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infotek 2023-03-16 09:08

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 x EOR\(Z^  
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任务/系统描述 f]0kG  
+[zrU`!@  
 BB1'B-O  
POtDge  
亮点 `Z{; c  
nv2Y6e}dG  
 .1t$(]CyC  
 ?MPM@9  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 yaa+j8s]  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 O (tcu@vfl  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 X6N^<Z$  
MV e5j+8  
说明：光源 qF%wl  
U-Fr[1I6p  
+)qPUKb?  
st:[|`  
说明：透镜系统 #:"\6s  
#D .H2'_}  
E"x 2jP  
 23U9+  
说明：样品结构 ^r(2 r  
H \.EK Z  
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s><RL]+{G+  
说明：探测器  h%E25in  
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l9qq;hhGP,  
结果：3D光线追迹 )m\%L`+  
JLT':e~PX  
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结果：场追迹矩形光栅 OJbY\U  
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结果：场追迹锯齿形光栅 ]\+bx=  
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