| infotek |
2023-10-30 08:17 |
马赫泽德干涉仪
摘要 2Q k\}KWs
j_H
T
[attachment=121765] `UJW:qqW
AT 9SD vJ
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 sIy$}_
x4( fW\
建模任务 &1u ?W%(Px
9=}/ t9k
[attachment=121766] cXCczqabv
RI*%\~6t?
由于组件倾斜引起的干涉条纹 mn4;$1~e>H
hWW<]qzA,
[attachment=121767] '{u#:TTj
>S3 >b
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 7> ]C2!
0ND7F
[attachment=121768]
|
|