infotek |
2023-03-16 09:10 |
用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
光学测量 > 干涉测量 Xa.Qt.C 8xs[{?|: 任务/系统说明 d,CtlWp p[VBeO^% xI55pj* ` =RJ8u 亮点 _$s9o$8$ 5vj;lJKcd` Ig t:M[
/ ".O+";wk •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; SEq_37 •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; w7$*J:{ <LIL{g0eX 具体要求:光源 sWP5=t(i+9 V~tq
_ v}!eJzeH Wp`wIe6 具体要求:用于准直的消色差透镜 INOw0E[ X(U
CN0# Fd":\7p 8rAOs\ys ]y>)es1
XZLo*C!MG "jH=O(37 \/g.`Pe 具体要求:分束器 ,
\|S BS <UOx >=h U8KB@E {O9CYP: 具体要求:参考光路反射镜 v*SSc5gFG ,4zwd@&O tT'*Uu5 U:ggZ`. 2F[smUL @,F8gv* 具体要求:测试光路反射镜 Kv^ez%I q{5wx8_U 4HQP, s!esk%h{K 具体要求:探测器 fCdd,,,} 55MrsiW w?)v#]<- o^hI\9 结果:3D光线追迹 6!bp;iLKy 4nQk*:p(X +b"RZ:tKp rxH*h`Xx@ 结果:场追迹 =QFnab?N SIv8EMGo j&6'sg;n) d0ThhO 结果:移动样品的场追迹结果 -.-je"E WJbdsPs /` 891(f, 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 <`,pyvR Kv
|
|