数运行文档的使用[用例] QymD-A"P :[?!\m%0 [attachment=127758] Wc;+2Hl[@ 'v`_Ii|- VirtualLab Fusion技术 F5IZ"Itu( Wk[)+\WQ?
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