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infotek 2023-03-16 09:08

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 7y:J@fh<  
6%)dsTAB  
任务/系统描述 -Z  @cj  
oM< 9]jK}  
 =!Ok079{[  
_Ab|<!a/R  
亮点 o0AREZ+I  
$} ~:x_[  
 ,9=a(j"  
|S/nq_g]  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 +YP,LDJ!v  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 4re^j4L~o  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 `*WR[c  
CYz]tv}g:  
说明：光源 =E{1QA0  
'l2`05   
.Zo8KwkFY  
'y@0P5[se  
说明：透镜系统 [N{Rd[{QTL  
d<xBI,g  
Z x3m$.8  
 kFeuKSa^d  
说明：样品结构 JPmW0wM  
HuG|BjP  
A07FjT5w8  
i: 1V\q%  
说明：探测器 L~~;i'J  
]@Q14   
s<n5^Vxy  
9[/Gd{`XC  
结果：3D光线追迹 LvB-%@n  
eQA89 :j,  
 \=1k29O  
{~VgXkjsC  
结果：场追迹矩形光栅 #VtlXr>G  
D[ny%9 :  
T~_+\w  
 Sa6}xe."M,  
结果：场追迹锯齿形光栅 .Q4EmpByCg  
dYW19$W n  
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