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用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
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infotek
2023-03-16 09:10
用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
光学测量 > 干涉测量
<`c25ih.4
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任务/系统说明
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oMh~5 W
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亮点
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YO@hE>
fDU+3b
hz<|W5
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换;
UvPp~N7,
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真;
M MAAHo
DH\wDQ
具体要求:光源
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Az U|p
4@DVc7\x$
具体要求:用于准直的消色差透镜
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RRx`}E9,
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7^B3lC)
`Uzs+k-]
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具体要求:分束器
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具体要求:参考光路反射镜
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具体要求:测试光路反射镜
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具体要求:探测器
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结果:3D光线追迹
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结果:场追迹
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结果:移动样品的场追迹结果
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通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。
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用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
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