马赫泽德干涉仪

Pb&tWv\ql   马赫泽德干涉仪

>oW]3)$4S   R4p Pt   Tpl]\L1v-   =W TSaC   J&8KIOz14Z   干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 &ijz'Sg3   m. pm,   建模任务 N{%7O G   wI@87&   5Zq hyv=   3U<m\A1   由于组件倾斜引起的干涉条纹 v@qP &4Sp   c}(H*VY2n   |5 V0_79   }n^Rcz6HeO   由于偏移倾斜引起的干涉条纹 01A{\O1$j   R'Jrbe|