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用于光波导系统的均匀性探测器
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infotek
2022-07-21 09:09
用于光波导系统的均匀性探测器
2*V[kmD/3
在评估AR/MR(增强或混合现实)设备中光波导系统的性能时,眼动范围内光线分布的横向均匀性是最关键的参数之一。为了在设计过程中测量和优化横向均匀性,VirtualLab Fusion提供了均匀性探测器,可以进行所需的研究。在本文件中,我们将演示可用的选项以及如何操作均匀性探测器。
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案例演示
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均匀性探测器
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探测器功能:相干参数
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如果存在多个相干模式,则重叠的模可以相干叠加、非相干叠加或部分相干叠加。
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对于部分相干叠加,可以通过输入相干时间(或从相干时间和长度计算器复制)来指定相干程度。
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探测器功能:光瞳参数
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均匀性探测器评估在配置的局部区域(称为光瞳)的照射强度。
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每个光瞳由其大小(dx×dy)和形状定义,可以设置为椭圆形或矩形。
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椭圆形光瞳:
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矩形光瞳:
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探测器功能:光瞳位置
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一旦设置了所考虑的光瞳的大小和形状,则必须配置探测器窗口中的光瞳数量和位置。
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第一个选项是,根据每个单独足迹的中心光线自动确定光瞳的位置。
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探测器只会将光瞳放置在所有光瞳都在探测器窗口内的位置。所有其他部分足迹将被忽略。
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基于中心光线的光瞳位置示例
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探测器功能:光瞳位置
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排列在网格上的光瞳位置示例
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注:虚线圆圈仅用于演示光瞳,用户不会在模拟中看到它们
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眼箱中横向均匀性的测量
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均匀性探测器输出
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均匀性探测器输出示例
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