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infotek 2023-03-16 09:11

大数值孔径显微镜极限分辨率的研究

光学测量＞显微 wc@X.Q[  
ha<[b ue  
任务/系统视图 r EE1sy/#  
z=\&i\>;Z+  
^$jb7HMObI  
WM$ MPs  
亮点 2DDtu[}  
(UD@q>c  
:uS\3toj  
 3BUSv#w{i  
 显微镜系统中光栅的全矢量分析 / &5,3rU.G  
 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 N7zft  
 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 yjX9oxhtL  
B)g[3gQ  
说明：光源 [=q1T3  
x.6:<y  
UYJZYP%r  
wH&!W~M  
;?i W%:_,  
20h, ^  
说明：透镜系统 WIxy}3_to  
N/2 T[s_&  
;7V%#-  
说明：样品结构 `5.'_3  
`i*E~'  
g3/W=~r  
*u[BP@vE  
说明：探测器 OX!tsARC@  
u'DRN,h+  
sY Qk  
YnAm{YyI  
 J/aC}}5D  
wKxtre(v  
结果：3D光线追迹 <{cQM$ #  
Om\vMd@!  
cp7=epho  
HyZqUb Ha  
zu{P#~21  
k$R-#f;  
结果：光线追迹 #OD/$f_  
3yF,ak {Sl  
& G4\2l9  
Id .nu/  
结果：光线追迹衍射级数 WiR(;m<g  
aP+X}r  
l'.VKh\C  
b9HtR-iR;  
结果：场追迹采样平面 WlC:l  
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q"8e a/  
结果：场追迹焦平面 k"zv~`i'  
c9u`!'g`i  
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结果：减小光栅周期 ,f'CD{E  
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随着光栅周期的减小，光栅结构不能被分辨。 G@X% +$I  
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   F/kWHVHU[  
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