马赫泽德干涉仪

@ @5u{K   马赫泽德干涉仪

@|^Ch+%@   &M2x`   &a0%7ea`.S   ''6"Xi|5   0I k@d'7   干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 j]P|iL   G'("-9   建模任务 R0|X;3   X bg7mj9c   5 9X|l&/   )uaB^L1   由于组件倾斜引起的干涉条纹 Bm?Ku7}.   m/ukH{H1%   Vlf@T   EKt-C_)U   由于偏移倾斜引起的干涉条纹 $?A]!Y;   L{=z}QO