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infotek 2023-03-16 09:08

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 s$\8)V52  
Z2j*%/  
任务/系统描述 3;l>x/amk  
g Wv+i/,  
 W*DIW;8p  
s riq(A  
亮点 A%w]~ chC9  
|%cO"d^ri  
  nIDsCu=A  
n]fbV/ x  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 |>}0? '/]  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 <w2NJ ~M^  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Di"9 M(6vf  
ST8/ ;S#c  
说明：光源 <^q"31f  
;I))gY-n  
4Hpu EV8Q  
b`|MK4M(  
说明：透镜系统 pfQZ|*>lkb  
U+r#Y E.  
5 /jY=/0.a  
 ee0>B86tE  
说明：样品结构 KeHE\Fq^V  
W#\};P  
"XsY~  
t\bxd`,  
说明：探测器 s]8J+8 <uO  
rJQ|Oi&1i  
]9< 9F ?  
2&K|~~  
结果：3D光线追迹 L{,7(C=  
{ro!OuA  
 ts\>_/  
L?C~ qS2g  
结果：场追迹矩形光栅 mL5f_Fb+  
-&D6w9w  
St&HE:  
 0@x$Cp  
结果：场追迹锯齿形光栅 p}|wO&4h  
4x?u5L 9o  
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