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2024-04-09 08:06 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 Z0:BXtW ibAA:I,d 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 |kd^]!_ 7,4x7! [attachment=127754] &
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•定义元件的位置和方向 \[&]kPcDl − LPD II:位置和方向[教程视频] v uP1gem •正确设置通道以进行非序列追迹 oEN_,cUp −非序列追迹的通道设置[用例] $d=lDN •使用参数运行检查影响/变化 d]^i1 −参数运行文档的使用[用例] k$>T(smh k);!H + [attachment=127758] )?WoLEjq 8HOmWQS VirtualLab Fusion技术 IW#(ICeb ;:4puv+]
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