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infotek 2023-03-16 09:08

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 A?IZ( Zx(`  
yI.}3y{^5  
任务/系统描述 BnaU)E h  
De nt?  
 e@:P2(WW l  
,]uX:h-EM  
亮点 71l"m^Z3zy  
X(y  
 kUg+I_j6*  
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 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 _D>as\dP  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 `?]rr0.}hp  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 OS"{"P  
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说明：光源 v dH+>l  
P('t6MVl T  
I>H;o{X#  
lP@)   
说明：透镜系统 3_L1Wm  
v;fJM5PA  
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 WO.0K5nfk  
说明：样品结构 Jm %ynW  
A-a17}fta  
A \MfF  
*U;4t/(  
说明：探测器 a IpPL8a  
dNUR)X#e  
Bn~\HW\Lh  
C{UF~  
结果：3D光线追迹 ,pyQP^u-  
NV} RRs  
 k<YtoV  
Vl{~@G,@  
结果：场追迹矩形光栅 |jahpji6  
|;A9A's  
Qj 6gg  
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结果：场追迹锯齿形光栅 oe(9mYWKa6  
Pgn_9Y?<  
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