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infotek 2023-03-16 09:11

大数值孔径显微镜极限分辨率的研究

光学测量＞显微 )8taMC:H^  
8ly Ng w1  
任务/系统视图 6FX]b4  
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T2A74>Nw  
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亮点 o4^#W;%w  
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cR&d=+R&  
 QO>)ug+  
 显微镜系统中光栅的全矢量分析 /IG3>|R  
 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 C,8@V`  
 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 l$!Z};mw0E  
(SCZ.G(>  
说明：光源 kaRjv   
ZftucD|ZY/  
Bnz}:te}  
S] 4RGWn  
KkJE-k*D+w  
vos-[$  
说明：透镜系统 a ~k*Gd(  
{ )4@rM  
rW)}$|-Z  
说明：样品结构 X;{U?`b-  
>w1jfpQ@t$  
eH9-GGr  
BOl*. t  
说明：探测器 Q@s G6 iz  
m[w~h\FS  
2{G7ignv  
:FixLr!q  
 pW&8 =Ew  
h  m(  
结果：3D光线追迹 ;?gR,AKZ  
"77l~3  
zB"y^g  
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@ 3b-  
InG<B,/W?  
结果：光线追迹 gT|&tTS1@  
j[w5#]&%  
Iy2AJ|d.  
S3dcE"hg  
结果：光线追迹衍射级数 ,f .#-  
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,27=i>>  
7D4I>N'T  
结果：场追迹采样平面 Zk # C!]=  
s3)T}52  
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SU4~x0  
结果：场追迹焦平面 (!<G` ;}u  
h-@_.&P0e  
l 4cTN @E  
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结果：减小光栅周期 -vS7%Fbr  
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随着光栅周期的减小，光栅结构不能被分辨。 p|=0EWo4U  
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 \fC}l Ll  
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