线下课程培训FRED杂散光分析与控制设计
时间地点: nU7>uU 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司;苏州黉论教育咨询有限公司 PoG-Rqe 授课时间:2023年11月27(一)-29日(三)共3天 AM 9:00-PM 16:00 n>BkTaI 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 MygfT[_ 课程讲师:讯技光电高级工程师 W*Zkc:{eB 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) "@iK'
c^ 课程简介: #h`
V>; 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统,具体突出红外热辐射和冷反射计算,在以往的方法中我们通过计算点列图来实现,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们将从实际的积分公式出发进行该望远镜系统仿真。 n*[XR`r} 课程大纲: >0ow7Uw; 1. 杂散光介绍与术语 >\KNM@'KI 1.1 杂散光路径 m
qMHL2~ 1.2 关键面和照明面 5Co 1.3杂光内部和外部杂散光 "_-Po^u=r 2. 基本辐射度量学-辐射 I|gB@|_~ 2.1 BSDF及其散射模型 J}v}~Cv 2.2 TIS总散射概念 xhVO3LW' 2.3 PST(点源透射比) Oo5w?+t 3. 杂散光分析中的光线追迹 vHryPl+
a_f~N1kq 3.1 FRED软件光线追迹介绍 2^h27A 3.2构建杂散光模型 .F
定义光学和机械几何 42G)~lun-d 定义光学属性 ;z}i-cNae 3.3 光线追迹 HK,cJahq 使用光线追迹来量化收敛速度 k/#&qC>] 重点采样
mF*2#]%dx 反向光线追迹 7puFz4+f 控制光线Ancestry以增加收敛速度 $rv8K j+ 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 6Ypc` 使用GPU来进行追迹 e!N:,`R
5 RAM内存使用设置 3!XjtVhK?I 4.散射模型 x@P y>f2 4.1来自表面粗糙的散射 %b&".mN 低频、中频、高频 8@i7pBl@ RMS粗糙度与BSDF的关系 HHDl8lo 由PSD推导BSDF q rJ`1 拟合BSDF测量数据 G&D7a/G\ 4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射 Uc7mOa}4 4.3 来自颗粒污染的散射 C'\-
@/ 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论) ub^h&=\S 颗粒密度函数模型 ?pr9f5 案例:计算激光通过金属粉尘的吸收 ehzM)uK 4.4 来自黑处理表面的散射 rI= v 4.5 孔径衍射 K28+]qy[ 杂散光程序中的孔径衍射 I4/8 _)b^ 衍射元件的衍射特性 27
]':A4_ 案例:衍射杂散光分析 ;X?}x%$ 5. 大气湍流散射 CtyoHvw+M 6. 热辐射 ^U
`[(kz= 红外热辐射的杂散光分析 sGyeb5c 冷反射仿真 G`SUxhC k 7. 鬼像反射 i6dHrx]:, 鬼像反射 GPkmf%FJ 表面镀膜 HW3 }uP\c 表面镀AR增透膜的仿真 3h;{!|-3 8. 光学设计中的杂散光控制 -G}[AkmS 8.1使用视场光阑 e-:yb^ 8.2减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 .{ocV#{s 8.3使用眩光光阑(Lyot stop) R)_%i<nq\ 8.4使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 /Y9>8XSc 8.5 使用滤光 !}YAdZJ 9. 挡板和冷窗的设计 M2PAy! J 9.1主挡板和冷屏的设计 ah+~y,Gl 9.2 挡光环的设计 >zw.GwN| 槽型挡光环 x'+T/zw 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 15%w 8u 案例:望眼镜系统的挡板的优化 Dd'm U 10. BSDF散射测量 I8wXuIN_
鬼像路径在3D视图中的渲染和照度分析 /(u}KMR!f
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