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infotek 2023-03-16 09:10

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 TjGe8L:  
\"c;MK{  
任务/系统说明 ipnvw4+  
ma>{((N  
2>0[^ .;"  
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亮点 vr2tIKvpn  
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O`U&0lKi'  
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•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; :; \>jxA  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; .P.TqT@)r  
4;W eB   
具体要求:光源 }OgzSnR  
)e|Cd} 2  
I{AteL  
QN:gSS{30  
具体要求:用于准直的消色差透镜 S#dkJu]]#  
g2.%x \d  
T;X8T  
'F^nW_ryW  
"*|plB  
S/v+7oT  
\](IBI:  
_@jBz"aq\  
具体要求:分束器 y-O# +{7  
ww82)m8  
$/5<f<%u&)  
+J3 0OT8  
具体要求:参考光路反射镜 @kC>+4s!  
|rkj$s,  
RX:wt  
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"&%: 9O  
 `W< 7.  
具体要求:测试光路反射镜 #=UEx  
p"f=[awp  
"I?sz)pxG  
)nU%}Z  
具体要求:探测器 %Uybp  
Xm&L@2V  
rXXIpQRi$S  
aG;6^$H~  
结果:3D光线追迹 epp ;~(xr  
Vd^_4uqnV  
).@8+}`  
4$J:A~2H]  
结果:场追迹 VQF!|*#  
FLdO  
j>X;a39|  
j%Mz;m4y  
结果:移动样品的场追迹结果 7q?u`3l  
vUl5%r2O4  
2P`QS@v0a=  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 -=,%9r  
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