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infotek 2023-03-16 09:08

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 ;5T}@4m|r  
}2c&ARQ.m>  
任务/系统描述 5~[][VV^  
;>5]KNj  
 -I*vl  
tblduiN   
亮点 {7$jwk  
F]<2nb7  
 Y}C|4"V  
,@M<O!%Cs  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 -M T1qqi  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 9`^(M^|c  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 nLANWQk9  
f?16%Rk<  
说明：光源 { +Wknm%  
VH+3o?nrT  
w~=xO_%  
zR/mz)6_  
说明：透镜系统 <{YzmN\Z  
s bR*[2  
sint":1FC  
 N K@6U_/W  
说明：样品结构 }1CvbB%,A  
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]F;1l3I-  
说明：探测器 Tks1gN^^  
376z~  
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$ )2zz>4  
结果：3D光线追迹 mjk<FXW  
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Y9st3  
结果：场追迹矩形光栅 uG YH4  
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VuK>lY &  
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结果：场追迹锯齿形光栅 CU*;>h1~u  
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