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infotek 2023-10-30 08:17

马赫泽德干涉仪

摘要 5nSi29C  
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干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 09L"~:rg  
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建模任务 Bt[Wh@  
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由于组件倾斜引起的干涉条纹 odaCKhdk  
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由于偏移倾斜引起的干涉条纹 pb5q2|u`h  
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