| infotek |
2024-02-29 15:28 |
3月线下培训课程——杂散光整体解决方案课程
时间地点主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司 :ChXzZ 授课时间:2024/3/15(五)-3/17(日)共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 PDw+Q 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 ?)(/SZC0 课程讲师:讯技光电高级工程师 BQ u8$W 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) q'+ARW48 课程简介杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与软件,BSDF 与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。课程分为两部分,第一部分:杂散光分析与控制技术(2.5 天),第二部分:角分辨散射光测量技术(0.5 天) Q<D_QJ 1. 杂散光介绍与术语 yv]|Ce@8A 1.1 杂散光路径 Y7g%nz[[ 1.2 关键面和照明面 ohx$;j 1.3 杂光内部和外部杂散光 NkNFx<9T 2. 基本辐射度量学-辐射 BH~zeJ*Pr 2.1 BSDF 及其散射模型 tKe-Dk9 2.2 TIS 总散射概念 "\}h 2.3 PST(点源透射比) :NWIUN 3.杂散光分析中的光线追迹 11#b%dT 3.1FRED软件光线追迹介绍 .xT{Rz 3.2构建杂散光模型 V3cKdlu Na 定义光学和机械几何 u
ynudO 定义光学属性 =X5w=(& 3.3光线追迹 mejNa(D ^ 使用光线追迹来量化收敛速度 VO {z)_ 重点采样 dr&G> 反向光线追迹 :tnW ivrwR 控制光线Ancestry以增加收敛速度 <N~9=g3 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 `w>D6K+ 使用GPU来进行追迹 "HqmS RAM内存使用设置 Vi^vG`L9 4.散射模型 S~fP$L5 4.1来自表面粗糙的散射 /E\04Bs 低频、中频、高频 J|
wk})? RMS粗糙度与BSDF的关系 y*sVimx 由PSD推导BSDF 5+oY c- 拟合BSDF测量数据 svxjad@l/
4.2来自划痕(光学损伤坑)的散射 u]O}Ub` 4.3来自颗粒污染的散射 -
(((y)! 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论) #m<uG5l` 颗粒密度函数模型 QbSLSMoL 案例:计算激光通过金属粉尘的吸收 {2T u_2> 4.4来自黑处理表面的散射 t$VRNZ`dy 4.5孔径衍射 ZQ`4'|" 杂散光程序中的孔径衍射 ^["D>@yIR 衍射元件的衍射特性 <<gW`KF
案例:衍射杂散光分析 N\. g+ W 5.大气湍流散射 rB]2qk`/' 6热辐射 `#!>}/m 红外热辐射的杂散光分析 9mXmghoCO 冷反射仿真 '?.']U,: $ 7. 鬼像反射 `.pd %\ 鬼像反射 (gvnIoDl0 表面镀膜 k^;/@: 表面镀 AR 增透膜的仿真 +T*??OW@ 8. 光学设计中的杂散光控制 $}S0LZ_H 8.1 使用视场光阑 `S?_=JIX 8.2 减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 Jc5YGj 7 8.3 使用眩光光阑(Lyot stop) @Ss W 8.4 使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 p(4B"[ !S 8.5 使用滤光 "B"ql-K 8.6 显微镜中的杂散光分析 LB$0'dZU 9. 挡板和冷窗的设计 v&9:Wd*Iz' 9.1 主挡板和冷屏的设计 E;4d lL`* 9.2 挡光环的设计 Dh#5-Kf% 槽型挡光环 YB)I%5d;{ 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 !,b&e 案例:望眼镜系统的挡板的优化 \YF;/KwX$ 10. 角分辨散射光测量技术 ,.=7{y~ 10.1 PSD 测量技术与 PSD 转 BSDF N 5{w 10.2 BSDF 散射测量仪光路结构介绍 AhjCRYk+ 10.3 BSDF 散射测量关键参数介绍 E"/k"1@ 10.4 使用 BSDF 测量数据提升仿真精度 c;yp}k]\ 如您对此课程有兴趣,扫码加微联系我
}LEasj [attachment=126634]
|
|