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infotek 2023-03-16 09:08

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 0@*EwI  
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任务/系统描述 >)`V $x  
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亮点 > ;zQ.2*  
BA cnFO  
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<zE~N~;  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 2v9T&xo=  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 _4h[q4Z  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 E]IPag8C  
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说明：光源 b\H !\A  
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FW7@7cVoF  
说明：透镜系统 *^b<CZd9  
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说明：样品结构 %V3xO%  
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说明：探测器 {&Es3+{A  
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结果：3D光线追迹 Msea kF  
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结果：场追迹矩形光栅 ui#K`.dn  
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结果：场追迹锯齿形光栅 xIh,UW#  
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