infotek |
2023-10-30 08:17 |
马赫泽德干涉仪
摘要 *4qsM,t &u"*vG (U[ [attachment=121765] :*&wnQMKR VJCh5t* 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 {zUc*9 i&>,aiH@ 建模任务 DcbL$9UI /@RnCjc' [attachment=121766] Mn~A;=%qF \MtiLaI" 由于组件倾斜引起的干涉条纹 <\^X,,WtO yK?~XV: [attachment=121767] Ti3BlWQH sp**Sg) 由于偏移倾斜引起的干涉条纹
A]U] k #*|-? [attachment=121768]
|
|