线下课程培训FRED杂散光分析与控制设计
时间地点: XPo'iI- 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司;苏州黉论教育咨询有限公司 *js$r+4 授课时间:2023年11月27(一)-29日(三)共3天 AM 9:00-PM 16:00 Sc3M#qm_ 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 %]$p ^m 课程讲师:讯技光电高级工程师 T)tHN#6I 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) Nw&}qSN 课程简介: 8A u<\~p 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统,具体突出红外热辐射和冷反射计算,在以往的方法中我们通过计算点列图来实现,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们将从实际的积分公式出发进行该望远镜系统仿真。 6 Ok=q:; 课程大纲: T KL(97)< 1. 杂散光介绍与术语 {59VS
Nl 1.1 杂散光路径 gs8@b5 RSb 1.2 关键面和照明面 R&_\&:4f 1.3杂光内部和外部杂散光 E(kb!Rz 2. 基本辐射度量学-辐射 -U;LiO;N 2.1 BSDF及其散射模型 Xb:BIp!e 2.2 TIS总散射概念 YkAWKCOni 2.3 PST(点源透射比) xYVjUb(,X 3. 杂散光分析中的光线追迹 eEGcio}_I9
a;T[%'in 3.1 FRED软件光线追迹介绍 jTUf4&b- 3.2构建杂散光模型 "M0l; 定义光学和机械几何 #L=
eK8^e 定义光学属性 %R*vSRG/U 3.3 光线追迹 )u )$ `a 使用光线追迹来量化收敛速度 !Fg4Au 重点采样
R{KIkv 反向光线追迹 }%FuL5Tx 控制光线Ancestry以增加收敛速度 (s@tU>4U 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 S}Y|s]6 使用GPU来进行追迹 n,:.]3v% RAM内存使用设置 -@V"i~g<e 4.散射模型 %x8`fm 4.1来自表面粗糙的散射 a(DZGQ-as
低频、中频、高频 DcR}pQ(e RMS粗糙度与BSDF的关系 -YjgS/g 由PSD推导BSDF <CKmMZ{ 拟合BSDF测量数据 kxqc6 4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射 fQy
C6C 4.3 来自颗粒污染的散射 P:,
x?T?J^ 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论) ZIL|
.<8I 颗粒密度函数模型 m5em<P!G 案例:计算激光通过金属粉尘的吸收 DEQE7.]3 q 4.4 来自黑处理表面的散射 ]F*a PV 4.5 孔径衍射 ^0tf1pV2 杂散光程序中的孔径衍射 K_+;"G 衍射元件的衍射特性 i$^B- 案例:衍射杂散光分析 =_m9so 5. 大气湍流散射 PSf5p\<5 6. 热辐射 =6:L +V 红外热辐射的杂散光分析 }B9~X 冷反射仿真 .F$|j1y
7. 鬼像反射 hN_f h J 鬼像反射 e_~fJ 表面镀膜 vuo'"^ =p0 表面镀AR增透膜的仿真 M |({
4C 8. 光学设计中的杂散光控制 H9san5{ 8.1使用视场光阑 =1
BNCKT< 8.2减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 oAZF3h]po 8.3使用眩光光阑(Lyot stop) #;"D)C 8.4使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 0+<eRR9- 8.5 使用滤光 KW|\)83$ 9. 挡板和冷窗的设计 p;u 1{ 9.1主挡板和冷屏的设计 xBRh!w 9.2 挡光环的设计 h#m:Y~GoF 槽型挡光环
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#Fl 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 4OOn, 09 案例:望眼镜系统的挡板的优化 %t~SOkx 10. BSDF散射测量 Q1nDl
鬼像路径在3D视图中的渲染和照度分析 '-PMF~~S
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