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infotek 2023-03-16 09:08

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 OV CR0  
[^H"FA[  
任务/系统描述 e= P  
~o3Hdd_#}N  
 sE(HZR1  
Tq<2`*Qs  
亮点 d?idTcgs  
1nj(h g  
 $*[{J+t_  
YL^=t^ !4  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 6V9doP]i  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 "LhUxnll  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 7;`o( [N  
: DG)g3#  
说明：光源 yQS+P8x&|]  
eZhPu'id\s  
tEd.'D8 s  
_S0+;9fhY  
说明：透镜系统 wVs.Vcwr  
_hf4A8ak  
qL5I#?OMkU  
 iSRpfU  
说明：样品结构 Ths_CKwgWY  
k?nQ?B W  
~0"p*?^  
~iBgw&Y  
说明：探测器 c{ZY,C&<  
YO)$M-]>%J  
EC&@I+'8Q  
PrQ?PvA<L  
结果：3D光线追迹 RNVbcd  
/{2*WI;  
 pV p:@0h  
qMBR *f  
结果：场追迹矩形光栅 txql 2  
Fh7'[>onw  
1B>Vt*=  
 ij5g^{_T;8  
结果：场追迹锯齿形光栅 IHfzZHy  
| aQ"3d  
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