首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2022-09-20 08:51

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

xHwcP21  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 U| 1&=8l  
.$-%rU:*}  
hrnY0  
oO,"B8a  
1. 案例 7vsXfIP+  
2W`<P2IA  
=^3B&qQNq  
  W#[3a4%m  
在VirtualLab Fusion中构建系统 Os|F  
/SYzo4(  
1. 系统构建模块 yNmzRH u  
rexy*Xv`2p  
c"@,|wCUi  
qgLj^{  
2. 组件连接器 TYr"yZ([  
lF1ieg"i M  
q1o)l  
  umj5M5oe3  
几何光学仿真 h7W<$ \P  
|h1 Y3  
以光线追迹 \rf2O s  
<q#/z&F!  
1. 结果:光线追迹 <</ Le%  
qw%wyj7  
*+'l|VaVq\  
  ;*EPAC+  
快速物理光学仿真 ZvO,1B  
) bGzsb1\  
以场追迹 j*)K> \  
IGtqY8  
1. NA=1.4时的光栅成像 0E#3XhU  
[ 6t!}q  
rN^P//  
     ~,.}@XlgT.  
2.  NA=0.75时的光栅成像 /SZg34%  
   s\dF7/b  
X>y6-%@  
     u0& dDZ  
3. NA=0.5时的光栅成像 ;iEFG^'tG  
       HN tl>H  
2r=A'  
  
查看本帖完整版本: [-- 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2026 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计