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2023-10-30 08:17 |
马赫泽德干涉仪
摘要 Qn<J@% :uhvDYp(- [attachment=121765] )#i]exZ CI$F#j 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ,GZ(>| 56&s' 建模任务 D
OPOzh )!p=0&z@{ [attachment=121766] =F8uuYX%m uZ%b6+( 由于组件倾斜引起的干涉条纹 L=4?vs KdYT5VUM/ [attachment=121767] uoaF(F- pg*'2AT 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 /]<0`nI. S
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