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2022-12-20 08:52 |
马赫-曾德尔干涉仪
2-m@- 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 Pjq'c+4.yL W,8Uu1X = 建模任务 N-N]BS6 cvw17j P^o@x,V!& 元件倾斜引起的干涉条纹 _"*vj-{-y &SIf | |