Shack Hartmann传感器的模拟
摘要 7G-?^
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对于电磁场的全面表征，不仅是能量密度的信息，而且是相位的信息都具有关键价值。虽然在模拟中我们可以直接从数字数据中计算出这些信息，但在真实的实验室中，则需要更复杂的方法。测量这种信息的常见工具是Shack Hartmann传感器，它使用微透镜阵列（MLA），通过焦平面上相应光点的位移来重建一个入射场的波前。为了研究这类设备，我们演示了Shack Hartmann传感器的模拟，以不同的波前作为输入。 p5or"tK
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任务描述 h L [ eA
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a) 平面波 HV/:OCK
- 波长640nm ={oNY.(Q
- 与原点的距离无限大 V27RK-.N!
- 2毫米×2毫米直径(长方形) U iH7
b) 倾斜的平面波 E;C{i
- 波长640nm %wOkp`1-
- 2.5°倾斜 X7L:cVBg
- 2毫米×2毫米直径(长方形) =ejU(1 g
c) 弱球面波 YFB >GQ;
- 波长640nm ~i%=1&K&`
- 与原点的距离为100毫米 4{zy)GE| W
- 2毫米×2毫米直径(长方形) #d\&6'O
d) 强球面波 naf ~#==vc
- 波长640nm 9_:"`)] 3B
- 与原点的距离为40毫米 jmr
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- 2毫米×2毫米直径(长方形) (wZ!OLY%}
微透镜阵列 %hYgG;22
- 材料：N-BK7 A3_p*n@
- 凸面-凸面 l|gi2~ %Y
- 曲率半径：5毫米 zQY ,}a
- 200 μm × 200 μm 透镜尺寸（长方形） 70 R6:
- 5×5个微透镜 ?c RF;!o"
探测器 BK%B[f*[OA
- 输入场的波前 o6O-\d7^M
- 理想平面波聚焦面的电磁场的能量密度 0 x-g0]
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系统构件 - 组件 iVZ}+Ct<"
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微透镜阵列组件允许轻松定义任意形状的微透镜阵列。材料和尺寸通过 Solid选项卡定义，而微透镜的表面形状则使用堆栈概念进行配置，并可通过单独的Surface Add-Ons选项卡访问。 W$zRUG-
该组件可以通过整个结构或单个微透镜进行模拟。 aH _c 84DS
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系统构件 – 探测器 zG ='U
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[attachment=124701] 8~C}0H
Camera Detector能够计算出系统中任何一点的电磁场的能量密度。Electromagnetic Field Detector计算出纯的、复值的场数据。如果用户希望看到这些信息，它还可以计算和提取所述场的波前。 OmWEa
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总结 - 组件... hTn"/|_SW
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仿真结果 "crR{OjE"
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光线和场模拟的第一印象 I8J>>H'#A
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MLA前的波前 YTefEG]|q
[attachment=124706] %MHL@Nn>e
平面波 La1:WYt
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