首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 马赫泽德干涉仪 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2023-10-30 08:17

马赫泽德干涉仪

摘要 rLeQB p'  
A~{vja0?  
[attachment=121765] T g(\7Kq  
j<WsFVS  
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 v\(6uej^  
-m ,Y6  
建模任务 $2]>{g  
K d#(eGe  
[attachment=121766] 18~jUYMV  
MYJMZ3qBi  
由于组件倾斜引起的干涉条纹 3 q8S  
|U'`Sc  
[attachment=121767] r0f&n;0U4  
%Ze7d&  
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 y]!#$C /  
c=-qbG0`  
[attachment=121768]
查看本帖完整版本: [-- 马赫泽德干涉仪 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2025 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计