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infotek 2023-03-16 09:10

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 Xa.Qt.C  
8xs[{?|:  
任务/系统说明 d,CtlWp  
p[VBeO^%  
xI55pj*  
`=RJ8u  
亮点 _$s9o$8$  
5vj;lJKcd`  
Igt:M[ /  
".O+";wk  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; SEq_37  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; w7$*J:{  
<LIL{g0eX  
具体要求:光源 sWP5=t(i+9  
V~tq _  
v}!eJzeH  
Wp`wIe6  
具体要求:用于准直的消色差透镜 INOw0E[  
X(U CN0#  
Fd":\7p  
8rAOs\ys  
]y>)es1  
XZLo*C!MG  
"jH=O(37  
\/g.`Pe  
具体要求:分束器 , \ |S BS  
<UOx>=h  
U8KB @E  
{O9CYP:  
具体要求:参考光路反射镜 v*SSc5gFG  
,4zwd@&O  
tT'*Uu5  
U:ggZ`.  
2F[smUL  
@,F8gv*  
具体要求:测试光路反射镜 Kv^ez%I  
q{5wx8_U  
4HQP,  
s!esk%h{K  
具体要求:探测器 fCdd,,,}  
55MrsiW  
w?)v#]<-  
o^hI\9  
结果:3D光线追迹 6!bp;iLKy  
4nQk*:p(X  
+b"RZ:tKp  
rxH*h`Xx@  
结果:场追迹 =QFnab?N  
SIv8EMGo  
j&6'sg;n)  
d0ThhO  
结果:移动样品的场追迹结果 -.-j e"E  
WJbdsPs  
/` 891( f,  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 <`,pyvR Kv  
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