infotek |
2023-07-28 16:30 |
Macleod薄膜专题设计中高级版——线上课程
价格:4500,VIP:4410 SVIP:4275 F\, vIS 课程共三十节 M8Vc5 课程简介: *`}
!{
Mb 当收到需求者的光学规格及非光学规格如环境测试要求时,既可以着手选用所需的基板,镀膜材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手,例如高反射镜不管波宽大小,开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础,倘若是截止滤光片,则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时,我们需要考虑商业软件或自行设计电脑软件来参与合成或优化,设计好之后,即刻进行制造成功率分析,亦看膜层厚度的误差值的容许度,若是镀膜机的精密度做不到,则要修改设计,重新分析直到合格为止。 <UF0Xc&X' 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例,演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时,并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。 'W,*mfB 课程大纲: o$eo\X?J? 1. 软件基础入门 )=#e*1!b 软件简介 d~AL4~} 软件计算方法简介 p}3` "L= 程序基本框架和全局参数设置 =z;]FauR! 程序中使用的各种术语的定义 RIQ-mpg~(k
CT5s`v!s 2. 图表 oYdE s&qq 绘图和制表来表示性能 G^N@r:RS 3D绘图-用两个变量绘图表示性能 {,i-V57-h 交互式绘图的使用 ,PmUl= 3. 材料管理 3dSb!q0&N 材料的获取 dQ:F 5|p 材料的导入与导出 m}u)C&2> 材料数据平滑与插值 k 3H0$1 用包络法推导介质膜的光学常数 wZZ~!"O& 利用光谱仪的测量值计算基底光学常数 re_nb)4g 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann) obE8iG@H 4. 薄膜设计与优化简介 Pz34a@%" 优化与合成功能说明 O/|))H?C 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local) AT)b/ycC 膜层锁定和链接 m%
3 D 减反膜优化 JO*/UC>" 高反膜优化 z3]W # 滤光片优化 ?m5EXe 斜入射光学薄膜 ]Zt ]wnL+ 5. 反演工程 63 'X#S 镀膜过程中两种主要的误差(系统误差和随机误差) aW*k,\:e 使用反演工程来控制对设计的搜索,该设计代表实际生产的产品 ~;?<OOt|wG 6. 分析工具 ^GAJ9AF@( 颜色模型和分析工具 #D/*<:q5 公差工具和良品率预估 q8&l%-d` 灵敏度分析 d|oO2yzWv 7. 附加模块-Vstack 4w~%MZA^ 非平行平面镀膜 5VP0Xa ~ 棱镜镀膜透反吞吐量评估 8q%y(e 8. 附加模块-DWDM yq49fEgc@U 光通信用窄带滤光片模拟 F@k}p-e~ 9. 附加模块-Runsheet&Simulator t/Y0e#9, 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号 2mnAL# 镀膜沉积过程噪声信号模拟 Db<#gH 10. 附加模块-Function SOq:!Qt 如何在Function中编写脚本 $%q=tn'EX 案例:自定义画图 :^Pks R 案例:太阳能抗反射薄膜分析 HO['o{>BL 案例:膜厚变化颜色变化
|
|