首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2023-03-16 09:10

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 oEKvl3Hz_  
}oGA-Qc}B  
任务/系统说明 D2B%0sfl~  
FSW_<%  
Ks`J([(W&  
[;) ,\\u,d  
亮点 f5VLw`m}.8  
U6fgo3RH  
GH:jH]u!V  
S8j{V5R'  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; '=8d?aeF  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; C mWgcw1  
*kDCliL  
具体要求:光源 41?HY{&2  
\B,@`dw  
{dMsz   
9c,'k#k  
具体要求:用于准直的消色差透镜 MH9q ;?.J  
JL}_72gs  
;dZZ;#k%  
tm RXgTS  
ARwD~ Tr  
=BAW[%1b  
94.DHZqh  
""F5z,'  
具体要求:分束器 7XLtN "$$  
vJc-6EO  
']z{{UNUN  
:L@?2),  
具体要求:参考光路反射镜 q"sed]  
,|H `e^  
9YQb &  
]uJ"?k=  
][h%UrV  
P& -Qc  
具体要求:测试光路反射镜 })8N5C+KU  
s.N/2F& *W  
suiS&$-E  
.A{tQ1&_  
具体要求:探测器 Ed,~1GanY  
p Vw}g@<M  
ju8q?Nyhs  
>xYpNtEs  
结果:3D光线追迹 FvXZ<(A{  
l2rd9 -T  
JNYFD8J~  
g:D>.lKd  
结果:场追迹 #+HJA42  
BsqP?/  
[{<`o5qR  
5Y'qaIFR  
结果:移动样品的场追迹结果 aweV#j(y  
2 %@4]  
NAQAU *yP  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 `maKN\;  
查看本帖完整版本: [-- 用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2026 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计