马赫泽德干涉仪

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qvYY Ku   :`3b|u=KZ   PBn(k>=+   "XC6 l4Z   K^{`8E&A   干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 bq[Q   {,APZ`q|   建模任务 W%Rh2l   1V+1i)+   G:WMocyXI'   e,~c~Db* Q   由于组件倾斜引起的干涉条纹 jI;bVG   YXIDqTA+   f[.hN   :1Fm~'   由于偏移倾斜引起的干涉条纹 nQ$N(2<Fe   &1Cq+Yp I