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infotek 2023-03-16 09:10

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 oK-d58 sM  
%'i_iF8.  
任务/系统说明 J_7@d]0R  
,Y6]x^W  
]" e'z  
cr<j<#(Z}  
亮点 L C##em=Y  
&]LpGl  
x7<NaMK\  
!hM`Oe`S  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; ]Jm\k'u[  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; R) :Xs .  
@k)J i!7  
具体要求:光源 rQlQ^W$=?  
9xj }<WM  
N%>h>HJ  
F .Zk};lb  
具体要求:用于准直的消色差透镜 N>YSXh`W`y  
3) d }3w {  
d/F^ez  
l'_]0%o]  
,SNrcwv  
ZklpnL*!  
*P9"1K +  
QEbf]U=  
具体要求:分束器 7S 8X)  
TfkGkVR  
OI6Mx$  
(yi zM  
具体要求:参考光路反射镜 2Sa{=x N)  
?D2a"a$^  
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YkMFU'?[  
+D4m@O  
QD{1?aY  
具体要求:测试光路反射镜 a%U#PF6   
'h0>]A 2|X  
%z1^  
T(Q ~b  
具体要求:探测器 `pCy:J?d>l  
[jlum>K  
J ;z`bk^  
|>xuH#Q  
结果:3D光线追迹 g.di3GGi  
=y@0i l+V  
>itabG-&  
Ns1n|^9  
结果:场追迹 4v _Hh<%  
 XD8 I.q  
D8u`6/^  
ogQfzk  
结果:移动样品的场追迹结果 'Ca;gi !U  
CUG"2K9  
ttJ'6lGXh  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 elhP!"G  
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