马赫泽德干涉仪

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.^*;hZ~4%   ;U>nj],uv   V\m"Hl>VIU   0?$|F0U"J   K?J_cnJ`   干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 & (,\~   e4Nd   建模任务 7zCJ3p   b5H}0<   n4!RGq.}   l,lqhq\   由于组件倾斜引起的干涉条纹 OW#0$%f   +Kb 7N, "   <L8|Wz   EA(4xj&:U   由于偏移倾斜引起的干涉条纹 aC`>~uX##V   VIdKe&,