首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2022-09-20 08:51

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

Sesdhuy.@  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 A8.noV  
e#/&A5#Ya  
~Y`ys[Z m  
=Smd/'`_  
1. 案例 8vuTF*{yZ  
7nT|yL?  
rhkKK_  
  y^ skE{  
在VirtualLab Fusion中构建系统 Pp } Z"  
_]*YSeh=  
1. 系统构建模块 4wSZ'RTSR  
;\w3IAa|V  
[@9S-$Xa  
8p 4[:M@  
2. 组件连接器 iz=cjmV?  
(H uvo9  
4vbGXb}!  
  !U% |pa  
几何光学仿真 B(M-;F  
lPR^~&/  
以光线追迹 Xb:* KeZq  
Z5TA4Q+Q  
1. 结果:光线追迹 =u}~\ 'd  
,+df=>$W  
d2eXN3"  
  iYBc4'X  
快速物理光学仿真 8;pY-j #  
%!t9)pNc  
以场追迹 a2.6 S./  
/%;J1 {O  
1. NA=1.4时的光栅成像 8|@) #:  
}~W/NP_F  
ZY8.p  
     j-BNHX  
2.  NA=0.75时的光栅成像 =-Hhm($n  
   C5^WJx[  
rSv,;v  
     60|PVsmDm  
3. NA=0.5时的光栅成像 1Z ~C3)T=  
       'GezIIaH  
v_Vw!u  
  
查看本帖完整版本: [-- 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2026 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计