| infotek |
2024-02-29 15:28 |
3月线下培训课程——杂散光整体解决方案课程
时间地点主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司 o.V
JnrJ 授课时间:2024/3/15(五)-3/17(日)共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 #e1iYFgS 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 N*+WGsxl$z 课程讲师:讯技光电高级工程师 c]"w0a-`^@ 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) S0ltj8t 课程简介杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与软件,BSDF 与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。课程分为两部分,第一部分:杂散光分析与控制技术(2.5 天),第二部分:角分辨散射光测量技术(0.5 天) ;rV+eb)I 1. 杂散光介绍与术语 0"Zxbgu) 1.1 杂散光路径 .>S1do+ 1.2 关键面和照明面 IaKJ W? 1.3 杂光内部和外部杂散光 *BvdL:t 2. 基本辐射度量学-辐射 p0PK-e`@: 2.1 BSDF 及其散射模型 bXA%|7* 2.2 TIS 总散射概念 F$i 6 2.3 PST(点源透射比) n@6vCdk. 3.杂散光分析中的光线追迹 n2|@Hz_ 3.1FRED软件光线追迹介绍 xVRxKM5 { 3.2构建杂散光模型 G cB<i 定义光学和机械几何 (}s& 84! 定义光学属性 gf}*}8D 3.3光线追迹 Sjo-Xf} 使用光线追迹来量化收敛速度 dKhS;!K9p 重点采样 Q(O0z3 b 反向光线追迹 '}:(y$9.` 控制光线Ancestry以增加收敛速度 a^_W}gzzd 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 nm_4E8&X 使用GPU来进行追迹 pH(X;OC9S RAM内存使用设置 Z?'?|vM 4.散射模型 ev4_}! 4.1来自表面粗糙的散射 8l'W[6 低频、中频、高频 U.h2 (-p RMS粗糙度与BSDF的关系 ]Inu'p\ 由PSD推导BSDF }R%*J 拟合BSDF测量数据 hj{)6dBX% 4.2来自划痕(光学损伤坑)的散射 }^VikT]>1 4.3来自颗粒污染的散射 KT+{-"4- 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论) XN{WxcZ 颗粒密度函数模型 s3 fQGbU 案例:计算激光通过金属粉尘的吸收 f>e0l'\ 4.4来自黑处理表面的散射 .jiJgUa7 4.5孔径衍射 f'*/IG 杂散光程序中的孔径衍射 )l/
.<`| 衍射元件的衍射特性 tx)$4 v 案例:衍射杂散光分析 CIf@G>e- 5.大气湍流散射 YV} "# 6热辐射 #f%fY%5q 红外热辐射的杂散光分析 D!ASO] 冷反射仿真 5z2("[8L& 7. 鬼像反射 K;w2qc.+ 鬼像反射 <L<^uFB 表面镀膜 s0:M'wA 表面镀 AR 增透膜的仿真 dp&G([ 8. 光学设计中的杂散光控制 F1BXu@~e( 8.1 使用视场光阑
1.PN_9% 8.2 减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 'X6Z:dZY 8.3 使用眩光光阑(Lyot stop) s
{^wr6B 8.4 使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 )y i~p 8.5 使用滤光 GB"Orm. 8.6 显微镜中的杂散光分析 \)6bLB!
9. 挡板和冷窗的设计 z30 mk 9.1 主挡板和冷屏的设计 q+2A>:| 9.2 挡光环的设计 /W .G-|: 槽型挡光环 !0P:G#o-$ 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 C`.eJF 案例:望眼镜系统的挡板的优化 u&[L!w 10. 角分辨散射光测量技术 vVIND 10.1 PSD 测量技术与 PSD 转 BSDF .p> ".q
I 10.2 BSDF 散射测量仪光路结构介绍 !Q5,Zhgr 10.3 BSDF 散射测量关键参数介绍 o`!#io 10.4 使用 BSDF 测量数据提升仿真精度 uA;#*eiA/ 如您对此课程有兴趣,扫码加微联系我 BkPt 1i [attachment=126634]
|
|