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infotek 2023-03-16 09:10

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 <`c25ih.4  
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任务/系统说明 tLS<0  
:%/\1$3P  
oMh~5 W  
#0P!xZ'|{  
亮点 GFd Z`i  
YO@hE>  
fDU+3b  
hz< |W5  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; UvPp~N 7,  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; M MAAHo  
DH\wDQ  
具体要求:光源 OlEpid'Z  
,'FD}yw4v  
Az U|p  
4@DVc7\x$  
具体要求:用于准直的消色差透镜 *-9#/Cp  
tCWJSi`IJ  
RRx`}E9,  
PqT"jOF]n  
7^ B3lC)  
`Uz s+k-]  
HR[Q ?rg  
^pJ0nY# c  
具体要求:分束器 xe(MHNrj  
\4OK!6LkI  
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8]My k>  
具体要求:参考光路反射镜 *I=_*LoG2  
4$%`Qh>yA  
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BiA >QQ  
:tKbz nd/  
7k 3p'FeS  
具体要求:测试光路反射镜  \C|;F  
Ip>^O/}$1  
N%O[  
Y.E?;iS  
具体要求:探测器 3nwz<P  
gk"mr_03  
bKYY{V55  
GUKDhg,W  
结果:3D光线追迹 SLSF <$  
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fb /qoZ  
l#Yx TY  
结果:场追迹 'w}p[(  
FnY$)o;   
_=uviMuE  
Y]~IY?I  
结果:移动样品的场追迹结果 %Hh3u$Y,  
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"s% 686Vz  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 rWJ*e Y  
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