马赫泽德干涉仪

LWoG4s?w
马赫泽德干涉仪
asiov[o;
%sBAl.!BN
.{KjEg 6
&GTI
s.Y4pWd5@
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 TcTM]ixr
o{b=9-V
建模任务 gF=jf2{YX
UV 4>N
O`GsS{$sS
`vG,}Pt]
由于组件倾斜引起的干涉条纹 V"o7jsFH6n
0kQPJWF
\6?A!w~6
]?1Y e8>Y<
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 k#Of]mXXz
Zv_.na/^K