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infotek 2023-03-16 09:10

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 Zw$ OKU  
M"U OgS  
任务/系统说明 |!LnAh  
jN/ j\x'  
ssl&5AS  
6sB$<#  
亮点 1R*=.i%W  
Y=2Un).&  
ut &/\k=N  
l,d, T  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; c2<,|D|  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; 2z\;Q8g){r  
[B9;?G  
具体要求:光源 P`"mM?u  
9y~"|t  
v0@)t&O  
!>g:Si"  
具体要求:用于准直的消色差透镜 };S0 G!  
n29(!10Px  
HI!4  
mX\ ;oV!  
wss?|XCI  
M"wue*&  
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/1fwl5\  
具体要求:分束器 R^8{bP  
*H2]H @QHN  
Q"VMNvKYB  
_H\<[-l  
具体要求:参考光路反射镜 Cs1>bpY*R6  
kso*}uh0  
3&*'6D Tg  
^oeJKjJ  
`\b+[Nes  
,rO[mNk9@  
具体要求:测试光路反射镜 44-r\>  
u \g ,.C0  
m ,tXE%l  
 CL3xg)x6  
具体要求:探测器 u%2KwRQ  
mEDpKWBk  
PC/!9s 0W  
(3%t+aqq  
结果:3D光线追迹 P))^vUt~  
+nU.p/cK+\  
FpVV4D  
oNYZIk:  
结果:场追迹 o4Q3<T7nI  
r@$ w*%  
:.&{Z"  
+AI`R`Tm  
结果:移动样品的场追迹结果 j_Nm87i]  
h-XY4gq/  
!OE*z $\  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 !%S4 n  
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