马赫泽德干涉仪

XT"-   马赫泽德干涉仪

:6T8\W   03)R_A   Hyn*O)q!   M~!DQ1u   |0wHNRN_   干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 5eL_iNqJM   7,v}Ap]Pa   建模任务 ZH s' #   asj*/eC$/i   P}2waJe   9im<J'   由于组件倾斜引起的干涉条纹 <+r<3ZBA   cUDo}Yu   >Nho`m(   #P,C9OQD   由于偏移倾斜引起的干涉条纹 yG/_k!{9   ^#0k\f>_