光学小师太 |
2022-02-14 17:03 |
光圈的识别,光学生产厂家
一 光学样板检验原理 j,lT>/ Wz49i9e+d 当光学零件的被检表面和样板的工作表面(参考表面)相接触时,由于两者的面形不一致,产生一定的空气隙,当波长为λ的光射到空气隙上,便形成等厚干涉条纹,如图1-1所 =jOv] / 从等厚干涉知道,相邻两亮条纹之间空气隙厚度差近似为λ/2,即通常所说的一个干涉条纹(光圈)相当于空气隙厚度变化为λ/2,因此,光圈数为N部位所对应的空气隙厚度变化为N·λ/2。所以,光学零件的面形精度可以通过垂直位置观察到的干涉条纹的数量、形状、颜色及其变化来确定。
-D QwJVS(Gs4 (一)低光圈 表示样板与被检表面在边缘部位接触。对于凸球面,则表示曲率半径大于样板的;对于凹球面,则表示曲率半径小于样板的;对于平面,则表示平面变为凹球面。 :cem,#(= \r^qL^ 高光圈 表示样板与被检表面在中间部位接触,对于凸球面、则表示曲率半径小于样板的;对于凹球面,则表示曲率半径大于样板的;对于平面,则表示平面变成凸球面。 JQ8fdP A m? J0i>H
(二)被检光学表面在相互垂直方向上的曲率半径相对参考光学表面曲率半径的偏差不相等,称为象散偏差,以△1N表示。这种偏差在相互垂直方向上的干涉条纹数量不等。 dMf:h"7 e6R}0w~G (三)被检光学表面的局部区域相对于参考光学表面的偏差,称为局部偏差,以△2N表示。这种偏差在任一方向上产生局部不规则的干涉条纹。 (C-{B[Y 光学零件被检表面的局部偏差有以下几种基本类型: A&.WH?p 中心低 被检光学表面的中心部位相对于平滑干涉条纹凹陷。 S;3R S; 中心高 被检光学表面的中心部位相对于平滑干涉条纹凸起。 EUD~CZhS"k 塌边 被检光学表面的边缘部位相对于平滑干涉条纹塌陷。 TN!j13, 翘边 被检光学表面的边缘部位相对于平滑干涉条纹翘起。 s C%&cRQD 此外,还有由几种上述的基本偏差综合而成的局部偏差。 ww\CQ6/h ov`h 二 光圈的识别 ]HKQDc' WejYy| (一)光圈高、低的判断 m4hX 'F 1.周边加压法 /32Fy`KV 低光圈 当空气隙减小时,条纹从边缘向中心移动,如图1-2(a)所示。 `5cKA;j>b 高光圈 当空气隙减小时,条纹从中心向边缘移动,如图1-2(b)所示。 |oH,
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yM 2.色序法 5{|7$VqPF 当光圈数N>1,白光照明。 >Ea8G, 低光圈 从中心到边缘光圈的颜色序列为“蓝、红、黄”。 fxgPhnaC> 高光圈 从中心到边缘光圈的颜色序列为“黄、红、蓝”。 `18qbot 3.一侧加压法 Bn=by{i 当光圈数N<1。 jSD#X3qp 低光圈 条纹弯曲的凹向背着加压点A,如图1-3(a)所示。 ?*[N_'2W+ 高光圈 条纹弯曲的凹向背着加压点A,如图1-3(b)所示。 ZXqSH${Tp tvkb~ (二)象散偏差的判断 cv-PRH# 在样板的相互垂直方向上作周边加压或一侧加压,当N>1时光圈呈椭圆形;当N<1两垂直方向上的条纹弯曲度不同,则有象散偏差。 KyVQh8 jqWu (三)局部偏差的判断 CJ/X}hi, 当一侧加压时: kw>v:F<M 中心低 条纹中心部位的弯曲凹向背着加点A,如图1-4所示。 RkH W
V]|^&A_c SN9kFFIPb= 中心高 条纹中心部位的弯曲凹向背着加点A,如图1-5所示。 M>wYD\oeg 塌边 条纹边缘部位塌向加压点A,如图1-6所示。 yh Yb'GK 翘边 条纹边缘部位翘离加压点A,如图1-7所示。 ^1S!F-H4\ 04LI]' 三 光圈的度量 .f*4T4eR- aGrIQq/k)% (一)光圈数的计算 oI0M%/aM 1.当光圈数N≥1时 A_XY'z 1 以有效检验范围内直径方向最多条纹数的一半来度量。 2KB\1& | |