OCAD应用:双光楔扫描型系统初始结构设计
双光楔式扫描系统是一种共轴式折射元件的扫描方式。它利用双光楔的共轴相对转动连续改变组合楔角大小,获得系统光轴连续摆动以实现系统扫描的一种扫描类型。该扫描方式由于利用折射的光楔元件,光楔楔角大小受一定限制,因此扫描范围不宜过大。利用双光楔扫描可以实现一维线性扫描,两维平面扫描以及两位圆周扫描。再利用系统轴向调焦,还可以实现三维立体扫描。当然系统可以是物方扫描或是像方扫描均可。 A(&\wd e[x,@P` 在设计时,同样在连续几次选择菜单后,在“系统基本数据”窗体内选择“双光楔扫描方式”后会出现对应窗体,在窗体上选择扫描方式如“像方深度扫描”后,窗体形式如图1。接着再在 “设计”菜单点击“双光楔扫描系统设计”出现右图,利用图中滚动条即可进行自动设计。 eW.qMx#:od 设计完成后可做各种扫描仿真以及公差分析,幷给出公差分析曲线以确保设计的准确性。 g s1 s8(Z&pQ
图1.双光楔扫描型系统设计窗体 ]kNxytH\o 利用一对光楔(双光楔)的绕光轴连续相对等速转动可以改变光轴偏转方向,OCAD可以实现双光楔系统的连续扫描。他与反射镜扫描不同就在于他的可连续性,而且其扫描中心轴与其入射光轴保持一致,为此可以在双光楔转动扫描的同时,利用光学系统整体或局部绕光轴转动实现系统圆锥式扫描。此外,在一个光学系统内可以同时使用两套双光楔可以实现两维平面扫描。 .nIGs'P FsUH/Y
y 1.双光楔一维线性扫描系统设计 '(r?($s tz65Tn_M 利用一对双光楔的相对转动可以实现光学系统的一维扫描。在扫描过程中如果在像面上的像面尺寸不变可以对应物方位置变化,形成在保持物方瞬时视场不变的前提下对物方目标进行扫描。反之如果保持物方画面不变,可以实现在像方进行像面扫描。 AIl`>ac 为实现双光楔一维线性扫描系统自动设计,可以在主窗口界面环境下利用“编辑”中的“系统基本数据”菜单窗体内选择“扫描系统”的“双光楔扫描方式”出现设计窗体如图1。 D`n<!"xg@$ 然后在此窗体内选择“物方扫描”或“像方扫描”,再选择“线性扫描”。此时就可以在窗体内填写设计要求,比如物(像)方扫瞄视场(角度)、扫瞄视场(角度)公差要求、指定计算扫描数以及指定光楔角度单位(角度或角分),再就是要指定双光楔在系统内所在面序号。由于双光楔有两个光楔,每个光楔只有一个斜角面,因此在指定光楔面序号时要分别指定前后两个斜角面的斜角面序号。当然还可以给出光楔斜角面的斜角角度参考值及角度公差值。以上信息填写完毕,点击确定按钮“√”程序会立即自动计算出光楔的角度值完成设计。图2就是这的设计满足设计要求的系统结构示意图。图3为双光楔一维线性扫描系统像面误差曲线图供误差分析参考。 wa[J\lW 1Mq"f7X8
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图2.双光楔一维线性扫描系统结构示意图 3 a(SmM: &z3_N
图3.双光楔一维线性扫描系统像面误差曲线图 7y& |