双轴晶体中锥形折射的建模与应用

f@LUp^Z/v   锥形折射是由光学各向异性引起的众所周知的现象。当聚焦光束沿其光轴通过双轴晶体传播时，就会发生这种现象：透射场演化为一个高度依赖于输入光束偏振状态的锥体。基于这一现象已经发展了多项应用；用它作为偏振测量的基础是最有趣的方法之一。 u:HKmP;   ,9?'Q;20   通过快速的物理光学建模和设计软件VirtualLab Fusion，这种效应及其应用可以得到充分的研究。看看下面的例子，我们首先演示了使用圆偏振输入光束的圆锥折射的基本原理，然后分析了在分离臂中有两个双轴晶体的偏振探测仪的设计。 $)n {}8^   双轴晶体中的锥形折射 >7;JZuVo   证明了KGd晶体中的圆锥形折射。 .Z_U]_(   锥形折射作为偏振测量工具的模拟 .&sguAyG   这个用例演示了锥形折射应用于偏振测量工具。

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