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infotek 2023-03-16 09:08

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 e1 a*'T$z  
~t/JCxa  
任务/系统描述 0Qd%iP)6  
8[5|_Eh+  
 hY8#b)l~lu  
o"_=K%9  
亮点 hw,^G5m  
8OAg~mQ15(  
 2_pz3<,\  
(aKZ5>>cN  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 v[#)GB _5  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 2w1tK  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 W"sr$K2m|  
jXIEp01  
说明：光源 1bRL"{m^)-  
gg]~2f  
X%4h(7;v  
<MZi<Z`  
说明：透镜系统 $Ub}p[L  
0'yyfz  
~mH+DV3  
 pMN<p[MB  
说明：样品结构 `SOhG?Zo  
-<oZ)OfU  
- V=arm\#z  
k&GHu0z  
说明：探测器 -9G]x{>  
9*_uCPR  
R;THA!  
-CU,z|g+  
结果：3D光线追迹 T-P@u-DU  
Z=9dMND  
 D@hmO]5c  
_i@x@:_l  
结果：场追迹矩形光栅 `Cj,HI_/*  
37>MJ  
lIq~~cv)  
 7Po/_%  
结果：场追迹锯齿形光栅 <nA3Sd"QfV  
*/U$sZQ)  
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