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2023-11-07 08:15 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 NL^;C3u qjr:(x / 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 Lm-f0\( .-Z=Aa> [attachment=122181] 8'>yB ^;8dl.; 建模任务 Z= +Tw!wR> /1y\EEc
[attachment=122182] ]EN+^i1F[ 仿真干涉条纹 wZUZ"Y}9 |
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?_o{ •定义元件的位置和方向 \? n<UsI − LPD II:位置和方向[教程视频] (.J6>"K< •正确设置通道以进行非序列追迹 oA* 88c+{f −非序列追迹的通道设置[用例] 2^X<n{0N) •使用参数运行检查影响/变化 Mdw"^x$7 −参数运行文档的使用[用例] r1&eA% eh Qef5eih [attachment=122185] g#iRkz%l)& h.pVIO` VirtualLab Fusion技术 u0Bz]Ux/Q 5(>ux@[qI:
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