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infotek 2023-07-28 16:30

Macleod薄膜专题设计中高级版——线上课程

价格:4500,VIP:4410   SVIP:4275 | LdDL953  
课程共三十节 W&>ONo6ki  
课程简介
: GBnf]A,^ @  
当收到需求者的光学规格及非光学规格如环境测试要求时,既可以着手选用所需的基板,镀膜材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手,例如高反射镜不管波宽大小,开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础,倘若是截止滤光片,则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时,我们需要考虑商业软件或自行设计电脑软件来参与合成或优化,设计好之后,即刻进行制造成功率分析,亦看膜层厚度的误差值的容许度,若是镀膜机的精密度做不到,则要修改设计,重新分析直到合格为止。 uFPJ}m[>5  
课程涵盖Macleod软件所有模块、光学薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例,演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时,并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。 +Y;/10p  
课程大纲: Dn/{  s$\  
1. 软件基础入门 }4G/x;D  
软件简介 O6JH)Ka"S  
软件计算方法简介 A/ppr.  
程序基本框架和全局参数设置 /4x3dwXW@  
程序中使用的各种术语的定义  <sdC#j  
~1e?9D  
2. 图表 ZH6#(;b  
绘图和制表来表示性能 x?T.ItW:K  
3D绘图-用两个变量绘图表示性能 \$;Q3t3  
交互式绘图的使用 K??(>0Qr}r  
3. 材料管理 w}2;f=  
材料的获取 kB~KC-&O  
材料的导入与导出 'Pk1 4`/  
材料数据平滑与插值 5X"y46i,H  
用包络法推导介质膜的光学常数 qz]b8rX  
利用光谱仪的测量值计算基底光学常数 U Px7u%Do  
材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann) Op''=Ar#sh  
4. 薄膜设计与优化简介 |ci1P[y  
优化与合成功能说明 e'%"G{(D  
优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local) 4rX jso|  
膜层锁定和链接 qu>5 rg-  
减反膜优化 x@^Kd*fo  
高反膜优化 ;yd[QT<I<  
滤光片优化 x-W6W  
斜入射光学薄膜 J*4byu|  
5. 反演工程 W>jgsR79M  
镀膜过程中两种主要的误差(系统误差和随机误差) ~\4`tc  
使用反演工程来控制对设计的搜索,该设计代表实际生产的产品 z +NxO !y  
6. 分析工具 p\xi5z  
颜色模型和分析工具 ^uZ!e+   
公差工具和良品率预估 &dA{<.  
灵敏度分析 ?[Gj?D.Wc  
7. 附加模块-Vstack H|V q  
非平行平面镀膜 tzl`|UwF  
棱镜镀膜透反吞吐量评估 & QO9/!  
8. 附加模块-DWDM @C\>P49  
光通信用窄带滤光片模拟 a3i;r M2  
9. 附加模块-Runsheet&Simulator DdAs]e|D[  
光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号 `8 Q3=^)3  
镀膜沉积过程噪声信号模拟 |n9q 4*dN  
10. 附加模块-Function G3 h&nH,>  
如何在Function中编写脚本 e[5= ?p@|  
案例:自定义画图 -v]v m3Na  
案例:太阳能抗反射薄膜分析  k2]Q~  
案例:膜厚变化颜色变化
infotek 2023-07-28 16:35
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