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2024-04-09 08:06 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 5EDHJU> 3S1V^C-eBx 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 1Lz`.%k`: q88p~Ccoa [attachment=127754] ;5^grr@,4 UXD?gK1 建模任务 C>7Mx{ !H t+}@J}b
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