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infotek 2023-03-16 09:10

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 FUZuS!sJ  
xJnN95`R@  
任务/系统说明 6'x3g2C/  
5y] %Cu1.u  
g_! xD;0  
sl(go^  
亮点 OEX\]!3_Fm  
<r(D\rmD  
+WKN&@  
Ino]::ZJ/  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; HV7f%U  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; rQ6>*0xL_  
\zwm:@lG  
具体要求:光源 1~},}S]id  
)D)4=LJ  
aT+w6{%Z  
`I4E': ZG  
具体要求:用于准直的消色差透镜 'm"Ez'sS  
.6I'V3:Kg  
8J- ?bo  
'H4?V  
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\ rg;xZa5  
JoZzX{eu"  
g:!R't?  
具体要求:分束器 CJw zjH  
Z c#Jb  
*~*"p)`<  
U[OUIXUi  
具体要求:参考光路反射镜 ;Bw3@c  
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e p Dp*  
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具体要求:测试光路反射镜 F1L[C4'  
yD`pUE$  
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MZh?MaBz06  
具体要求:探测器 Fu\#:+5\  
tA'5ufj*:  
Y=O-^fL  
8Bh micU  
结果:3D光线追迹 tp }Bz&V  
#`l&HV   
2+p XtP@O  
PlT_]p  
结果:场追迹 Ke]'RfO\  
1,U)rx$H  
-/*VR$c  
<]|!quY<*  
结果:移动样品的场追迹结果 a40>_;}:x  
t("koA=.  
|z&7KoYK'  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 &%k_BdlkQ  
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