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infotek 2023-03-16 09:11

大数值孔径显微镜极限分辨率的研究

光学测量＞显微 ]31=8+D  
2P)O 0j\/  
任务/系统视图 8 ]exsn Z  
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~%C F3?e6  
_Gf-s51s  
亮点 G~v:@  
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> <Zu+HX  
 lSW'qgh  
 显微镜系统中光栅的全矢量分析 8e3eQ  
 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 xb<|m2<)H  
 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 *coUHbP9>  
\D(3~y>  
说明：光源 %Zbm%YaW5  
-*MY7t3  
biU_ImJ>0  
^=n7E  
Nh_\{ &r  
lux g1>  
说明：透镜系统 o5 fV,BJZO  
mO]>]   
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说明：样品结构 DU$#tg}{  
<n06(9BF  
:i4(cap&}F  
lZ.lf.{F  
说明：探测器 }8#Ed;%K  
K%+4M#jj5  
w5{l-Z  
pCrm `hy(  
 +(92}~RK  
<<CWN(hQWO  
结果：3D光线追迹 <j>;5!4!}  
X,_K )f  
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NytTyk)  
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结果：光线追迹 Wp8>Gfb2  
Fd\uTxykp  
c8"Qmy  
#jrlNg4(  
结果：光线追迹衍射级数 _^#eO`4"  
3&7? eO7*  
T+&fUhSy  
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结果：场追迹采样平面 a-Y6ghs  
CvE^t#Bok  
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BJWlx*U]  
结果：场追迹焦平面 L r"cO|F  
8R!-,I"$  
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结果：减小光栅周期 qi7C.w;  
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随着光栅周期的减小，光栅结构不能被分辨。 |<h}'  
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