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infotek 2024-03-21 07:59

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 FJW`$5?  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 rrYp'L  
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1. 案例 )S#j.8P'B  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 +B](5z4  
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1. 系统构建模块 2}597Hb   
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2. 组件连接器 P&h/IBA_  
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几何光学仿真 p?_'|#tz  
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以光线追迹 p_A5C?&  
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1. 结果:光线追迹 -aC!0O y`  
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快速物理光学仿真 (R,NV3m?w  
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以场追迹 (/To?`  
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1. NA=1.4时的光栅成像 =%:JjgKc*t  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 R (t!xf  
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3. NA=0.5时的光栅成像 rE!G,^_{  
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