首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2022-09-20 08:51

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

z{d5Lrk  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 0d ->$gb  
J":9  
ODEXQl}R  
C(|5,P#5  
1. 案例 }6> J   
!y`e,(E  
'[8b0\  
rk|(BA  
在VirtualLab Fusion中构建系统 o z{j2%  
BfT,  
1. 系统构建模块 g4~qc I=a  
&>l8SlC?  
<\g&%c,   
l%(`<a]VIB  
2. 组件连接器 Xh"iP%  
})lT fy  
w WU_?Dr_~  
gj,J3x4TK/  
几何光学仿真 ; ,<J:%s  
S "Pj 1  
以光线追迹 v|(b,J3  
!u}3H|6~  
1. 结果:光线追迹 jYX9; C;J  
`;CU[Ps?]  
FraW6T}_  
D!a5#+\C  
快速物理光学仿真 KBR0p&MN  
|u r~s$8y-  
以场追迹 s;7qNwYO  
F ^t?*   
1. NA=1.4时的光栅成像 V?59 .TJ  
-Q PWi2:k  
ai jGz<  
     iv+jv2ZF%  
2.  NA=0.75时的光栅成像 B8AzN9v&"N  
   |QOJ9~hxD  
n qLAby_  
     [Cqqjv;_  
3. NA=0.5时的光栅成像 -wQ^oOJ  
       Au} ;z6k  
asN }  
  
查看本帖完整版本: [-- 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2026 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计