infotek |
2023-10-30 08:17 |
马赫泽德干涉仪
摘要
Aa
~W, d?zSwLsl [attachment=121765] 'C]w3Rh' yf&g\ke 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 #l=yD]tPU -D`1z?zHra 建模任务 GG%b"d- {wqT$( (< [attachment=121766] d_9 Cm@ _Mw3>GNl 由于组件倾斜引起的干涉条纹 @{Rb]d?&F? U=Ps# [attachment=121767] O_FB^BB $vs],C"pX 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 Na0^csPm msl.{ [attachment=121768]
|
|