利用光线追迹分析高数值孔径透镜系统
关键词:光线追迹,高数值孔径,点列图,光斑尺寸 A\`Uu& Lst5 1. 描述 RMXP)[ ■ 该案例中阐述了如何利用VirtualLab对一个具有高数值孔径的透镜系统进行分析。 N5^:2ag ■ 我们将对焦面前和焦面上对三维光线结构和二维点列图进行讨论。 /NZR| ■ 此外,VirtualLab可用于测量焦平面上的光斑尺寸。 x>cu<,e$d\ 8J} J;Ga 2. 系统 DcS~@ ; #u_-TWVt
文件名:UseCase.0082_FocussingSystem.lpd # V+e 3. 透镜系统组件编辑 2;/hFwm D%zIm,bf ■ 在光路视图中双击透镜系统元件,可以显示元件编辑窗口。 -t]0DsPg ■ 透镜系统是由序列光学表面(OIS)定义的。 2.yzR DfZ ■ 每一个可选项都有独立的参数,并可以设定。 a^BD55d? ■ 包括序列光学表面和光学介质。 $\H>dm TO< |