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infotek 2023-03-16 09:10

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 b1!@v+  
h[=nx^  
任务/系统说明 V_a)jJ  
FrZ]=:  
^ @.G,u  
QB 77:E  
亮点 [BXyi  
^9ng)  
Jyu`-=It  
 ^Omfe  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; !dv-8C$U  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; FDLd&4Ex  
Y%IJ8P^Y  
具体要求:光源 \f"?Tv-C'  
|< N frz  
eoJ]4-WFq  
w:Q|?30  
具体要求:用于准直的消色差透镜 If.n(t[M9  
:t2B^})\  
#%cR%Z  
.5g}rxO8  
*]{=8zc2  
RG? MRxC  
?~)Ak`=  
~n]NyVFP  
具体要求:分束器 3A R%&:-  
~t9Mh^gij  
2X_>vIlEm  
@)z*BmP  
具体要求:参考光路反射镜 fq Y1ggL  
; J2-rh  
eycV@|6u*  
rv?!y8\  
/c^e& D  
W uf/LKj  
具体要求:测试光路反射镜 #{w5)|S#JD  
;o >WXw  
yqBa_XPV8  
DR{] sG  
具体要求:探测器 5&qY3@I7l  
yfq>,  
tDU}rI8?  
k5s?lWH  
结果:3D光线追迹 ZeTL$E[E}  
N ^f}ui i  
qvTJ>FILT  
x3;jWg~'  
结果:场追迹 ^;64!BaK  
wWFW,3b  
Y^5"qd|`  
}s6G!v^2""  
结果:移动样品的场追迹结果 H%~Q?4  
>D3z V.R  
U IQ 6SvM  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 1g81S_T .  
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