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infotek 2024-03-21 07:59

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 TTo5"r9I 8  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 D3x W?$Z  
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1. 案例 g]U! ]  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 ]%[.>mR  
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1. 系统构建模块 F*=}}H/  
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2. 组件连接器 v.Xmrry  
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[attachment=127213] K<fB]44Y  
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几何光学仿真 Zmy:Etqi  
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以光线追迹 =p&uQ6.i+  
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1. 结果:光线追迹 W" 1=K] B  
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[attachment=127214] K b z|h,<  
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快速物理光学仿真 89J7hnJC  
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以场追迹 n4 J*04K  
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1. NA=1.4时的光栅成像  y-)5d  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 `yrJ}f  
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3. NA=0.5时的光栅成像 ^q/_D%]C  
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[attachment=127217]
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