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infotek 2023-03-16 09:08

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量>显微 Kyx9_2  
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任务/系统描述 -sJ1q^;f@  
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*zUK3&n~I  
亮点 ZK;/~9KU  
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N.mRay,  
5Pf=Uj6D  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 /"J 6``MV  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 U 2-{p  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 JPF6zzl)  
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说明:光源 "gy&eR>  
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@'>RGaPV  
说明:透镜系统 )!v"(i.5Xo  
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说明:样品结构 wH8J?j"5>  
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说明:探测器 "a].v 8l!  
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结果:3D光线追迹 )T"Aji-hy  
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结果:场追迹矩形光栅 [L X/O@  
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结果:场追迹锯齿形光栅 \{`^Q+<  
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