首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 马赫泽德干涉仪 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2022-11-16 08:46

马赫泽德干涉仪

CjRU3 (Q  
摘要 (5rfeSA^  
r`dQ<U,  
 =1MVF  
_%R]TlL  
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 -eE r|Gs)  
     $U/|+*  
建模任务 1]&FB{l  
?hC,49  
S4ys)!V1V  
*JD-|m K  
由于组件倾斜引起的干涉条纹 8-|| Nh  
* \$m1g7b  
4UxxmREx;  
C@o8C%o  
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 * :kMv;9  
634OH*6  
^RI& `5g  
查看本帖完整版本: [-- 马赫泽德干涉仪 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2025 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计