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infotek 2023-03-16 09:08

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 kn 5X:@{  
L'A9TW2  
任务/系统描述 cJ^{iOQ+  
k4i*80  
 2?c##Izn  
Hs6?4cgj  
亮点 c2E*A+V#u  
&AUtUp kOo  
 PPpq"c  
rg5ZxN|g  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 PAYS~MnV@3  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 pHNo1-k\  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 uPhL?s{  
]wxjd l  
说明：光源 arWP]%E0W  
sV']p#HK0  
f\+E&p.  
C 9{8!fYp  
说明：透镜系统 Py72:;wn  
NoAgZ{))  
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 Z~S%|{&Br  
说明：样品结构 a]S0|\BkN  
kN~:Bh$  
4it^-M  
{3LAK[ C  
说明：探测器 OL%KAEnD  
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V$?@ z>7  
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结果：3D光线追迹 cfZ$V^xM  
uyqu n@q  
 wJAJ /  
F $6JzF$|F  
结果：场追迹矩形光栅 sF4+(9=  
`m")v0n3  
Kg;u.4.-M  
 WeiDg,]e$b  
结果：场追迹锯齿形光栅 &02I-lD4+  
qP k`e}D  
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