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infotek 2023-03-16 09:10

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 @x{`\AM|%  
aC^$*qN-)  
任务/系统说明 ' Q7Y-V  
k`VM2+9h'^  
j1U 5~%^  
1>pe&n/  
亮点 &ab|2*3?X  
;ojiJ ?jU  
?I W_O~Js  
1W,(\'^R  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; x` /)g(  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; K-Mc6  
H^AE|U*-G  
具体要求:光源 Y A&`&$  
kgW @RD|  
j^SZnMQf  
j8$Zv%Ca%  
具体要求:用于准直的消色差透镜 sC7/9</  
Zi ESlf$  
=/9^, 6Q(  
9 [Y-M  
P LR0#).n  
)D@~|j:  
WeJ@x L  
1mgLX_U9  
具体要求:分束器 {aOkV::  
fZN><3MO>  
W>-B [5O&[  
WFv!Pbq,  
具体要求:参考光路反射镜 ;_"U "?h_J  
!@L=;1,  
{qpi?oY  
eV!L^>>>  
dE(tFZx  
7+,vTsCd  
具体要求:测试光路反射镜  xvm5   
!iu5OX7K|  
B!S167Op  
\~DM   
具体要求:探测器 \ v2H^j/  
FfFak@H  
{ERMGd6Jp  
T3,1m=S  
结果:3D光线追迹 &0 \ ci9o  
2xxB\J  
TkRP3_b  
S\ ,mR4:  
结果:场追迹 =JO^XwUOo  
OI/@3"L{  
KtN&,C )lJ  
>FF5x#^&c  
结果:移动样品的场追迹结果 -"TR\/  
4{na+M  
4,P bg|  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 +}kgQ^  
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