首页
->
登录
->
注册
->
回复主题
->
发表主题
光行天下
->
讯技光电&黉论教育
->
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
[点此返回论坛查看本帖完整版本]
[打印本页]
infotek
2023-08-24 08:17
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
摘要
$9@3dM*E?Z
5cj&D74o
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。
8I~*9MUp
G%fXHAs .+
eIj2(q9
]tNB^
1. 案例
;w;+<Rd
=4uO"o
gI/SA
=5O&4G`}
在VirtualLab Fusion中构建系统
CG ,H
rRXF@
1. 系统构建模块
[:/mjO K
qN'%q+n
TB_OFbI2
x<5;#
2. 组件连接器
t(99m=9>
%_(^BZd
qFp]jbU
r*c x_**
几何光学仿真
[+!~RV_
Bxf&gDwjgr
以光线追迹
RgD:"zeM
MSb0J `
1. 结果:光线追迹
K_Kz8qV.?
To;r#h
b?-KC\}v
#[]B: n6
快速物理光学仿真
{>d\
#iT3aou
以场追迹
6 u,w
L2%npps
1. NA=1.4时的光栅成像
Yq:+.UU
n{!=gR.v.
8"ulAx74>
$*j)ey>
2. NA=0.75时的光栅成像
r@CbhD
au+a7~0~
6n^vG/.M
;m"R.Q9*
3. NA=0.5时的光栅成像
zC rM~
-+Z&O?pSH
]YUst]gu3
查看本帖完整版本: [--
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
--] [--
top
--]
Copyright © 2005-2026
光行天下
蜀ICP备06003254号-1
网站统计