首页
->
登录
->
注册
->
回复主题
->
发表主题
光行天下
->
讯技光电&黉论教育
->
用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
[点此返回论坛查看本帖完整版本]
[打印本页]
infotek
2023-03-16 09:10
用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
光学测量 > 干涉测量
b1!@v+
h[=nx^
任务/系统说明
V_a)jJ
FrZ]=:
^@.G,u
QB 77:E
亮点
[BXyi
^9ng)
Jyu`-=It
^Omfe
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换;
!dv-8C$U
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真;
FDLd&4Ex
Y%IJ8P^Y
具体要求:光源
\f"?Tv-C'
|< N frz
eoJ]4-WFq
w:Q|?30
具体要求:用于准直的消色差透镜
If.n(t[M9
:t2B^})\
#%cR%Z
.5g}rxO8
*]{=8zc2
RG?MRxC
?~)Ak`=
~n]NyVFP
具体要求:分束器
3A R%&:-
~t9Mh^gij
2X_ >vIlEm
@)z*BmP
具体要求:参考光路反射镜
fq Y1ggL
; J2-rh
eycV@|6u*
rv?!y8\
/c^e&D
W uf/LKj
具体要求:测试光路反射镜
#{w5)|S#JD
;o >WXw
yqBa_XPV8
DR{]sG
具体要求:探测器
5&qY3@I7l
yfq>,
tDU}rI8?
k5s ?lWH
结果:3D光线追迹
ZeTL$E[E}
N ^f}ui i
qvTJ>FILT
x3;jWg~'
结果:场追迹
^;64!BaK
wWFW,3b
Y^5"qd|`
}s6G!v^2""
结果:移动样品的场追迹结果
H%~Q?4
>D3zV.R
U IQ 6SvM
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。
1g81S_T .
查看本帖完整版本: [--
用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
--] [--
top
--]
Copyright © 2005-2026
光行天下
蜀ICP备06003254号-1
网站统计