首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2022-09-20 08:51

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

hTTfJDF  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 E@pFTvo  
CG9ba |  
xF8 :^'  
b1=pO]3u  
1. 案例 kfCKhx   
z!CD6W1n  
8c).8RLf  
  k4R4YI"jV  
在VirtualLab Fusion中构建系统 }17bV, t  
h5!d  
1. 系统构建模块 J3&Sj{ o  
.Cr1,Po  
Gl>E[iO  
 !!+Da>  
2. 组件连接器 C BlXC7_Mi  
~4^p}{  
IJIQ" s  
  ':sTd^V  
几何光学仿真 owM mCR  
hbnS~sva  
以光线追迹 s3< F  
8.2`~'V  
1. 结果:光线追迹 \HG$V>2  
:c<*%*e  
!a[$)c  
  z8tl0gd%D  
快速物理光学仿真 YFqZe6g0$  
2 `&<bt[g  
以场追迹 6n-r  
9K$]h2  
1. NA=1.4时的光栅成像 %~\  
4W-"|Z_x  
!x_t`78T  
     7@~QkTH~y  
2.  NA=0.75时的光栅成像 .C?GW1[c~@  
   ,D8&q?a  
%,;gP.dh7  
     1RA }aX  
3. NA=0.5时的光栅成像 kjX7- ZPY  
       l $w/Fz  
;NG1{]|Z  
  
查看本帖完整版本: [-- 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2026 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计