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2024-01-08 07:59 |
FRED应用:二阶鬼像分析
简介 He="S3XON >K**SjVG FRED能够提供用户有关通过光机系统任意鬼像和散射路径的详细情况。我们简单地设置光学和机械的物理属性 (涂层、材料、散射模型等),设置一个合适的光源,并且让FRED记录下在光线追迹时系统所有唯一的路径。当光线追迹完成时,我们可以对光线追迹的路径进行后期处理,来提取出与我们系统相关的路径。 x&7%U EU.vw0}u8 然而,假设我们对于表征一个光学系统中的初级鬼像路径很感兴趣,或者我们的系统没有完全的开发或改进,来保证一个长的多阶次的杂散光分析。本文介绍了一个脚本,可以在一个导入的序列设计中对初级鬼像路径进行自动分析。我们首先来讨论合理地设置分析中导入的序列文件的过程,然后讨论脚本的运行以及执行分析的过程。 _;",7bT80 LivPk`[ 指定表面涂层性质 +,<\LIP Y%:FawR 分析的要点是找出多少功率(以及功率的分布)到达了我们的焦平面,这是由在我们的透镜表面之间的镜面系列的现象产生的,这些都不是“设计”路径。举个例子,我们第一个透镜元件内的内部反弹可能会到达探测器,我们希望可以量化它的贡献。 FCTz>N^p ?#idmb}( 为了产生鬼像路径,我们的透镜需要有涂层覆盖,这可以让入射能量的一些部分以反射和透射的方式传播。默认情况下,导入的透镜表面具有100%透射涂层,将没有任何鬼像产生。我们可以浏览透镜的每一个光学表面,然后给每个表面应用一个非理想的涂层模型,不过FRED确实提供了一个界面,使得这一过程变得不那么单调乏味。点击Menu > Edit > Edit/View Multiple Surfaces,该界面提供了一个技巧,可以非常简单的完成多表面性质赋予作业。[attachment=124707] gE%{#& | |