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infotek 2023-07-28 16:30

Macleod薄膜专题设计中高级版——线上课程

价格:4500,VIP:4410   SVIP:4275 VcSVu  
课程共三十节 ZjQ |Wx  
课程简介
w35J.zn  
当收到需求者的光学规格及非光学规格如环境测试要求时,既可以着手选用所需的基板,镀膜材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手,例如高反射镜不管波宽大小,开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础,倘若是截止滤光片,则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时,我们需要考虑商业软件或自行设计电脑软件来参与合成或优化,设计好之后,即刻进行制造成功率分析,亦看膜层厚度的误差值的容许度,若是镀膜机的精密度做不到,则要修改设计,重新分析直到合格为止。 1DE<rKI  
课程涵盖Macleod软件所有模块、光学薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例,演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时,并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。 Z{ X|6.  
课程大纲 tG9BfGF  
1. 软件基础入门 Ay5i+)MD  
软件简介 17oa69G  
软件计算方法简介 T`\x,` ^  
程序基本框架和全局参数设置 )4<__|52"1  
程序中使用的各种术语的定义 \n8] M\<  
p?) ;eJtV/  
2. 图表 TgmnG/Z  
绘图和制表来表示性能 lOuHVa*}  
3D绘图-用两个变量绘图表示性能 cDFO;Dr  
交互式绘图的使用 E_])E`BJ  
3. 材料管理 j.w@(<=x  
材料的获取 Sa?ksD2IaB  
材料的导入与导出 (Pf+0,2  
材料数据平滑与插值 7=TF.TW)  
用包络法推导介质膜的光学常数 i|w81p^o  
利用光谱仪的测量值计算基底光学常数 )Ch2E|C?=8  
材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann) LcB]Xdsa(  
4. 薄膜设计与优化简介 wVicyiY]  
优化与合成功能说明 *W0y: 3dB3  
优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local) 6K-_pg]  
膜层锁定和链接 TZ(cu>  
减反膜优化 xLNtIzx  
高反膜优化 #sPHdz'3M  
滤光片优化 E9Np0M<  
斜入射光学薄膜 hb zC#@ q  
5. 反演工程 a(kg/s  
镀膜过程中两种主要的误差(系统误差和随机误差) }XV+gyG=@  
使用反演工程来控制对设计的搜索,该设计代表实际生产的产品 75"f2;  
6. 分析工具 _aFl_\3>  
颜色模型和分析工具 ko.(pb@+  
公差工具和良品率预估 9[b<5Llt  
灵敏度分析 s%C)t6`9  
7. 附加模块-Vstack ;aI[=?<x  
非平行平面镀膜 \Xm,OE_v"  
棱镜镀膜透反吞吐量评估 .S(TxksCz  
8. 附加模块-DWDM m?pstuUK(  
光通信用窄带滤光片模拟 DnCP aM4%  
9. 附加模块-Runsheet&Simulator *1p|5!4c  
光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号 KIui(n#/  
镀膜沉积过程噪声信号模拟 Co (.:z~  
10. 附加模块-Function iOR_[y,  
如何在Function中编写脚本 dv8>[#  
案例:自定义画图 !UG 7Uer  
案例:太阳能抗反射薄膜分析 T (OW  
案例:膜厚变化颜色变化
infotek 2023-07-28 16:35
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