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2024-02-29 15:28 |
3月线下培训课程——杂散光整体解决方案课程
时间地点主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司 +0$/y]k
授课时间：2024/3/15(五）-3/17（日）共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 chI.{Rj
授课地点：上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 ]+ Ixi o
课程讲师：讯技光电高级工程师 KLWDo%%u
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) Sm{>rR
课程简介杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索：杂散光辐射理论，杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法，杂光分析与软件，BSDF 与测量数据，杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源，以及对红外光学系统成像质量的影响，在简化分析上，讨论了杂散光分析的物理模型，利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件，为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。课程分为两部分，第一部分：杂散光分析与控制技术（2.5 天），第二部分：角分辨散射光测量技术（0.5 天） R{hf9R ,
1. 杂散光介绍与术语 S~OhtHwK
1.1 杂散光路径 Vm1-C<V9
1.2 关键面和照明面 cntc o@
1.3 杂光内部和外部杂散光 Li{~=S@N*
2. 基本辐射度量学-辐射 19e8
2.1 BSDF 及其散射模型 Tny> D0Z#
2.2 TIS 总散射概念 -7qIToO.
2.3 PST(点源透射比) }?8uH/+ZA
3.杂散光分析中的光线追迹 $7Jo8^RE
3.1FRED软件光线追迹介绍 L V{Q,DrP
3.2构建杂散光模型 V
A^l+Z,d
定义光学和机械几何 $% k1fa C
定义光学属性 GIwh@4 ;
3.3光线追迹 qCQ./"8
使用光线追迹来量化收敛速度 k+ o| 0
重点采样 <'U]`L p
反向光线追迹 ^eq</5 q D
控制光线Ancestry以增加收敛速度 \_6OC Vil
使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 2\D8.n Qr
使用GPU来进行追迹 VyLH"cCv
RAM内存使用设置 _"a=8a06G
4.散射模型 )u:Q)
%$t
4.1来自表面粗糙的散射 ' I}: !Z
低频、中频、高频 ]3{ 0J
RMS粗糙度与BSDF的关系 coE&24,0
由PSD推导BSDF v6(E3)J 7
拟合BSDF测量数据 +~zXDBS9
4.2来自划痕(光学损伤坑)的散射 sN=6 gCau
4.3来自颗粒污染的散射 <U Zd;e@
来自球形颗粒中的散射（米氏散射理论） L:nXW z
颗粒密度函数模型 h f6f.Z
案例：计算激光通过金属粉尘的吸收 uzOYVN$t
4.4来自黑处理表面的散射 LaFZ?7@|}
4.5孔径衍射 g2cVZ!GIj
杂散光程序中的孔径衍射 I<oL}f
衍射元件的衍射特性 ~EiH-z4 U
案例：衍射杂散光分析 7j<e)"
5.大气湍流散射 \*T"M*;
6热辐射 }ET,ysa
红外热辐射的杂散光分析 v5}X+'
冷反射仿真 ChrY"
7. 鬼像反射 zt24qTKL
鬼像反射
g\fhp{gWB
表面镀膜 $RX'(/
表面镀 AR 增透膜的仿真 Yf_6PGNzX
8. 光学设计中的杂散光控制 ,U,By~s
8.1 使用视场光阑 (46 {r}_O
8.2 减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 b ,H[I!. %
8.3 使用眩光光阑（Lyot stop） K+\nC)oG
8.4 使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 x+5 k
<Xi}
8.5 使用滤光 +\
_{x/u1
8.6 显微镜中的杂散光分析 {Bvj"mL]j
9. 挡板和冷窗的设计 Nil}js27
9.1 主挡板和冷屏的设计 *hh mTc#
9.2 挡光环的设计 |`k
.y]9
槽型挡光环 kK>X rj6
挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 ]:]H:U]p
案例：望眼镜系统的挡板的优化 -F / st
10. 角分辨散射光测量技术 +ZsX*/TOn
10.1 PSD 测量技术与 PSD 转 BSDF Y
qdWctUY
10.2 BSDF 散射测量仪光路结构介绍 F4#g?R ::U
10.3 BSDF 散射测量关键参数介绍 6SM:x]`##,
10.4 使用 BSDF 测量数据提升仿真精度 B/f0P(7
如您对此课程有兴趣，扫码加微联系我 R@ Y=o].2
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