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infotek 2023-03-16 09:08

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 [Rb+q=z#  
%iB,IEw  
任务/系统描述 L/[K"  
l,).p  
 !r-F>!~  
>Q*Wi  
亮点 F0# 'WfM#  
\2z>?i)  
 Bw.i}3UT6  
uAk.@nfiEv  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 FI.\%x  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 *1"+%Z^  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 2 E= L8<  
+C)~bb*  
说明：光源 qP ,EBE  
lq uLT6]  
1~gCtBRM  
(<lhn  
说明：透镜系统 @)}L~lb[)  
A@'OJRc  
(m$Y<{)2  
 OTv)  
说明：样品结构 rM SZ"  
Ul# r  
:'ptuY  
&&%H%9  
说明：探测器 +|f@^-  
6~+e mlD  
HKeK<V  
DfB7*+x{  
结果：3D光线追迹 H*6W q  
j1Ezf=N6`  
 cb bFw  
m+9#5a-  
结果：场追迹矩形光栅 q\)-BXw:  
P {'b:C  
`u\n0=go  
 ]'S^]  
结果：场追迹锯齿形光栅 =V5%+/r+f  
X?Au/  
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