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infotek 2023-03-16 09:08

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 43rM?_72  
rh2pVDS  
任务/系统描述 ;a!o$y  
Y0BvN`E  
 O%9Cq}*  
k Fv\V   
亮点 1=#r$H  
322W"qduTZ  
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kN9S;o@)  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 cb&y8!ci~  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 uuj"Er31  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 x$CpUy{6  
:w_F<2d0 0  
说明：光源 AX**q$ 'R  
d_J?i]AP|'  
cNC\w%  
!|_ CXm T|  
说明：透镜系统 wI>JOV7  
E E?v~6"&  
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 ;0E"4(S.q1  
说明：样品结构 qh$D;t1=  
q^sMJ  
q<>2}[W  
=\4w" /Y  
说明：探测器 jbIWdHZ/US  
5K'EuI)  
S !c/"~X+  
$ajw]2kx  
结果：3D光线追迹 |L;'In  
uW>AH@Pij  
 _zh}%#6L  
=@pm-rI|-  
结果：场追迹矩形光栅 NJqALm!(  
mk\U wv  
;YZw{|gsh  
 miS+MK"  
结果：场追迹锯齿形光栅 $pk3d+0B  
5YS`v#+  
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