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2023-10-30 08:17 |
马赫泽德干涉仪
摘要 EFYyr f@
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干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 JZS#Q\JN
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建模任务 XtV=Gr8"
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由于组件倾斜引起的干涉条纹 zU7 /P|Dw+
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由于偏移倾斜引起的干涉条纹 FLI0 C
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