首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 检查微型晶片的光学系统 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2023-02-27 08:26

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 DB`QsiC)  
uH\kQ9f  
任务/系统说明 kII7z;<^`  
:Dl% _l  
V+Xl9v4O  
C:\(~D *GS  
亮点 jN/C'\Q L  
znZ7*S >6\  
 $T }Tz7(  
MZ#T^Y  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） V*65b(q)  
 严格分析光栅衍射效率 Y/U{Qc\ 6  
 考虑入射光的方向分布 */OI *{Q  
lQ*eH10H  
说明：光源 #Ogt(5Sd  
tSv0" L  
S7n"3.k  
zW4 O4b$T  
说明：光束分束器 Y?Vz(udD  
FUeq \Wuo  
(TSqc5^H  
BIWD/ |LQ  
说明：检测透镜系统 Pg^h,2h  
mVm4fHEYwU  
rhY_|bi4P  
<9@7,2  
说明：微型晶片 D\]&8w6&  
OM9 6`  
#i@h{ R01  
6Dm+'y]l  
说明：检测物镜 <fM>Yi5  
 Iao[Pyk  
p/|(,)'+jx  
: d'65KMi  
说明：探测器 c<qe[iyt/  
rm+v(&  
PM~*|(fA  
++92:decM  
结果：3D光线追迹（只有0级） 2mJ:c  
IUhp;iH  
L :U4N*  
]XrE  
结果：3D光线追迹（所有级） =Nl5{qYz^&  
V;*pL1  
^eTZn[qH>w  
` *9EKj  
结果：光线追迹 ^!@*P,'I  
aR(E7mXQ  
 &X w`T9<  
4%bTj,H#  
结果：场追迹 DJ:38_F  
nGZ \<-  
 +>E5X4JC  
+#v4B?NR  
结果：线性偏振光的场追迹 ggCr-  
cqg=8$RB  
m'.T2e.u  
查看本帖完整版本: [-- 检查微型晶片的光学系统 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2026 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计