首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2023-08-24 08:17

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 >LLzG  
;N1FP*  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 J| DWT+$#Z  
uPo>?hpq+  
@K+u+} R  
aPb!-o{  
1. 案例 z.H`a+cl  
F H%yyT  
A|a\pL`@  
)7`~U"r  
在VirtualLab Fusion中构建系统 5 + Jy  
l{pF^?K  
1. 系统构建模块 e4`KnHsL  
_9gn;F  
dkn_`j\v  
4%6Q+LS']Q  
2. 组件连接器 >C&!# 3  
.-34 g5  
Q@j:b]Y9  
9,>M/_8>  
几何光学仿真 Wex4>J<`/  
Anm5Cvt;i  
以光线追迹 LaIif_fie^  
4{Ak|  
1. 结果:光线追迹 *lTu-  
W ][IHy<   
M1>a,va8Zq  
(J;?eeP  
快速物理光学仿真 =1JRu[&]8  
rLXn35O  
以场追迹 'qD9k J`  
i'u;"ot=  
1. NA=1.4时的光栅成像 *>#cs#)  
z&:[.B   
h}d7M55#|  
JjCf<ktE.  
2.  NA=0.75时的光栅成像 y7Ub~q U  
   rTJWftH!  
"LWp/  
;K_B,@:'  
3. NA=0.5时的光栅成像 bpILiC  
   7/yd@#$X  
INT2i8oU  
查看本帖完整版本: [-- 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2025 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计