| infotek |
2023-07-28 16:30 |
Macleod薄膜专题设计中高级版——线上课程
价格:4500,VIP:4410 SVIP:4275 (`mOB6j 课程共三十节 5f3!NeI 课程简介: $4h04_" 当收到需求者的光学规格及非光学规格如环境测试要求时,既可以着手选用所需的基板,镀膜材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手,例如高反射镜不管波宽大小,开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础,倘若是截止滤光片,则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时,我们需要考虑商业软件或自行设计电脑软件来参与合成或优化,设计好之后,即刻进行制造成功率分析,亦看膜层厚度的误差值的容许度,若是镀膜机的精密度做不到,则要修改设计,重新分析直到合格为止。 Y_lCcu#OA 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例,演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时,并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。 OR~G Ov| 课程大纲: u'Pn(A@1R 1. 软件基础入门 }wL3mVz 软件简介 y`+<X{V5L 软件计算方法简介 Is
kSX 程序基本框架和全局参数设置 3G(skphE 程序中使用的各种术语的定义 c#x7N9;"!
~ i'C/[P 2. 图表 !Iko0#4i 绘图和制表来表示性能 qAvvXs=5 3D绘图-用两个变量绘图表示性能 ;]u1~ 交互式绘图的使用 skSNzF7' 3. 材料管理 hhj
,rcsi 材料的获取 :z124Zf 材料的导入与导出 {5.?'vMp 材料数据平滑与插值 )#mW7m9M# 用包络法推导介质膜的光学常数 MHn&;
A] 利用光谱仪的测量值计算基底光学常数 %9.bu|`KK 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann) Y?e3B x7*b 4. 薄膜设计与优化简介 uTUa4^]* 优化与合成功能说明 [$H( CH` 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local) IjgBa-o/V 膜层锁定和链接 EyPy*_A 减反膜优化 X)Ocn`| 高反膜优化 ]q37 Hj 滤光片优化 s'2y%E# 斜入射光学薄膜 $q.p$JQ: 5. 反演工程 25w6KBTe;: 镀膜过程中两种主要的误差(系统误差和随机误差) k0=|10bi 使用反演工程来控制对设计的搜索,该设计代表实际生产的产品 B1HQz@^ 6. 分析工具 uk1v7#p 颜色模型和分析工具 +-",2d+g 公差工具和良品率预估 Je@p5(f 灵敏度分析 #C'o'%!( 7. 附加模块-Vstack <w%DyRFw3 非平行平面镀膜 v3!by N^ 棱镜镀膜透反吞吐量评估 }$w4SpR 8. 附加模块-DWDM S/) 光通信用窄带滤光片模拟 |)*m[_1 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
$o{F 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号 Yoj~|qL 镀膜沉积过程噪声信号模拟 ,!8*g[^O 10. 附加模块-Function 8o%E&Jg: 如何在Function中编写脚本 }NR`81 案例:自定义画图 B44]NsYks~ 案例:太阳能抗反射薄膜分析 M55e= 案例:膜厚变化颜色变化
|
|