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2023-10-30 08:17 |
马赫泽德干涉仪
摘要 5nSi29C lz>>{ [attachment=121765] <yxy ;o R7Z7o4jg 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 09L"~:rg 9XEP:}5, 建模任务 Bt[Wh@ rf= ndjrH [attachment=121766] Wt
1]9{$ z8-dntkf 由于组件倾斜引起的干涉条纹 odaCKhdk i4s_:%+ [attachment=121767] nC 2e^=^ ayK?\srw 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 pb5q2|u`h N6UPD11}6 [attachment=121768]
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