infotek |
2024-02-29 15:28 |
3月线下培训课程——杂散光整体解决方案课程
时间地点主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司 JWg.0d$hM 授课时间:2024/3/15(五)-3/17(日)共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 Ea<\a1Tl43 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 iBbaHU*V 课程讲师:讯技光电高级工程师 E=,5%>C0#% 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用)
f&^}yqmuE 课程简介杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与软件,BSDF 与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。课程分为两部分,第一部分:杂散光分析与控制技术(2.5 天),第二部分:角分辨散射光测量技术(0.5 天) ]J!#"m-] 1. 杂散光介绍与术语 $#s5y~z 1.1 杂散光路径 +[uh);vD`G 1.2 关键面和照明面 zc;kNkV#1Y 1.3 杂光内部和外部杂散光 36+/MvIT 2. 基本辐射度量学-辐射 lV^:2I/ 2.1 BSDF 及其散射模型 8\'tfHL 2.2 TIS 总散射概念 =UK:83R( 2.3 PST(点源透射比) *kK +Nvt8s 3.杂散光分析中的光线追迹 /N*<Fq7w~ 3.1FRED软件光线追迹介绍 L3wj vq^ 3.2构建杂散光模型 8gE p5 定义光学和机械几何 Y_ne?/sZE 定义光学属性 NdLe|L?c 3.3光线追迹 ">1wPq& 使用光线追迹来量化收敛速度 e\[q3J 重点采样 5!Y\STn 反向光线追迹 1z&"V}y 控制光线Ancestry以增加收敛速度 Qfy_@w] 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 lg$aRqI29 使用GPU来进行追迹 'h6G"=+ RAM内存使用设置 gTTKjlI[ 4.散射模型 >m1b/J3# 4.1来自表面粗糙的散射 a1I-d=] 低频、中频、高频 L,#YP#O,j RMS粗糙度与BSDF的关系 lN5PKsGl 由PSD推导BSDF n5A|Zjk; 拟合BSDF测量数据 v}t{*P 4.2来自划痕(光学损伤坑)的散射 [3-u7Fx! 4.3来自颗粒污染的散射 dS 4/spNq 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论) ,WOCG2h 颗粒密度函数模型 diM*jN# 案例:计算激光通过金属粉尘的吸收 ?_AX;z 4.4来自黑处理表面的散射 !]uB4 4.5孔径衍射 [Ca''JqrA 杂散光程序中的孔径衍射 vmkiw1 衍射元件的衍射特性 'G % ]/'_U 案例:衍射杂散光分析 k&t.(r\ 5.大气湍流散射 L9Zz-Dr s 6热辐射 ZR3,dW6S 红外热辐射的杂散光分析 ['\R4H!x 冷反射仿真 Z|a*"@5_ 7. 鬼像反射 wj}LVyV 鬼像反射 iC iKr aW 表面镀膜 |/l] ]+ 表面镀 AR 增透膜的仿真 C7m/< 8. 光学设计中的杂散光控制 JP\jhkn 8.1 使用视场光阑 h~
_i::vg
8.2 减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 DUu:et&c1 8.3 使用眩光光阑(Lyot stop) =2GKv7q$x, 8.4 使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 W%^!<bFk}m 8.5 使用滤光 X!z-J> 8.6 显微镜中的杂散光分析 MNe/H\ 9. 挡板和冷窗的设计 dgX%NKv1 9.1 主挡板和冷屏的设计 7oIHp_Zq 9.2 挡光环的设计 p{GO-gE@ 槽型挡光环 -WyB2$!( 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 7)#JrpTj% 案例:望眼镜系统的挡板的优化 _,K[kVn 10. 角分辨散射光测量技术 3A"TpR4f` 10.1 PSD 测量技术与 PSD 转 BSDF Jg'#IM 10.2 BSDF 散射测量仪光路结构介绍 V!]|u ^4I 10.3 BSDF 散射测量关键参数介绍 hC<E4+5., 10.4 使用 BSDF 测量数据提升仿真精度 RfvvX$ 如您对此课程有兴趣,扫码加微联系我 *zweZG8: [attachment=126634]
|
|