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2023-11-07 08:15 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 X,~8) W n32?GRp 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 U5Rzfm4 D0uf=BbS [attachment=122181] (|Xf=q,Le rGoB&% pc 建模任务 $UKDXQF" )m?oQ#`m
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_ VirtualLab Fusion中的工作流程 k/Cr ^J" X!r!lW •设置输入场 Y8Mo .v −基本光源模型[教程视频] <{e0i •使用导入的数据自定义表面轮廓 qbB.Z#w •定义元件的位置和方向 x`a@h\n − LPD II:位置和方向[教程视频] S7-?&[oeJ •正确设置通道以进行非序列追迹 !m78 /[LW −非序列追迹的通道设置[用例] NJn~XCq •使用参数运行检查影响/变化 d@`yRueWiV −参数运行文档的使用[用例] d
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