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2022-12-20 08:52 |
马赫-曾德尔干涉仪
wQw&.)T 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 kE[Hq-J=N [kKg?I$D@B 建模任务 kP[LS1}* {^A,){uX] u5I#5 元件倾斜引起的干涉条纹 cMZ- 79d<,q;uR ;=lQMKx0 元件移位引起的干涉条纹 J`'wprSBb
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