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infotek 2023-03-16 09:08

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 qmy%J  
B[4pX +f  
任务/系统描述 +>~?m*$  
in`aGFQO  
 gk[{2HgN  
WKz> !E%  
亮点 6]zd.W  
3bZIYF2@  
 :,b iyJt  
*+'2?*  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 )Or  .;  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 )}vNOE?X~  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 bwM@/g%DL  
OA/WtQ5  
说明：光源 ##Q/I|  
4'4\ ,o  
g,o?q:FL  
yme^b ;a  
说明：透镜系统 #_Z$2L"U  
)[mwP.T=  
X|0R= n]  
 *BuUHjTv  
说明：样品结构 {u1V|q  
uZfnzd)c  
'>$]{vQ3  
E9?ph D  
说明：探测器 D +_oVob\  
9j W2  
lWBb4 !l  
h/B>S  
结果：3D光线追迹 lds- T  
nhIa175'  
 Og=*R6i  
k} ]T;|h]  
结果：场追迹矩形光栅 hx/N1 x  
zC _<(4$-"  
3~nnCR[R  
 L\y;LSTU  
结果：场追迹锯齿形光栅 ~"UV]Udn  
s'kDk2r  
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