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infotek 2023-03-16 09:08

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量>显微 [O|c3;  
-N5h`Ii7  
任务/系统描述 Da!vGr  
qm'@o -[  
m7Ry FnR2  
(l9jczi  
亮点 Pn4jI(  
JUXBMYFus  
Ag*?>I  
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 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 2PUB@B' +  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 m=v.<+>  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Pth4_]US  
~E_irzOFP  
说明:光源 p_e x  
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a?4Asn  
说明:透镜系统 ;`kOFg#`)c  
X56q ,jCJ{  
KL9JA; "  
k`]76C7  
说明:样品结构 WE_'u+!B  
ZtP/|P5@  
Ol<LL#<j4  
H4{7,n  
说明:探测器 <7B;_3/  
+ut%C.1  
gbh/ `  
 G;A  
结果:3D光线追迹 0}'/pN>  
l&"bm C:xr  
<Hz11 }<(  
B6\/xKmv?8  
结果:场追迹矩形光栅 wdV)M?  
kkj@!1q(wO  
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;j(*:Nt1  
结果:场追迹锯齿形光栅 )cZ KB0*+  
N"Y%* BkH  
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