利用光线追迹分析高数值孔径透镜系统
关键词:光线追迹,高数值孔径,点列图,光斑尺寸 EjE`S_i= \0T*msYQ 1. 描述 }e=GvWGa ■ 该案例中阐述了如何利用VirtualLab对一个具有高数值孔径的透镜系统进行分析。 +9rbQ?' ■ 我们将对焦面前和焦面上对三维光线结构和二维点列图进行讨论。 HFWm}vA: ■ 此外,VirtualLab可用于测量焦平面上的光斑尺寸。 c!wB'~MS# $v@$oPmMj 2. 系统 @5V Z 5d{Ggg{s
文件名:UseCase.0082_FocussingSystem.lpd kR?n%`&k 3. 透镜系统组件编辑 S,v >*AF L(P:n-^ ■ 在光路视图中双击透镜系统元件,可以显示元件编辑窗口。 .V:< |