首页
->
登录
->
注册
->
回复主题
->
发表主题
光行天下
->
讯技光电&黉论教育
->
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
[点此返回论坛查看本帖完整版本]
[打印本页]
infotek
2023-08-24 08:17
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
摘要
jJNCNH*0
w"s@q$}]8M
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。
yvoz 3_!
o25rKC=o
U>f'j;5
~Q]5g7k=&
1. 案例
cS9jGD92
Dz6xx?
/0XMQy
eOE*$pH
在VirtualLab Fusion中构建系统
Rt+ -ud{O
pOo016afmA
1. 系统构建模块
x'I!f? / &
%NxQb'
5P-t{<]tx
:1>?:3,`
2. 组件连接器
c Pf_B=
n%7?G=_kj
c:Nm!+5_(
j/d}B_2
几何光学仿真
(jDz[b#OPz
x~!|F5JbM
以光线追迹
^D$|$=|DH
PVBz~rG
1. 结果:光线追迹
5z!$=SFz
\toU zTT
UgC65O2
=x\`yxsG
快速物理光学仿真
LD}~]
bH e' U>
以场追迹
@5S' 5)4pB
Lr$Mk#'B
1. NA=1.4时的光栅成像
$zjdCg<
zTw"5N
Ey|_e3Lf[
f|~ {j(.v
2. NA=0.75时的光栅成像
o'!=x$Ky
7t:RQ`$:
M}V!;o<t^
MxIa,M<
3. NA=0.5时的光栅成像
5FoZ$I
F+V!p4G
Yg^ &4ZF
查看本帖完整版本: [--
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
--] [--
top
--]
Copyright © 2005-2026
光行天下
蜀ICP备06003254号-1
网站统计