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2023-10-30 08:17 |
马赫泽德干涉仪
摘要 bEx8dc`Q %K@s0uQ [attachment=121765] xnz(hz6 >v1E;-ZA 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 N0U6N< w h$\+r< 建模任务 ]<y _
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[attachment=121766] <hG] f% sT&O %( 由于组件倾斜引起的干涉条纹 TF0DQP !\e&7sV~Q [attachment=121767] #~ikR.-+Eq -s] 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 BNA` Cc1VV gW0{s[}T [attachment=121768]
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