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infotek 2023-06-08 08:42

光栅起偏器的参数优化

N132sN2   
案例315.01:光栅起偏器的参数优化 ~ aZedQc  
"rXOsX\;  
这个案例说明了对于一个用于VIS光起偏的亚波长光栅的参数优化过程。 %IL6ix  
%;`>`j5  
关键词:参数优化,光栅,起偏器,亚波长 'f?.R&sCA  
^[TV;9I*  
所需工具箱:高级光栅工具箱 T+"f]v  
=fc: 6JR  
相关案例:100.01,101.01 H;<!TX.zD  
E]^5I3=O  
相关教程和技术说明:Tutorial 101.01, TN.021 ]kktoP|D  
x:K?\<  
建模任务: Z+s%;f;  
S_J :&9L  
平面波入射周期为200nm的镀铬线性矩形光栅,基底为融石英,产生TE模的起偏。 z?8~[h{i%  
uMXc0fs!$  
3bC yTZk  
优化目标: {I%y;Aab8  
bv?0.{Z  
—TE模偏振光的透过率最大化 c yQ(fIYl  
U` R;P-  
—TM模偏振光的透过率最小化 #?} 6t~  
g=]&A  
优化函数: 4h 5_M8I  
M\/XP| 7  
—最小化TE的透过率 D>ai.T%n  
~JZ3a0$^  
—最小化偏振度(要求>50:1) P1 +"v*  
7r{qJ7$%  
6=|&tE  
   vg%QXaM  
—使用力优先级使TE透过率的均匀误差最小化 GA^mgm"O  
34C``i  
-$Y8!54  
4yV].2#rl"  
优化的自由变量为: (;o*eFC F  
gqiXmMm:9  
—缝宽:10—190mm wuK=6RL  
Unl?fXI  
—光栅深度:20—200nm "|LQK0q3  
,j;PRJ  
优化算法: Rmh*TQu  
+!>LY  
—使用Parameter run 进行一个全波长的全局搜索使得TE透过率的最大值最小同时使得偏振对比度的最大值最低。全局搜索不是强制的,但是它帮助确定在几个最大值和最小值之间确定优化参数的起始点。 ]Bu DaxWN  
—参数优化使用下山简法(局部优化)和模拟退火法(全局优化)。参数优化使得找到在偏振对比度和TE透过率之间的一种平衡。 :F|\Ij0T  
=TcOnQj  
光路流程图和偏振分析器: &H;8QZ8uw  
4be> `d5j  
偏振光栅的光路流程图存储在文件“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_01”中。  .Oo/y0E^  
@h-T:$  
对于给定的波长范围,偏振分析器被用来计算相关偏振方向的最大和最小值。并可以计算 和 的反射或透射的最大和最小值。像偏振对比度这样高级的优化函数也可以被计算出来。 w-FnE}"l  
 0%Q9}l#7  
Parameter Run 的全局搜索: Y^lQX~I2{  
FUTn  
Parameter Run文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_02”中。 TL-i=\{L:d  
AqYxWk3>  
Parameter Run 设置 cK}Pf+r>  
~@M7&%]  
缝宽:10—19nm 步长10nm; $+VgDe5{S  
`"<2)yq?  
规划深度:20——200nm 步长10nm; ?vbDB4  
b :\D\X  
使用扫描模块进行所有参数的整合研究。  ]6~k4  
OhWC}s  
在自由参数模块中选择深度和缝宽。 CyTFb$Z  
b~w KF0vq  
使用扫描模块进行参数联合调查。
Kdt|i93  
优化函数依据迭代次数进行显示:
{g=b]yg\o  
`7B14:\A  
左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 v5Y@O|i#  
*FPg#a+  
TE透过率和偏振对比度对于不同参数设置已经达到了最大化。 "Gh#`T0#a  
Baq ~}B<  
参数构成: uB+9dQ  
R 7K  
缝宽50nm,规划深度200nm;最小TE透过率72.7%;最小偏振对比度62;TE透过率均匀误差7%;
/RF%1!M K  
5Bj77?Z  
]7<m1Lg  
Sr7@buF  
  
@a;sV!S{  
局部参数优化: hmzair3X  
使用局部参数优化的参数优化文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_03”中。 yV_ L/,6}D  
起始值为:缝宽:50nm,规划深度200nm; sFx$>:$  
lZ a?Y@  
参数和优化函数被严格定义,以便在TE透过率,偏振对比度和TE透过率均匀误差之间找到平衡。 qRUCnCZs  
  
mVrKz  
@^HwrwRA  
参数定义: 24|<<Xn  
规划深度为20-200nm,权重1e20 ,?w!5N;iRO  
缝宽10—190nm权重1e20 jEE_D +K  
N[ Q#R~Hn<  
优化函数定义: +3?`M<L0  
——TE效率最小值被最大化(全波段) :|($,3*  
p2a?9R  
——偏振对比度大于50(全波段) >Jiij  
——均匀误差最小化,但对于通用优化函数只具有较低影响。 w%~qB5wF6  
?1DUNZ6  
Ns~ g+C9  
选择下山简法进行局部优化。 ;_bq9x  
左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 Bfn]-]>sD  
Zih5/I  
   优化好的光路流程图存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_04”中。 VVN # $  
Ei~]iZ}  
优化过的参数为: hs,5LV)|y  
缝宽:46nm;规划深度200nm;最小化偏振对比度50;TE透过率的均匀误差7% V%o#AfMI_  
结论: 5Q;dnC  
偏振分析器允许评估偏振光栅的波长和角独立性。 v['AB4  
?:JdRnH\  
Parameter Run允许对参数空间进行全局搜索找到局部参数优化的合适起始点。 z=%IcSx;  
最后使用下山简法进行偏振光栅的局部参数优化。

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