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infotek 2023-03-16 09:10

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 {4@+ 2)l  
H*Tc.Ie  
任务/系统说明  >Mzk;TM  
aq|R?  
R6N+c\W  
+@QN)ZwVy  
亮点 `a!:-.:v  
%L\buwjy$  
dHtbl\6  
.)zX<~,  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; =deqj^&@  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; l|O)B #  
!2R<T/9~  
具体要求:光源 QX'EMyK$  
hSO(s  
 ;m;a"j5  
Gg\805L@  
具体要求:用于准直的消色差透镜 g@va@*|~d  
/-.i=o]b  
qOusO6  
t~l uBUF  
sUfYEVjr  
QEavbh^S  
%SwN/rna  
?3{R'Buv]  
具体要求:分束器 TJB) ]d<  
RW!_Zz Z  
rT2gX^Mj&  
hr+,-j  
具体要求:参考光路反射镜 '%u7XuU-]  
Nvlfi8.  
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yN0!uzdW*  
hU}!:6G%[P  
uA} w?;  
具体要求:测试光路反射镜 ]y4(WG;:  
]<pnHh+2A  
q*Hf%I"  
#SHmAB  
具体要求:探测器 T[z]~MJL  
cmzu @zq  
Q Eh_2  
?y] q\>  
结果:3D光线追迹 yU-^w^4  
"!9hcv- ;  
GJUorj&  
$#cZJ@;]  
结果:场追迹 an4^(SY  
~{#$`o=  
9(9+h]h+3  
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结果:移动样品的场追迹结果 %{fa . >6  
MWsjkI`  
2 kOFyD  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 x}g5  
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