| infotek |
2024-02-29 15:28 |
3月线下培训课程——杂散光整体解决方案课程
时间地点主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司 tswG"1R
授课时间：2024/3/15(五）-3/17（日）共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 Xx 9~
授课地点：上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 C7fi1~
课程讲师：讯技光电高级工程师 o<Rxt
*B
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) }~Kyw 7?
课程简介杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索：杂散光辐射理论，杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法，杂光分析与软件，BSDF 与测量数据，杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源，以及对红外光学系统成像质量的影响，在简化分析上，讨论了杂散光分析的物理模型，利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件，为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。课程分为两部分，第一部分：杂散光分析与控制技术（2.5 天），第二部分：角分辨散射光测量技术（0.5 天） o}AqNw60v
1. 杂散光介绍与术语 u[6` Jr~
1.1 杂散光路径 .@/z-Og Xg
1.2 关键面和照明面 46.q a nh
1.3 杂光内部和外部杂散光 8en#PH }
2. 基本辐射度量学-辐射 :'^dy%&UB
2.1 BSDF 及其散射模型 {*5;:Qn T
2.2 TIS 总散射概念 61eKGcjs:
2.3 PST(点源透射比) |]2eGrGj4
3.杂散光分析中的光线追迹 fi-&[llg
3.1FRED软件光线追迹介绍 d= T9mj.@
3.2构建杂散光模型 =-1^ K
定义光学和机械几何 7 ]HIE]#
定义光学属性 DT7-v4Zd
3.3光线追迹 q%=7<( w
使用光线追迹来量化收敛速度 RG PU~L
重点采样 (1r>50Ge
反向光线追迹 nF!_q;+Vp
控制光线Ancestry以增加收敛速度 exrt|A] _[
使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 o"+ &^
使用GPU来进行追迹 ZC\.};.
RAM内存使用设置 dO4U9{+
4.散射模型 qeO6}A"^|
4.1来自表面粗糙的散射 1o"oa< *_
低频、中频、高频 77=y!SDP
RMS粗糙度与BSDF的关系 ZZ.0'
由PSD推导BSDF s%TO(vT
拟合BSDF测量数据 3vGaT4TDx
4.2来自划痕(光学损伤坑)的散射 nY5n %>8
4.3来自颗粒污染的散射 :Ro"
0/d
来自球形颗粒中的散射（米氏散射理论） %>z8:oJ
颗粒密度函数模型 (Ss77~W7
案例：计算激光通过金属粉尘的吸收 g J[q
{b
4.4来自黑处理表面的散射 }zfLm` vJ
4.5孔径衍射 t%YX-@
杂散光程序中的孔径衍射 uL2 {v
衍射元件的衍射特性 XGup,7e9
案例：衍射杂散光分析 z&yb_A:>
5.大气湍流散射 p$!+2=)gY
6热辐射 OXCml(>{
红外热辐射的杂散光分析 v. ^
'x
冷反射仿真 ) eGu4iEPM
7. 鬼像反射 ^9V8 M9
鬼像反射 G|Yp <W%o
表面镀膜 k FZu/HRI
表面镀 AR 增透膜的仿真 !vo '8r?&
8. 光学设计中的杂散光控制 +mQC:B7>
8.1 使用视场光阑 TboHP/
8.2 减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 uB&I56
8.3 使用眩光光阑（Lyot stop） Cq;K, B9
8.4 使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 QO`Sn N}
8.5 使用滤光 LGg x.Z
8.6 显微镜中的杂散光分析 MVU'GHv
9. 挡板和冷窗的设计 $8 ww]}K
9.1 主挡板和冷屏的设计 w#bbm'j7r
9.2 挡光环的设计 wTuRo
J
槽型挡光环 RknSWuFKt
挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 &l }xBQAL
案例：望眼镜系统的挡板的优化 WF .$gBH"
10. 角分辨散射光测量技术 ,xM*hN3A
10.1 PSD 测量技术与 PSD 转 BSDF uXW.
(x7"f
10.2 BSDF 散射测量仪光路结构介绍 o6yZ@R
10.3 BSDF 散射测量关键参数介绍 ] X;*\-
10.4 使用 BSDF 测量数据提升仿真精度 i2R]lE8
如您对此课程有兴趣，扫码加微联系我 5N</Z6f'o
[attachment=126634]
|
|