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2023-10-30 08:17 |
马赫泽德干涉仪
摘要 Xnuzr"4u 'cNKjL; [attachment=121765] ES<{4<Kpx ?EU\}N J 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 51#"3S -Q;#sJ? 建模任务 CzV(cSS9- [!^-J}^g~\ [attachment=121766] }j1!j&& CK_(b" 由于组件倾斜引起的干涉条纹 eQO#Qso] F8e<}v&7R [attachment=121767] 'SLE;_TD M }0eu(_| 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 Fg/dS6=n`? )'Wb&A' [attachment=121768]
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