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infotek 2023-07-28 16:30

Macleod薄膜专题设计中高级版——线上课程

价格:4500,VIP:4410   SVIP:4275 ' R{ [Y)  
课程共三十节 tM~R?9OaJ  
课程简介
i/~A7\:8%  
当收到需求者的光学规格及非光学规格如环境测试要求时,既可以着手选用所需的基板,镀膜材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手,例如高反射镜不管波宽大小,开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础,倘若是截止滤光片,则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时,我们需要考虑商业软件或自行设计电脑软件来参与合成或优化,设计好之后,即刻进行制造成功率分析,亦看膜层厚度的误差值的容许度,若是镀膜机的精密度做不到,则要修改设计,重新分析直到合格为止。 D(yRI  
课程涵盖Macleod软件所有模块、光学薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例,演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时,并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。 f\1)BZ'I  
课程大纲 7Qz Uw  
1. 软件基础入门 'r3I/qg*m  
软件简介 -(~CZ  
软件计算方法简介 CmM K\R.  
程序基本框架和全局参数设置 Rs7=v2>I  
程序中使用的各种术语的定义 @ 3FTf"#Y  
*V5R[   
2. 图表 |_Z(}% <o  
绘图和制表来表示性能 $:SHZe  
3D绘图-用两个变量绘图表示性能 1)H+iN|im/  
交互式绘图的使用 C}#JvNyQ  
3. 材料管理 )V} t(>V  
材料的获取 N_Yop  
材料的导入与导出 6!O~:\`DJ  
材料数据平滑与插值 GoZr[=d  
用包络法推导介质膜的光学常数 8h}o5B  
利用光谱仪的测量值计算基底光学常数 a*! wiTGf  
材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann) :,% vAI  
4. 薄膜设计与优化简介 c V=h 8F  
优化与合成功能说明 E\5t&jZr  
优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local) *e!0ZB3J  
膜层锁定和链接 Q"S;r1 D  
减反膜优化 {|bf`  
高反膜优化 hxGZ}zq*S  
滤光片优化 &V:iy  
斜入射光学薄膜 wHvX|GwMv  
5. 反演工程 *6?h,Dt L  
镀膜过程中两种主要的误差(系统误差和随机误差) iO~3rWQ  
使用反演工程来控制对设计的搜索,该设计代表实际生产的产品 FY@ErA7~  
6. 分析工具 3a_~18W  
颜色模型和分析工具 ~sx?aiO  
公差工具和良品率预估 GMyzQ]@}  
灵敏度分析 +QGZ2_vW  
7. 附加模块-Vstack uPQ:}zL2  
非平行平面镀膜 mbK$_HvU  
棱镜镀膜透反吞吐量评估 7='lu;=,  
8. 附加模块-DWDM gDa}8!+i  
光通信用窄带滤光片模拟 $i;%n1VBg  
9. 附加模块-Runsheet&Simulator uzr(gFd  
光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号 1/:WA:]1 ,  
镀膜沉积过程噪声信号模拟 JmjqA Dex  
10. 附加模块-Function 9(V12gn+lk  
如何在Function中编写脚本 9@/ X;zO  
案例:自定义画图 O4dJ> O  
案例:太阳能抗反射薄膜分析 uS`XWn<CSD  
案例:膜厚变化颜色变化
infotek 2023-07-28 16:35
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