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infotek 2024-03-21 07:59

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 t!=qt*  
F K7cDaI  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 m{ wk0  
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[attachment=127210] TR<M3,RG#%  
yb-1zF|  
1. 案例 c\Z.V*o  
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[attachment=127211] 3} 7`?$ 5  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 8gHOs#\  
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1. 系统构建模块 yd}1Mx  
~6Xr^An/Z  
[attachment=127212] D2y[?RG  
o]@Mg5(8Q  
2. 组件连接器 n@JZ2K4  
(^G @-eh  
[attachment=127213] FxFRrRRH@  
qk{+Y  
几何光学仿真 A_4.>g  
8v ZY+Q >  
以光线追迹 baO'FyCs9&  
NimW=X;c  
1. 结果:光线追迹 d:L|BkQ7*  
LmZ"_  
[attachment=127214] tP. jJC~  
V0/PjD,jP  
快速物理光学仿真 /$U< S"  
m ]h<y  
以场追迹 MQY}}a-oug  
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1. NA=1.4时的光栅成像 F1q6 3  
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[attachment=127215] +V` *  
?'IY0^  
2.  NA=0.75时的光栅成像 Q H 57[Yg  
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[attachment=127216] Ncr*F^J4  
u85  dG7  
3. NA=0.5时的光栅成像 $`&zIz  
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[attachment=127217]
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