首页
->
登录
->
注册
->
回复主题
->
发表主题
光行天下
->
讯技光电&黉论教育
->
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
[点此返回论坛查看本帖完整版本]
[打印本页]
infotek
2022-09-20 08:51
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
U3E&n1AA
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。
.63=(o
mk!Dozb/
8Hi!kc;f6>
ZtK\HDdp
1. 案例
*FK`&(B+}
%v+=;jw
Pao%pA.<
Iy';x
在VirtualLab Fusion中构建系统
"7,FXTaer
z[C3
1. 系统构建模块
G,XPT,:%
Tde0 ~j}
c0_E_~
KVPR}qTP;
2. 组件连接器
fKHE;A*>%
['q&@_d7
h1[WhBL-O
cK@jmGj+
几何光学仿真
c>HK9z{
fY,|o3#
以光线追迹
x[(?#
geM6G$V&
1. 结果:光线追迹
fvEAIs
%0,-.(h
N@xg:xr
jZpa0g rA
快速物理光学仿真
)J D(`
1u|V`J)0
以场追迹
F%d\~Vj
-c%dvck^,
1. NA=1.4时的光栅成像
2HD]?:Fk7
R@iUCT^$
amWD-0V
D)@XoM(
2. NA=0.75时的光栅成像
w Q+8\ s=
ytz SAbj
K_/zuTy
p\p\q(S">
3. NA=0.5时的光栅成像
?GA&f2]a
"LhvzM-<8
crcA\lJf
查看本帖完整版本: [--
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
--] [--
top
--]
Copyright © 2005-2026
光行天下
蜀ICP备06003254号-1
网站统计