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infotek 2023-08-24 08:17

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 xIF z@9+k  
OgrUP  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 .i/]1X*;r^  
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wC BL1[~C  
1. 案例 8N(bLGUG  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 MPO!qSS]  
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1. 系统构建模块 8N6a=[fv<  
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2. 组件连接器 1q~U3'l:$  
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几何光学仿真 ru(Xeojv#  
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以光线追迹 U3lr<(r*  
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1. 结果:光线追迹 =Gd[Qn83.%  
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快速物理光学仿真 :M|c,SQK  
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以场追迹 NfR,m ]  
Di*+Cz;gK  
1. NA=1.4时的光栅成像 g,y`[dr  
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yc]ni.Hz  
2.  NA=0.75时的光栅成像 Q(k$HP  
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3. NA=0.5时的光栅成像 h,140pW  
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