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2023-10-30 08:17 |
马赫泽德干涉仪
摘要 LSQz"Ll
l qF iLh9=D [attachment=121765] tTU=+*Io ,ZS6jZ 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 W[+|} ly WwGR 建模任务 fqu}Le /k"`7`! [attachment=121766] +/D>|loRC 81*M= ? 由于组件倾斜引起的干涉条纹 `<[6YH_ .vG,fuf8 [attachment=121767] -uh(?])H yPw'] " 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ;L&TxO>#J ~8aJ S,u [attachment=121768]
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