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infotek 2024-03-21 07:59

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 /[EI0 ~P  
R~Xl(O  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 ,9+@\  
U}Hmzb  
[attachment=127210] #lVVSrF,-  
,sLV6DM  
1. 案例 t9P` nfY  
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[attachment=127211] 2EE#60  
\-sD RW  
在VirtualLab Fusion中构建系统 H uE*jQ  
[9+M/O|Vs  
1. 系统构建模块 i!,>3  
T@Q.m.iV4  
[attachment=127212] r2&{R!Fj`  
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2. 组件连接器 R`$Odplh>  
y5R6/*;N.  
[attachment=127213] d0N7aacY  
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几何光学仿真 #vS>^OyP  
'x6Mqv1W  
以光线追迹 z-,U(0 .  
aX  ?ON  
1. 结果:光线追迹 \j K?R 6  
}Rt<^oya*  
[attachment=127214] J\ 3~  
.+M4P i  
快速物理光学仿真 j4NS5  
].1R~7b  
以场追迹 cxmr|- ^  
ke/o11LP  
1. NA=1.4时的光栅成像 !A<?nz Uv  
EIf~>AI  
[attachment=127215] dB1bf2'b#  
'vCFT(C-  
2.  NA=0.75时的光栅成像 b1s1;8Q  
rP>5OLP  
[attachment=127216] *np%67=jO  
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3. NA=0.5时的光栅成像 ^,`yt^^A  
   #U6Wv1H{Lp  
[attachment=127217]
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