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infotek 2023-03-16 09:10

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 ) q'D9x9  
wxK71OH  
任务/系统说明 d!T,fz/-.  
T2]8w1l&K  
a"xRc  
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亮点 VFZyWX@#u  
dL4VcUS.  
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•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 8iD7K@  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; 8wd["hga<%  
}O crA/  
具体要求:光源 r0k :RJP  
CZ] Dm4  
<astIu Au  
9=iMP~?xF  
具体要求:用于准直的消色差透镜 9:RV5Dt  
kb~ s, @p  
9HN&M*}  
a>4q"IT6  
rusM]Z  
2Q(ZW@0  
rT;l#<#VE  
qOpwl*?x+  
具体要求:分束器 ,ynN801\m  
xG edY*[`  
;9)nG,P3  
[?<v|k  
具体要求:参考光路反射镜 l8+1{6xP  
d <ES  
KMb'm+  
zBTxM  
!}P^O(oY  
W=S^t_F  
具体要求:测试光路反射镜 LQ Ux}  
d/oD]aAEr  
Y=sv   
nw*a?$S3  
具体要求:探测器 q2B'R   
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\Qnr0t@0  
结果:3D光线追迹 7w5l[a/  
:G9d,B7*  
2HE<WI^#h  
,{iMF (Nj  
结果:场追迹 'dQGb-<_<  
UDk H'x$=  
\mb@-kM)  
Gyi0SM6v5&  
结果:移动样品的场追迹结果 M9VAs~&S  
Q-s5-&h(  
hQzT =0  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 3,#qt}8`  
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