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infotek 2023-03-16 09:10

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 uVDa^+=  
e9[|!/./5  
任务/系统说明 /_Z652@  
G\r?f&  
ugx%_x6  
$.v5~UGb{\  
亮点 7{qy7,Gp  
q]N:Tpm9  
C[Dav&=^F  
J6G(_(d  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; $Gv9m  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; ?0oUS+lU  
Adgc% .#  
具体要求:光源 }HYjA4o\A  
(BfgwC)  
?6jkI2w  
~\3kx]^10  
具体要求:用于准直的消色差透镜 (B-43!C  
15o?{=b[  
B7<Kc  
mL`5u f  
' dx1x6  
 \qR %%S  
`o?Ph&p}  
f'{]"^e=  
具体要求:分束器 R% ,<\d7  
F]t (%{#W  
]t*[%4  
0#*#a13  
具体要求:参考光路反射镜 UNi`P9D]3  
AT)a :i  
7ei|XfR  
v\"S Gc  
Gkxj?)`  
m7GR[MR  
具体要求:测试光路反射镜 JS>Gd/Jd  
4T<Lgb  
?8mlZ X9C  
8Bq!4uq\5|  
具体要求:探测器 ?EK?b s  
5W@jfh)  
f5==";eP  
JHJ~X v  
结果:3D光线追迹 rf%7b8[v  
;kJA'|GX  
0% #<c p  
j]m|7]  
结果:场追迹 6q6FB  
%9#gB  
_:B1_rz7,  
u}|%@=xn  
结果:移动样品的场追迹结果 vuFBET,  
3QOUU,Dt$  
2{.QjYw^  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 e<#DdpX!H~  
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