首页
->
登录
->
注册
->
回复主题
->
发表主题
光行天下
->
讯技光电&黉论教育
->
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
[点此返回论坛查看本帖完整版本]
[打印本页]
infotek
2023-08-24 08:17
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
摘要
>*S ;z+!&
(=/}i'
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。
&VfMv'%x
lko k2
muKCCWy#
rhA>;9\
1. 案例
@86?!0bt
_"c:Z !L
+o^sm '$
;J&9l >
在VirtualLab Fusion中构建系统
RLr^6+v)U
l fJ lXD
1. 系统构建模块
U((mOm6
mr\C
mv\S1[<T
^.~m4t`U
2. 组件连接器
T@x_}a:g
dPCn6
,ou&WI yC
!<W^Fh
几何光学仿真
Xgyi}~AoaU
o%.0@W
以光线追迹
- j_
A~%h*nZc%I
1. 结果:光线追迹
'5 kSr(
?Q G?F9?
ISALR{Aq
_8'z"wF
快速物理光学仿真
FvT;8ik:3
&JHqUVs^
以场追迹
>[a&,gS
68,(+vkB
1. NA=1.4时的光栅成像
$KMxq=
KG9FR*"
*J|]E(
ePxwN?
2. NA=0.75时的光栅成像
UTph(U#
6;{E-y
PWbi`qF)r
~ w,hJ `
3. NA=0.5时的光栅成像
I!;vy/r
CWW|?
+!Lz]@9K
查看本帖完整版本: [--
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
--] [--
top
--]
Copyright © 2005-2026
光行天下
蜀ICP备06003254号-1
网站统计