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infotek 2023-03-16 09:10

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 (8R M|&  
Uij$ eBN  
任务/系统说明 tB7aHZ|  
5xKR ]u  
Pl6=._  
t,6=EK*3T  
亮点 2>s;xZ@/'R  
y~[So ,G  
5gEK$7Vp  
>o7k%T|l$  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; _v,n~a}&  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; = ByW`  
Z;:-8 HPDY  
具体要求:光源 aQ. \!&U  
WI3!?>d  
bcNYoZ8`  
Q0-~&e_'  
具体要求:用于准直的消色差透镜 N h%8;  
v0sX'>f  
V5MbWXgR  
* PPFk.#x  
f*Bc`+G  
#>'0C6Xn  
@pz2}Hd |  
,\7okf7H,-  
具体要求:分束器 m|[ Hhw=f  
S]m[$)U%@  
CqV \:50g  
E*vi@aI  
具体要求:参考光路反射镜 ^D)C|T  
Y*f<\z(4  
k,,}N 9  
^ z;pP  
V96BtV sB  
[<hiOB  
具体要求:测试光路反射镜 RB2u1]l  
dXhV]xK  
b3H;Ea?^^<  
1+'3{m \5T  
具体要求:探测器 {Bx\Z0+'&  
04:Dbt~=?p  
_DQdo  
#]2u!a ma  
结果:3D光线追迹 7w|s8B  
\JchcQ  
y-YYDEl  
R.@GLx_zpQ  
结果:场追迹 _4+1c5Q!  
[B Al  
+7w>ujeeJA  
}V{, kK  
结果:移动样品的场追迹结果 =0S7tNut  
IftPN6(Z  
_" n4SXhq  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 d hy=x  
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