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2023-10-12 08:09 |
马赫-泽德干涉仪
摘要 7(H/|2;-d8 )Pq.kn{Sp 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 ?t-2oLE \X!!(Z;6A [attachment=121104] /hQ!dU.+ )1/O_N6C 建模任务 #'qW?8d} \Z8!iruN [attachment=121105] k:sh:G+=$d #7{a~-S 元件倾斜引起的干涉条纹 N*fN&0r I$$!YMm.N [attachment=121106] O);V{1P *L=CJg 元件移动引起的干涉条纹 L6T_&AiL$ zx27aZ[ [attachment=121107] 4y'REC ",a
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VirtualLab Fusion工作流程 mYCGGwD $\H>dm −基本源模型[教程视频] TO< | |