首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2022-09-20 08:51

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

,zTy?OQ  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 y? co|  
^) s2$A:L  
eET}r 24  
"%x<ttLl  
1. 案例 y?q*WUh  
qZA).12qS  
'3 ^+{=q  
l c '=mA  
在VirtualLab Fusion中构建系统 2Roc|)-47  
}O4^Cc6  
1. 系统构建模块 =7o"u3hG  
[2{1b`e  
D= h)&  
!U~WK$BP  
2. 组件连接器 c?,i3s+2Y  
yT,.z 0  
d8x\  
I}vmU^Y>  
几何光学仿真 I=NZokfS  
|1>*;\o-  
以光线追迹 #gcF"L||  
mFZ?hOyP.  
1. 结果:光线追迹 k'5?M  
v3jg~"!  
n= u&uqA*  
sK5r$Dbr  
快速物理光学仿真 Q(oN/y3,  
O~^"  
以场追迹 ?n ZY)  
d $Pab*  
1. NA=1.4时的光栅成像 '`uwJ&@  
hBX!iukT|{  
>M/V oV  
     8Bjib&im  
2.  NA=0.75时的光栅成像 A?pbWt ~}  
   8!Ww J Oe  
7 !JQB  
     `p;I}  
3. NA=0.5时的光栅成像 >b{q.  
       &Ob!4+v/GP  
M!XsJ<jN/  
  
查看本帖完整版本: [-- 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2026 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计