马赫泽德干涉仪

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nY=]KU   m|cT)-   mc}r15:<   ~0ZLaiJ   `|g*T~; kC   干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 w@\quy:   O{44GB3   建模任务 sp&)1 ?!M   uY*|bD`6&   N!#TK9   qC$h~Epp4   由于组件倾斜引起的干涉条纹 D4W^{/S   x $=-lB   cb9q0sdf   T0Zv.   由于偏移倾斜引起的干涉条纹 :Y>M//0   f/K:~#k