利用光线追迹分析高数值孔径透镜系统
关键词:光线追迹,高数值孔径,点列图,光斑尺寸 =sL(^UISl oNrEIgaA(+ 1. 描述 wiKCr/ ■ 该案例中阐述了如何利用VirtualLab对一个具有高数值孔径的透镜系统进行分析。 ?#U0eb5u ■ 我们将对焦面前和焦面上对三维光线结构和二维点列图进行讨论。 V_ {vZ/0e ■ 此外,VirtualLab可用于测量焦平面上的光斑尺寸。 ]C+eJ0"A nO-d"S* 2. 系统 $To4dJb V5cb}xx
文件名:UseCase.0082_FocussingSystem.lpd IBzHR[#,^ 3. 透镜系统组件编辑 ;;D%
l^m+ h#v L5At ■ 在光路视图中双击透镜系统元件,可以显示元件编辑窗口。 a =9vS{ ■ 透镜系统是由序列光学表面(OIS)定义的。 B<rPvM7a ■ 每一个可选项都有独立的参数,并可以设定。 9#s,K! !3{ ■ 包括序列光学表面和光学介质。 gjO
*h3` <r@bNx@T u2f `|+1^y 4. 光线追迹系统分析器-选项 (}VuiNY< |