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infotek 2023-10-26 11:48

线下课程培训FRED杂散光分析与控制设计

时间地点 XPo'iI-  
主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司;苏州黉论教育咨询有限公司 *js$r+4  
授课时间:2023年11月27(一)-29日(三)共3天 AM 9:00-PM 16:00 Sc 3M#qm_  
授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 %]$p ^m  
课程讲师:讯技光电高级工程师 T)tHN#6I  
课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) Nw& }qSN  
课程简介 8A u<\~p  
杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统,具体突出红外热辐射和冷反射计算,在以往的方法中我们通过计算点列图来实现,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们将从实际的积分公式出发进行该望远镜系统仿真。 6Ok=q:;  
课程大纲 T KL(97)<  
1. 杂散光介绍与术语 {59VS Nl  
1.1 杂散光路径 gs8@b5 RSb  
1.2 关键面和照明面 R&_\&:4f  
1.3杂光内部和外部杂散光 E(kb!Rz  
2. 基本辐射度量学-辐射 -U;LiO;N  
2.1 BSDF及其散射模型 Xb:BIp!e  
2.2 TIS总散射概念 YkAWKCOni  
2.3 PST(点源透射比) xYVjUb(,X  
3. 杂散光分析中的光线追迹 eEGcio}_I9  
a;T[%'in  
3.1 FRED软件光线追迹介绍 jTUf4&b-  
3.2构建杂散光模型 "M0l;  
定义光学和机械几何 #L= eK8^e  
定义光学属性 %R*vSRG/U  
3.3 光线追迹 )u)$ `a  
使用光线追迹来量化收敛速度 !Fg4Au  
重点采样 R{KIkv  
反向光线追迹 }%FuL5Tx  
控制光线Ancestry以增加收敛速度 (s@tU>4U  
使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 S}Y|s]6  
使用GPU来进行追迹 n ,:.]3v%  
RAM内存使用设置 -@V"i~g<e  
4.散射模型 %x8`fm  
4.1来自表面粗糙的散射 a(DZGQ-as  
低频、中频、高频 DcR}pQ(e  
RMS粗糙度与BSDF的关系 -YjgS/g  
由PSD推导BSDF <CKmMZ{  
拟合BSDF测量数据 kxqc6  
4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射 fQy C6C  
4.3 来自颗粒污染的散射 P:, x?T?J^  
来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论) ZIL| .<8I  
颗粒密度函数模型 m5em<P!G  
案例:计算激光通过金属粉尘的吸收 DEQE7.]3q  
4.4 来自黑处理表面的散射 ]F* a PV  
4.5 孔径衍射 ^0tf1pV2  
杂散光程序中的孔径衍射 K _+;"G  
衍射元件的衍射特性 i$^B-  
案例:衍射杂散光分析 =_m9so  
5. 大气湍流散射 PSf5p\<5  
6. 热辐射
=6:L+ V  
红外热辐射的杂散光分析 } B9~X  
冷反射仿真 .F$|j1y  
7. 鬼像反射 hN_f h J  
鬼像反射  e_~fJ  
表面镀膜 vuo'"^ =p0  
表面镀AR增透膜的仿真 M|({ 4C  
8. 光学设计中的杂散光控制 H9san5{  
8.1使用视场光阑 =1 BNCKT<  
8.2减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 oAZF3h]po  
8.3使用眩光光阑(Lyot stop) #;"D)C  
8.4使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 0+<eRR9 -  
8.5 使用滤光 KW|\)83$  
9. 挡板和冷窗的设计 p;u 1{  
9.1主挡板和冷屏的设计 xBRh !w  
9.2 挡光环的设计 h#m:Y~GoF  
槽型挡光环 GKyG #Fl  
挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 4OOn,09  
案例:望眼镜系统的挡板的优化 %t~SOkx  
10. BSDF散射测量
Q1nDl  
鬼像路径在3D视图中的渲染和照度分析
'-PMF~~S  
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