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2023-11-07 08:15 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 Zy!^HS$ klkshlk d 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 WdQR^'b$ SUv(MA& [attachment=122181] )"W__U0 zfS0M 建模任务 WC2sRv4]3 %x(||cq
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