首页
->
登录
->
注册
->
回复主题
->
发表主题
光行天下
->
讯技光电&黉论教育
->
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
[点此返回论坛查看本帖完整版本]
[打印本页]
infotek
2022-09-20 08:51
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
8I|2yvhP
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。
M}W};~V2ng
z]F4Z'(e.
`-[+(+["
6N]V.;0_5
1. 案例
_=68iDXm
7{:g|dX
,Jh('r7
(VA:`pstP
在VirtualLab Fusion中构建系统
RXU#.=xvy
~\D H[Mt
1. 系统构建模块
Hxzdxwz%$
2gb MUdpp
Pw_[{ LL
Je~d/,^WU
2. 组件连接器
W mT(>JBO
GDj ViAFm
7Vxe]s
FI|@=l;_
几何光学仿真
o4g<[X)
sCF7K=a
以光线追迹
,0R2k `m!
(" +/ :
1. 结果:光线追迹
>4} 2~;
\XXS;
DG $._
[F<Tl =
快速物理光学仿真
MJ:>ZRXCE
`X7ns?
以场追迹
_F1{<" 4
(W l5F
1. NA=1.4时的光栅成像
uY;2tZldf=
"nK(+Z
Rtl;*ZAS
gB?~!J?
2. NA=0.75时的光栅成像
\4.U.pKY
L('G1J}
>r"~t70C~]
(]mh}=:KDg
3. NA=0.5时的光栅成像
]'UO]i/
yEfV8aY'*
O}!L;?
查看本帖完整版本: [--
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
--] [--
top
--]
Copyright © 2005-2026
光行天下
蜀ICP备06003254号-1
网站统计