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2022-07-05 09:00 |
FRED应用:二阶鬼像分析
FRED能够提供用户有关通过光机系统任意鬼像和散射路径的详细情况。我们简单地设置光学和机械的物理属性 (涂层、材料、散射模型等),设置一个合适的光源,并且让FRED记录下在光线追迹时系统所有唯一的路径。当光线追迹完成时,我们可以对光线追迹的路径进行后期处理,来提取出与我们系统相关的路径。 +pz}4M` gX^ PSsp 然而,假设我们对于表征一个光学系统中的初级鬼像路径很感兴趣,或者我们的系统没有完全的开发或改进,来保证一个长的多阶次的杂散光分析。本文介绍了一个脚本,可以在一个导入的序列设计中对初级鬼像路径进行自动分析。我们首先来讨论合理地设置分析中导入的序列文件的过程,然后讨论脚本的运行以及执行分析的过程。 P3!Atnv2 J1X~vQAe 指定表面涂层性质 FIS "Z( _%B/!)v 分析的要点是找出多少功率(以及功率的分布)到达了我们的焦平面,这是由在我们的透镜表面之间的镜面系列的现象产生的,这些都不是“设计”路径。举个例子,我们第一个透镜元件内的内部反弹可能会到达探测器,我们希望可以量化它的贡献。 wG8
nw; T cJ$[ 为了产生鬼像路径,我们的透镜需要有涂层覆盖,这可以让入射能量的一些部分以反射和透射的方式传播。默认情况下,导入的透镜表面具有100%透射涂层,将没有任何鬼像产生。我们可以浏览透镜的每一个光学表面,然后给每个表面应用一个非理想的涂层模型,不过FRED确实提供了一个界面,使得这一过程变得不那么单调乏味。点击Menu > Edit > Edit/View Multiple Surfaces,该界面提供了一个技巧,可以非常简单的完成多表面性质赋予作业。 ?`H[u7*% N'QqJe7Z 我们将使用该界面以默认的“Standard Coating”替换所有我们的透射表面,该“Standard Coating”允许96%的功率透射和4%的功率反射,默认的“Allow All”光线追迹控制允许光线在一个界面分成反射和透射两个组分。在按下您键盘上的“Ctrl”键的同时,选择表格中具有“Transmit”涂层的行。 ,5{$+ \x(^]/@ a.q;_5\5` 现在我们已经选中了我们希望修改的行,使用对话框中的“Modify All Highlighted Spreadsheet Rows”区域,来替换我们想要的属性。在这种情况下,选择属性类型“Coating”下拉列表,从可用的属性下拉列表中选择“Standard Coating”,然后点击“Replace”按钮。 >?I/;R.- {~'H at|
\FOKj bY)#v? 指定表面光线追迹控制性质 n'M>xq_ cS(;Qs]Q 对于Raytrace Control重复这一过程,使用Allow All属性。 cDIBDC '1-maM\r lL0M^Nv Us=eq "eu 一旦您已经替换了选定表面的Coating和Raytrace Control,您可以点击OK按钮提交更改,返回到文件中,关闭Edit/View Multiple Surfaces对话框。 Bd#
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