马赫泽德干涉仪

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B5lwQp]   ,MY7h8V/   U zy@\   5PeS/%uT@   H5K Fm#   干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 2@|`Ugjptl   sl'4AK~\   建模任务 11H`WOTQF   FOTe,F.8   s6`E.Eevm   7~h3B<   由于组件倾斜引起的干涉条纹 \]ib%,:YU   4>gfLK\R:   n1-p/a.   _Id'56N]J!   由于偏移倾斜引起的干涉条纹 S,&LH-ps   h,{m{Xh