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2024-04-09 08:06 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 y|e@z f AMm)E 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 ?JinX'z zj+.MG04 [attachment=127754] 1
po.Cmx c^?+"7oO0 建模任务 Zdm7As] "P@jr{zvMd
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w − LPD II:位置和方向[教程视频] GjfPba4> •正确设置通道以进行非序列追迹 4dgo*9 −非序列追迹的通道设置[用例] \a.^5g •使用参数运行检查影响/变化 &Se!AcvKF −参数运行文档的使用[用例] BKfkB[*F G|h@O' [attachment=127758] c=52*& 7@6B\':
VirtualLab Fusion技术 hbOyrjanx .EXe3!J)!
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