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infotek 2024-03-21 07:59

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 f@G3,u!]i  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 <Z0N)0|  
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1. 案例 "s?!1v(v  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 7KB:wsz^  
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1. 系统构建模块 /4Df 'd  
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2. 组件连接器 }mhD2'E  
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几何光学仿真 @P$_2IU"  
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以光线追迹 vWGjc2_  
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1. 结果:光线追迹 hwon ^?  
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*.+Eg$'~V  
快速物理光学仿真 @D'NoA@1A  
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以场追迹 _NkVi_UX  
Wej'AR\NX  
1. NA=1.4时的光栅成像 8M"0o}wx  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 X AnN<  
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3. NA=0.5时的光栅成像 RKt#2%FFO  
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