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2023-10-12 08:09 |
马赫-泽德干涉仪
摘要 -3haLdRk6 LvE|K&R| 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 $eI[3{}X J6\<>5A? [attachment=121104] {}vW= DR^mT$ 建模任务 (S1$g ~t; @4hxGk= [attachment=121105] Tf*X\{" 8={(Vf6 元件倾斜引起的干涉条纹 F;`es%8 ;Mw9}Reh@ [attachment=121106] hnH:G`[F o"TEmZUP 元件移动引起的干涉条纹 k'
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- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] m6aoh^I r'w5i1C+ [attachment=121109] />)>~_-3 Za4 YD VirtualLab Fusion技术 ! X*L<)=nh 5|Vb)QBv% [attachment=121110]
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