首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2023-08-24 08:17

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 )Lv6vnT>  
_tg3%X]  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 vr]dRStr  
2[bR6 T89  
rqG6Ll`=+  
)I0g&e^Tzy  
1. 案例 T J"{nB  
B1AF4}~5  
0$dY;,Q.  
X#\P.$  
在VirtualLab Fusion中构建系统 EWvid4QEi  
>+W?!9[p:2  
1. 系统构建模块 &opH\wa  
nh_xbo5L[  
@o-evH;G  
vA $BBXX  
2. 组件连接器 8i+jFSZ$  
l.t.,:  
'\3.isTsx  
+\]S<T*;  
几何光学仿真 QH56tQq  
}Q,C;!'"  
以光线追迹 ?2 O-EiWjZ  
?eZ"UGZg'  
1. 结果:光线追迹 bgx5{!A  
N6 Cc%,  
085 ^!AZ  
~o\]K  
快速物理光学仿真 9= ;g4I  
Szob_IEq,  
以场追迹 E"vi+'(v  
"q#g/T  
1. NA=1.4时的光栅成像 'G By^hj?  
p RfHbPV?  
/-} p7AM  
n ;fTx  
2.  NA=0.75时的光栅成像 enO=-#  
   [ @71  
2LK*Cv[  
|kRx[UL  
3. NA=0.5时的光栅成像 ny;)+v?mN\  
   Xv;ZAa  
7.=s1~p  
查看本帖完整版本: [-- 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2026 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计