马赫泽德干涉仪

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2_Lu0Yrg   {%wrx'<   MTwzL<@$   %;wD B2k*   P=}l.R*1G   干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 }D1?Z7p   %Ok#~>c   建模任务 "A[.7w   p_xJKQS   MZ)lNU l    \&d1bq   由于组件倾斜引起的干涉条纹 Ks3YrKk;p   Y3|_&\v6   LI-ewea   *=md!^x`   由于偏移倾斜引起的干涉条纹 9F3aT'3#!   ^d>m`*px