infotek |
2023-10-30 08:17 |
马赫泽德干涉仪
摘要 rLeQBp' A~{vja0? [attachment=121765] T
g(\7Kq j<WsFVS 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 v\(6uej^ -m,Y6 建模任务 $2]>{g K
d#(eGe [attachment=121766] 18~jUYMV MYJMZ3qBi 由于组件倾斜引起的干涉条纹 3 q8S |U'` Sc [attachment=121767] r0f&n;0U4 %Ze7d& 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 y]! #$C / c=-qbG0` [attachment=121768]
|
|