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infotek 2023-03-16 09:10

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 zp%Cr.)$  
0p}D(m2B  
任务/系统说明 @3C>BLI8+  
u*ObwcI/Bn  
zIu E9l  
s pp f  
亮点 I ,z3xU  
xY^ %&n  
<BMXCk  
9E"vN  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; LH8 fBhw  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; "Pu!dJ5[]  
[8*jw'W|[  
具体要求:光源 hUp.tK:X7o  
pw)||Q  
;E3>ay6m8  
9{5&^RbCp  
具体要求:用于准直的消色差透镜 +oovx2r&  
C8V/UbA /  
|6K+E6H  
U<_3^  
<YhB8W9 P  
6 '!4jh  
x"gd8j]s  
&)AVzN+*h  
具体要求:分束器 opy("qH  
AK*LyR?  
<~n"m  
jw^<IMAG\8  
具体要求:参考光路反射镜 }}\vV}s  
a!"$~y$*  
8TLgNQP  
QD:{U8YbF$  
1+jAz`nA:T  
Of[XKFn_  
具体要求:测试光路反射镜 3c]b)n~Y  
 ]%wVHC  
`Nb[G)Xh  
FtfKe"qw  
具体要求:探测器 ToXki,  
P(,p'I;j  
~M7y*'oY  
_/6!yyl  
结果:3D光线追迹 Py@wJEo  
7BK0}sxO  
=}DR) 9  
LWz&YF#T-  
结果:场追迹 ][9%Kl*%@p  
'E/^8md>  
X[PZg{   
QgU8 s'e  
结果:移动样品的场追迹结果 %S*{9hm/  
@` 1Ds  
-EkWs/'h  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 t\{'F7  
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