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infotek 2024-03-21 07:59

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 q[6tvPfkX  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 j2V"w&>b}  
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1. 案例 08J[9a0[  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 h28")c.pH=  
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1. 系统构建模块  %2 A-u  
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2. 组件连接器 >s 4"2X  
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几何光学仿真 Tr}z&efY  
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以光线追迹 Y ^s_v_s  
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1. 结果:光线追迹 ]_Cm 5Z7  
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快速物理光学仿真 iD*%' #u  
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以场追迹 cT2&nZ  
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1. NA=1.4时的光栅成像 K U 2LJ_~Y  
4*k>M+o/C4  
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vNMndo!  
2.  NA=0.75时的光栅成像 L-&N*   
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3. NA=0.5时的光栅成像 xC3h m  
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