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2022-12-20 08:52 |
马赫-曾德尔干涉仪
*</;:? 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 >N*QK6"=| ZSbD4
|_ 建模任务 Qn<<&i~ Ii"cDH9 2=#O4k.@ 元件倾斜引起的干涉条纹 ")LF;e J|I|3h<T C ]#R7G 元件移位引起的干涉条纹 H8\N~>
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